[發(fā)明專利]提高合束參數(shù)檢測(cè)精度的標(biāo)校光路和標(biāo)校方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011467030.5 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-14 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112284531A | 公開(公告)日: | 2021-01-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉麗娜;安振杰;孫亮;劉英智 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 核工業(yè)理化工程研究院 |
| 主分類號(hào): | G01J1/42 | 分類號(hào): | G01J1/42;G01J1/02;G01J1/04 |
| 代理公司: | 天津市宗欣專利商標(biāo)代理有限公司 12103 | 代理人: | 馬倩 |
| 地址: | 300180 *** | 國(guó)省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 提高 參數(shù) 檢測(cè) 精度 標(biāo)校光路 校方 | ||
本發(fā)明公開了一種提高合束參數(shù)檢測(cè)精度的標(biāo)校光路和標(biāo)校方法,標(biāo)校光路包括合束裝置和主導(dǎo)光鏡,主導(dǎo)光鏡的漏光光路上設(shè)置監(jiān)視分光鏡,監(jiān)視分光鏡的兩路發(fā)射光路上分別設(shè)置檢測(cè)分光鏡和合束觀測(cè)裝置;所述檢測(cè)分光鏡的發(fā)射光路上分別設(shè)置指向檢測(cè)裝置和位置檢測(cè)裝置;標(biāo)校方法包括(Ⅰ)激光束的精準(zhǔn)合束;(Ⅱ)基準(zhǔn)激光束的參數(shù)調(diào)整;(Ⅲ)基準(zhǔn)激光束的信息采集;(Ⅳ)其余激光束的參數(shù)調(diào)整;(Ⅴ)數(shù)據(jù)更新;(Ⅵ)重啟控制系統(tǒng)等步驟。本發(fā)明標(biāo)校光路可以進(jìn)行合束參數(shù)檢測(cè)影響因素分析研究,實(shí)現(xiàn)理論研究和試驗(yàn)結(jié)果的相互驗(yàn)證,光路調(diào)節(jié)方便,可操作性強(qiáng);標(biāo)校方法簡(jiǎn)單直接,可大大提高合束參數(shù)檢測(cè)的精度和準(zhǔn)確性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及合束參數(shù)檢測(cè)領(lǐng)域,具體涉及一種提高合束參數(shù)檢測(cè)精度的標(biāo)校光路和標(biāo)校方法。
背景技術(shù)
在激光對(duì)抗和光譜應(yīng)用領(lǐng)域要求將多波段的多束激光同軸合束,然后進(jìn)行長(zhǎng)距離傳輸,為了保證試驗(yàn)效果,除了將多波段的激光準(zhǔn)確投送到目標(biāo)上外,還需要保證各束激光之間的合束精度在一定的傳輸距離內(nèi)滿足一定的要求。
現(xiàn)有系統(tǒng)中使用的合束檢測(cè)裝置分為遠(yuǎn)場(chǎng)指向和近場(chǎng)位置檢測(cè),即利用長(zhǎng)焦距光學(xué)鏡頭的光學(xué)聚焦原理,輔助高分辨CCD相機(jī)成像采集與高精度光斑提取算法,進(jìn)行光束遠(yuǎn)場(chǎng)指向的自動(dòng)監(jiān)測(cè);利用高縮束倍率光學(xué)鏡頭的光學(xué)縮放原理,輔助高分辨CCD相機(jī)成像采集與高精度光斑提取算法,進(jìn)行光束近場(chǎng)位置的自動(dòng)監(jiān)測(cè)。從檢測(cè)原理分析,相機(jī)衰減系數(shù)和增益,CCD測(cè)量時(shí)的誤差和數(shù)據(jù)處理誤差,激光器本身的光束質(zhì)量、光斑提取算法等都會(huì)影響合束檢測(cè)的精度和準(zhǔn)確性。對(duì)于提高合束檢測(cè)精度和準(zhǔn)確性方法的研究很多,大多集中在光斑提取算法的優(yōu)化和對(duì)合束精度的分析研究,例如夏蕾等發(fā)表于中國(guó)光學(xué)第7卷第5期的《激光波長(zhǎng)合束精度研究》,缺少試驗(yàn)驗(yàn)證的環(huán)節(jié),無(wú)法對(duì)理論研究和試驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行相互驗(yàn)證。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明是為了克服現(xiàn)有提高合束檢測(cè)精度和準(zhǔn)確性方法的研究中缺少試驗(yàn)驗(yàn)證的環(huán)節(jié)的缺點(diǎn)而提出的,其目的是提供一種提高合束參數(shù)檢測(cè)精度的標(biāo)校光路和標(biāo)校方法。
本發(fā)明是通過(guò)以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)的:
一種提高合束參數(shù)檢測(cè)精度的標(biāo)校光路,包括完成多路激光合束的合束裝置,將合光束反射至主激光系統(tǒng)的主導(dǎo)光鏡,主導(dǎo)光鏡的漏光光路上設(shè)置監(jiān)視分光鏡,監(jiān)視分光鏡的兩路發(fā)射光路上分別設(shè)置檢測(cè)分光鏡和合束觀測(cè)裝置;所述檢測(cè)分光鏡的發(fā)射光路上分別設(shè)置指向檢測(cè)裝置和位置檢測(cè)裝置。
在上述技術(shù)方案中,所述合束觀測(cè)裝置為長(zhǎng)距離傳輸裝置。
在上述技術(shù)方案中,所述長(zhǎng)距離傳輸裝置包括多組反射鏡,反射鏡之間采用往返式反射傳輸方式。
在上述技術(shù)方案中,所述監(jiān)視分光鏡和檢測(cè)分光鏡均為50%分光鏡,且分光鏡的楔角小于0.05度。
在上述技術(shù)方案中,所述指向檢測(cè)裝置包括縮束光管和波長(zhǎng)選通及衰減單元,兩者配合實(shí)現(xiàn)多波段激光位置的順次監(jiān)測(cè)。
在上述技術(shù)方案中,所述位置檢測(cè)裝置包括平行光管和波長(zhǎng)選通及衰減單元,兩者配合實(shí)現(xiàn)多波段激光指向的順次監(jiān)測(cè)。
一種提高合束參數(shù)檢測(cè)精度的標(biāo)校光路的標(biāo)校方法,包括以下步驟:
(Ⅰ)激光束的精準(zhǔn)合束
調(diào)整合束裝置中的反射鏡,并通過(guò)合束觀測(cè)裝置確認(rèn),完成對(duì)多束激光束的精準(zhǔn)合束;
(Ⅱ)基準(zhǔn)激光束的參數(shù)調(diào)整
選擇基準(zhǔn)激光束通過(guò)標(biāo)校光路,調(diào)節(jié)CCD相機(jī)的積分時(shí)間和增益,直至基準(zhǔn)激光束的光斑輪廓完整、形狀清晰、位置穩(wěn)定,且無(wú)飽和現(xiàn)象,記錄CCD相機(jī)的積分時(shí)間和增益;
(Ⅲ)基準(zhǔn)激光束的信息采集
通過(guò)指向檢測(cè)裝置和位置檢測(cè)裝置完成對(duì)基準(zhǔn)激光束的指向與位置信息的采集;
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