[發明專利]一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案

在審

• 申請號: 202011468447.3
• 申請日: 2020-12-15
• 公開（公告）號: CN112611955A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 徐歡夏;魏善磊;徐偉
• 申請（專利權）人: 江蘇聯康信息股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 宿遷嶸錦專利代理事務所(普通合伙) 32497
• 代理人: 陳科行

本發明公開了一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案，治具分為通用測試夾具、DUT Cartridge和probe面板，原理是在一個屏蔽箱內放置一個通用測試夾具，夾具包含控制板的信號通過PCB轉接板的轉接針引出提供了一個通用的界面，DUT Cartridge可以通過這個界面將需要的電信號接至DUT進行測試，DUT Cartridge上蓋對于一些需要測試射頻接口的部分進行避位開窗通過RF Probe連接接觸，RF Probe固定在Probe面板上，Probe面板上的RF Probe通過RF Cable連接至屏蔽箱的射頻接口，屏蔽箱的射頻輸出接口連接至射頻儀器，以上根據DUT的不同和射頻接口的不同只需要更換特定的DUT Cartridge和Probe面板即可，屏蔽箱和通用夾具不需要更換，本發明具有成本低，可靠性高，產線維護容易，體積小，無污染，適用范圍廣等優點。

技術領域

本發明涉及主板測試相關技術領域，具體為一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案。

背景技術

測試治具屬于治具下面的一個類別，專門對產品的功能、功率校準、壽命、性能等進行測試、試驗的一種治具。因其主要在生產線上用于產品的各項指標的測試，所以叫測試治具。

傳統的主板測試治具體積大，占用一定的空間，不方便進行搬運，并且不可重復利用，而且對于主板性能的測試效率比較低，平時需要技術人員定期的對治具進行維護，維護工作量較大，占用人力，并且治具的成本也非常的高。

發明內容

本發明的目的是針對現有的問題，提供一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案，解決了上述背景技術中提出的問題，提供了一種更高效，更可靠，低成本，體積小，可重復利用，方便維護，低噪音，無污染的通用射頻測試治具方案。

本發明為實現上述技術目的所采用的技術方案為：一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案，包括通用測試夾具、DUT Cartridge和probe面板，在一個屏蔽箱內放置一個通用測試夾具，夾具包含控制板的信號通過PCB轉接板的轉接針引出提供了一個通用的界面，DUT Cartridge可以通過這個界面將需要的電信號接至DUT進行測試，DUT測試射頻信號需要將DUT Cartridge射頻接口位置的上蓋開窗進行連接RF Probe，RF Probe需要固定在Probe面板上，Probe面板上的RF Probe通過RF Cable連接至屏蔽箱的射頻接口，屏蔽箱的射頻輸出接口連接至射頻儀器。

優選的，所述DUT Cartridge內部采用冷卻氣流槽設計，DUT不會過溫，保證DUT的測試穩定性。

優選的，屏蔽箱和夾具為通用設備，根據DUT的不同或者DUT射頻接口的不同只需要更換DUT Cartridge或者Probe面板即可。

優選的，模塊化所述DUT Cartridge與DUT之間信號的轉接是通過轉接針的方式進行轉接。

優選的，所述probe面板上安裝有Rf probe，并且Rf probe獨立固定在夾具上框架。

優選的，所述夾具的氣缸在壓合時，通過上下框架模組之間的導向柱進行對位連接。

本發明的有益效果為：

1.可替換DUT Cartridge和Probe面板，模塊化DUT Cartridge通過轉接針將信號轉接至DUT。Rf Probe安裝于Probe面板上，獨立固定在夾具上框架，夾具氣缸壓合時通過上下框架模組之間的導向柱進行對位連接。使得DUT與DUT Cartridge轉接針、Rf Probe有效連接測試。

2.可替換DUT Cartridge和Probe面板的設計變的簡易；對于DUT的更新變動，設計人員僅需要考慮設計DUT Cartridge和Probe面板，節約設計時間,降低成本。