[發(fā)明專利]裸片拾取方法及裝置有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011472641.9 | 申請日: | 2020-12-15 |
| 公開(公告)號: | CN112599467B | 公開(公告)日: | 2022-08-09 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 陳鵬;李明亮;曾心如;苗健 | 申請(專利權(quán))人: | 長江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司 |
| 主分類號: | H01L21/683 | 分類號: | H01L21/683;H01L21/687 |
| 代理公司: | 北京英思普睿知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 16018 | 代理人: | 劉瑩;聶國斌 |
| 地址: | 430000 湖北省武*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 拾取 方法 裝置 | ||
本申請?zhí)峁┝艘环N裸片拾取方法及裝置,其中,裸片粘接在劃片膜的第一側(cè)面上的粘接區(qū)內(nèi)。該方法包括:在劃片膜的相對于第一側(cè)面的第二側(cè)面,向第一側(cè)面的方向施加用于同步推動(dòng)劃片膜的粘接區(qū)的多個(gè)推動(dòng)力,以將粘接區(qū)內(nèi)的裸片推頂至第一位置;從第一側(cè)面向位于第一位置的裸片施加遠(yuǎn)離劃片膜的吸附力;去除所述多個(gè)推動(dòng)力中的至少一部分推動(dòng)力,以使裸片與劃片膜剝離。本申請?zhí)峁┑穆闫叭》椒把b置,能夠降低裸片在剝離過程中的破裂風(fēng)險(xiǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及半導(dǎo)體封裝領(lǐng)域,更具體地,涉及一種裸片拾取方法及裝置。
背景技術(shù)
裸片貼裝(Die Attach,DA)是芯片封裝生產(chǎn)中的一個(gè)非常重要的過程。而超薄裸片(厚度小于50微米)的貼裝更具有挑戰(zhàn)性。然而裸片厚度減薄對于裸片堆疊設(shè)計(jì)是非常必要的,特別是對于內(nèi)存行業(yè)。
在裸片封裝過程中,一般在大致圓板形狀的晶圓的表面形成格子狀的分割預(yù)定線,將晶圓劃分為多個(gè)裸片區(qū)域。通過將各區(qū)域沿分割預(yù)定線進(jìn)行劃片來形成獨(dú)立的裸片。而在晶圓劃片之前,需要在晶圓的背面粘接一層劃片膜。劃片膜能夠通過粘接將待劃片的晶圓固定住,以保持裸片在劃片過程中的完整性,并減少劃片過程中所產(chǎn)生的蹦碎。劃片膜還能夠保持裸片在傳送過程中的正常移動(dòng),并防止掉落情況。
位于劃片膜上的裸片需要通過裸片貼裝(DA)工藝安裝到封裝載帶上,而裸片貼裝工藝中,從劃片膜上拾取裸片是一個(gè)重要的步驟。具體地,需要通過真空吸嘴吸附裸片的遠(yuǎn)離劃片膜的表面,使裸片的相對的另一表面與劃片膜逐漸剝離。但在剝離過程中裸片容易出片裂片問題,從而難以實(shí)現(xiàn)劃片膜與裸片的順利分離。
發(fā)明內(nèi)容
本申請?zhí)峁┝艘环N可至少部分解決現(xiàn)有技術(shù)中存在的上述問題的裸片拾取方法及裝置。
本申請一方面提供了一種裸片拾取方法,該方法包括:在劃片膜的相對于第一側(cè)面的第二側(cè)面,向第一側(cè)面的方向施加用于同步推動(dòng)劃片膜的粘接區(qū)的多個(gè)推動(dòng)力,以將粘接區(qū)內(nèi)的裸片推頂至第一位置;從第一側(cè)面向位于第一位置的裸片施加遠(yuǎn)離劃片膜的吸附力;去除多個(gè)推動(dòng)力中的至少一部分推動(dòng)力,以使裸片與劃片膜剝離。其中,裸片粘接在劃片膜的第一側(cè)面上的粘接區(qū)內(nèi)。
可選地,去除多個(gè)推動(dòng)力中的至少一部分推動(dòng)力的步驟包括:按照從粘接區(qū)的外周至中心的次序去除施加到粘接區(qū)的推動(dòng)力。
可選地,向第一側(cè)面的方向施加用于同步推動(dòng)劃片膜的粘接區(qū)的多個(gè)推動(dòng)力的步驟包括:利用推動(dòng)機(jī)構(gòu)的從外周至中心排布的多個(gè)推動(dòng)塊同步推動(dòng)粘接區(qū)。
可選地,去除多個(gè)推動(dòng)力中的至少一部分推動(dòng)力的步驟包括:按照從外周至中心的次序依次退回多個(gè)推動(dòng)塊,以按照從粘接區(qū)的外周至中心的次序去除施加到粘接區(qū)的推動(dòng)力。
可選地,該裸片拾取方法還包括:使粘接區(qū)處的氣壓大于劃片膜的第二側(cè)面處的氣壓。
可選地,使粘接區(qū)處的氣壓大于劃片膜的第二側(cè)面處的氣壓的步驟包括:在去除多個(gè)推動(dòng)力中的至少一部分推動(dòng)力時(shí),向粘接區(qū)噴射氣體。
可選地,裸片包括被施加有吸附力的第一表面和相對于第一表面的第二表面;以及向粘接區(qū)噴射氣體的步驟包括:沿裸片的第二表面噴射氣體。
可選地,向粘接區(qū)噴射氣體的步驟包括:在噴射氣體之前,對氣體進(jìn)行去離子處理。
可選地,向粘接區(qū)噴射氣體的步驟包括:利用管口為噴氣槽的氣流導(dǎo)管噴射氣體,其中,管口的寬度與裸片的寬度相等。
可選地,使粘接區(qū)處的氣壓大于劃片膜的第二側(cè)面處的氣壓的步驟包括:利用與第一側(cè)面密閉配合并容納裸片的氣壓室,通過增加氣壓室的氣壓使得粘接區(qū)處的氣壓大于劃片膜的第二側(cè)面處的氣壓的步驟。
可選地,使粘接區(qū)處的氣壓大于劃片膜的第二側(cè)面處的氣壓的步驟包括:在去除施加到粘接區(qū)的至少一部分的推動(dòng)力時(shí),增加氣壓室內(nèi)的氣壓。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于長江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司,未經(jīng)長江存儲(chǔ)科技有限責(zé)任公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011472641.9/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
- 一種數(shù)據(jù)庫讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測試終端的測試方法
- 一種服裝用人體測量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





