[發(fā)明專利]一種記錄異常信息的方法、裝置、存儲介質(zhì)和電子設(shè)備在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011479073.5 | 申請日: | 2020-12-14 |
| 公開(公告)號: | CN112506693A | 公開(公告)日: | 2021-03-16 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 邱宏偉 | 申請(專利權(quán))人: | 曙光信息產(chǎn)業(yè)(北京)有限公司 |
| 主分類號: | G06F11/07 | 分類號: | G06F11/07 |
| 代理公司: | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 余菲 |
| 地址: | 100000 北京*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 記錄 異常 信息 方法 裝置 存儲 介質(zhì) 電子設(shè)備 | ||
1.一種記錄異常信息的方法,其特征在于,包括:
在獲取到基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS的啟動過程中的異常觸發(fā)信號的情況下,收集異常信息;
將所述異常信息存儲到指定的存儲介質(zhì)中。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述BIOS的啟動包括前期初始化PEI階段、驅(qū)動執(zhí)行環(huán)境DXE階段和系統(tǒng)管理模式SMM階段,所述在獲取到基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS的啟動過程中的異常觸發(fā)信號的情況下,收集異常信息之前,所述方法還包括:
在所述PEI階段的代碼中插入至少一個第一異常處理函數(shù);
在所述DXE階段的代碼中插入至少一個第二異常處理函數(shù);以及,
在所述SMM階段的代碼中插入至少一個第三異常處理函數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其特征在于,所述在獲取到基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS的啟動過程中的異常觸發(fā)信號的情況下,收集異常信息,包括:
在獲取到所述異常觸發(fā)信號的情況下,通過所述至少一個第一異常處理函數(shù)、所述至少一個第二異常處理函數(shù)或者所述至少一個第三異常處理函數(shù)捕獲對應(yīng)階段的異常信息。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的方法,其特征在于,所述將所述異常信息存儲到指定的存儲介質(zhì)中,包括:
通過所述至少一個第一異常處理函數(shù)、所述至少一個第二異常處理函數(shù)或者所述至少一個第三異常處理函數(shù)對捕獲的對應(yīng)階段的異常信息進行格式化處理,得到標準格式化信息;
通過所述至少一個第一異常處理函數(shù)、所述至少一個第二異常處理函數(shù)或者所述至少一個第三異常處理函數(shù)將所述標準格式化信息存儲到指定的存儲介質(zhì)中。
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述將所述異常信息存儲到指定的存儲介質(zhì)中,包括:
將所述異常信息存儲到用于遠程獲取所述異常信息的非易失性存儲介質(zhì)中。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法,其特征在于,所述將所述異常信息存儲到指定的存儲介質(zhì)中,包括:
分別將所述異常信息存儲到專門用于存儲所述異常信息的互補金屬氧化物半導(dǎo)體CMOS存儲介質(zhì)和所述非易失性存儲介質(zhì)中。
7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其特征在于,所述將所述異常信息存儲到指定的存儲介質(zhì)中,包括:
向指定計算機發(fā)送所述異常信息,以便于所述指定計算機將所述異常信息存儲到所述指定計算機的存儲介質(zhì)中。
8.一種記錄異常信息的裝置,其特征在于,包括:
收集模塊,用于在獲取到基本輸入輸出系統(tǒng)BIOS的啟動過程中的異常觸發(fā)信號的情況下,收集異常信息;
存儲模塊,用于將所述異常信息存儲到指定的存儲介質(zhì)中。
9.一種存儲介質(zhì),其特征在于,所述存儲介質(zhì)上存儲有計算機程序,所述計算機程序被處理器運行時執(zhí)行如權(quán)利要求1至7任一所述的記錄異常信息的方法。
10.一種電子設(shè)備,其特征在于,所述電子設(shè)備包括:處理器、存儲器和總線,所述存儲器存儲有所述處理器可執(zhí)行的機器可讀指令,當所述電子設(shè)備運行時,所述處理器與所述存儲器之間通過總線通信,所述機器可讀指令被所述處理器執(zhí)行時執(zhí)行如權(quán)利要求1至7任一所述的記錄異常信息的方法。
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