[發明專利]一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案

在審

• 申請號: 202011468447.3
• 申請日: 2020-12-15
• 公開（公告）號: CN112611955A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 徐歡夏;魏善磊;徐偉
• 申請（專利權）人: 江蘇聯康信息股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 宿遷嶸錦專利代理事務所(普通合伙) 32497
• 代理人: 陳科行

1.一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案，其特征在于：包括通用測試夾具、DUT Cartridge和probe面板，在一個屏蔽箱內放置一個通用測試夾具，夾具包含控制板的信號通過PCB轉接板的轉接針引出提供了一個通用的界面，DUT Cartridge可以通過這個界面將需要的電信號接至DUT進行測試，DUT測試射頻信號需要將DUT Cartridge射頻接口位置的上蓋開窗進行連接RF Probe，RF Probe需要固定在Probe面板上，Probe面板上的RFProbe通過RF Cable連接至屏蔽箱的射頻接口，屏蔽箱的射頻輸出接口連接至射頻儀器。

2.根據權利要求1所述的一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案，其特征在于：所述DUT Cartridge內部采用冷卻氣流槽設計，DUT不會過溫，保證DUT的測試穩定性。

3.根據權利要求1所述的一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案，其特征在于：屏蔽箱和夾具為通用設備，根據DUT的不同或者DUT射頻接口的不同只需要更換DUTCartridge或者Probe面板即可。

4.根據權利要求1所述的一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案，其特征在于：模塊化所述DUT Cartridge與DUT之間信號的轉接是通過轉接針的方式進行轉接。

5.根據權利要求1所述的一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案，其特征在于：所述probe面板上安裝有Rf probe，并且Rf probe獨立固定在夾具上框架。

6.根據權利要求5所述的一種用于主板的射頻與電路功能測試治具方案，其特征在于：所述夾具的氣缸在壓合時，通過上下框架模組之間的導向柱進行對位連接。