[發(fā)明專利]晶圓定位裝置及晶圓減薄機(jī)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011463349.0 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-14 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112635383B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-09-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 翟慧敏;裴少帥;蘇亞青;呂劍 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 華虹半導(dǎo)體(無(wú)錫)有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/683 | 分類號(hào): | H01L21/683;H01L21/67;H01L21/677 |
| 代理公司: | 上海浦一知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31211 | 代理人: | 戴廣志 |
| 地址: | 214028 江*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 定位 裝置 晶圓減薄機(jī) | ||
本申請(qǐng)涉及半導(dǎo)體集成電路制造技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種晶圓定位裝置及晶圓減薄機(jī)。晶圓定位裝置包括:操作臺(tái),操作臺(tái)包括定位區(qū);定位區(qū)中設(shè)有定位旋轉(zhuǎn)移行裝置,定位旋轉(zhuǎn)移行裝置包括用于吸附目標(biāo)晶圓的吸附面;定位旋轉(zhuǎn)移行裝置能夠沿著平行于吸附面的直線移行;定位旋轉(zhuǎn)移行裝置能夠沿著中心轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn),中心轉(zhuǎn)軸位于定位旋轉(zhuǎn)移行裝置的中心,且垂直于吸附面;邊緣檢測(cè)裝置,邊緣檢測(cè)裝置設(shè)于定位旋轉(zhuǎn)移行裝置移行路線的端部;用于檢測(cè)目標(biāo)晶圓的邊緣;吸附懸臂,吸附懸臂包括旋轉(zhuǎn)端和延伸端,延伸端設(shè)有吸盤,旋轉(zhuǎn)端設(shè)有旋轉(zhuǎn)臂,旋轉(zhuǎn)臂能夠帶動(dòng)吸附懸臂轉(zhuǎn)動(dòng),吸盤的工作面平行于吸附面。晶圓減薄機(jī)包括上述晶圓定位裝置。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請(qǐng)涉及半導(dǎo)體集成電路制造技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種晶圓定位裝置及晶圓減薄機(jī)。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體集成電路制造過(guò)程中,許多工藝為了保證作業(yè)晶圓位置統(tǒng)一,便于工藝擴(kuò)展,需要預(yù)先對(duì)晶圓進(jìn)行定位對(duì)準(zhǔn)。晶圓上通常設(shè)有用于定位對(duì)準(zhǔn)的標(biāo)記,如圖1,其示出了晶圓的結(jié)構(gòu)示意圖,該晶圓10上設(shè)有V形切口11。
相關(guān)技術(shù)中的晶圓定位裝置包括晶圓中心對(duì)準(zhǔn)裝置和晶圓吸附裝置,該晶圓中心對(duì)準(zhǔn)裝置設(shè)于待處理晶圓下,能夠移動(dòng)以確定晶圓中心;該晶圓吸附裝置位于所述晶圓中心對(duì)準(zhǔn)裝置的一側(cè),能夠在該晶圓中心對(duì)準(zhǔn)裝置移動(dòng)時(shí)吸住所述待處理晶圓的下表面。
但是,隨著電子信息類產(chǎn)品對(duì)于性能提升的需求越來(lái)越高,對(duì)有限空間內(nèi)芯片的集成度要求也越來(lái)越高,這便要求芯片要做到更小更薄,隨之而來(lái)的是晶圓翹曲的問(wèn)題。由于晶圓吸附裝置能夠吸附晶圓的面積有限,因此對(duì)于翹曲的晶圓,該晶圓吸附裝置的吸附能夠減弱,從而使得在晶圓中心對(duì)準(zhǔn)裝置移動(dòng)對(duì)準(zhǔn)過(guò)程中容易拖動(dòng)晶圓,使得晶圓吸附裝置的吸附作用失效,進(jìn)而引發(fā)掉片。
發(fā)明內(nèi)容
本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N晶圓定位裝置及晶圓減薄機(jī),可以解決相關(guān)技術(shù)中在晶圓定位過(guò)程中容易引發(fā)晶圓掉片風(fēng)險(xiǎn)的問(wèn)題。
作為本申請(qǐng)的第一方面,提供一種晶圓定位裝置,所述晶圓定位裝置包括:
操作臺(tái),所述操作臺(tái)包括定位區(qū);所述定位區(qū)中設(shè)有定位旋轉(zhuǎn)移行裝置,所述定位旋轉(zhuǎn)移行裝置包括用于吸附目標(biāo)晶圓的吸附面;
所述定位旋轉(zhuǎn)移行裝置能夠沿著平行于所述吸附面的直線移行;所述定位旋轉(zhuǎn)移行裝置能夠沿著中心轉(zhuǎn)軸旋轉(zhuǎn),所述中心轉(zhuǎn)軸位于所述定位旋轉(zhuǎn)移行裝置的中心,且垂直于所述吸附面;
邊緣檢測(cè)裝置,所述邊緣檢測(cè)裝置設(shè)于所述定位旋轉(zhuǎn)移行裝置移行路線的端部;用于檢測(cè)目標(biāo)晶圓的邊緣;
吸附懸臂,所述吸附懸臂包括旋轉(zhuǎn)端和延伸端,所述延伸端設(shè)有吸盤,所述旋轉(zhuǎn)端設(shè)有旋轉(zhuǎn)臂,所述旋轉(zhuǎn)臂能夠帶動(dòng)所述吸附懸臂轉(zhuǎn)動(dòng),所述吸盤的工作面平行于所述吸附面。
可選的,所述定位區(qū)開(kāi)設(shè)有條形槽,所述條形槽,所述邊緣檢測(cè)裝置位于所述條形槽的端部;
所述定位旋轉(zhuǎn)移行裝置位于所述條形槽中,能夠沿著所述條形槽移動(dòng)。
可選的,所述邊緣檢測(cè)裝置包括相對(duì)設(shè)置的檢測(cè)信號(hào)發(fā)射裝置和檢測(cè)信號(hào)接收裝置,所述檢測(cè)信號(hào)發(fā)射裝置和檢測(cè)信號(hào)接收裝置之間為檢測(cè)空間,目標(biāo)晶圓能夠旋轉(zhuǎn)穿過(guò)所述檢測(cè)空間。
可選的,所述操作臺(tái)還包括操作區(qū),所述吸附懸臂在所述旋轉(zhuǎn)臂的帶動(dòng)下,能夠在所述定位區(qū)和所述操作區(qū)之間來(lái)回轉(zhuǎn)動(dòng)。
可選的,所述晶圓定位裝置還包括控制裝置,所述控制裝置連接所述定位旋轉(zhuǎn)移行裝置,使得所述定位旋轉(zhuǎn)移行裝置根據(jù)控制信號(hào)移動(dòng)和轉(zhuǎn)動(dòng);
所述控制裝置連接所述邊緣檢測(cè)裝置,使得所述邊緣檢測(cè)裝置根據(jù)控制信號(hào)檢測(cè)目標(biāo)晶圓的邊緣標(biāo)記;
所述控制裝置連接所述吸附懸臂的旋轉(zhuǎn)臂,使得所述旋轉(zhuǎn)臂根據(jù)控制信號(hào)轉(zhuǎn)動(dòng)。
可選的,所述吸附面形成真空吸口。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
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H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





