[發(fā)明專利]一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011455496.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-12-10 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112698319A | 公開(公告)日: | 2021-04-23 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 顏衛(wèi)忠;陳棟志;孔凡偉;錢婧怡;白旭東 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海航天電子有限公司;上海科學(xué)儀器廠有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01S13/42 | 分類號(hào): | G01S13/42;G01S13/58;G01S13/08;G01S7/40 |
| 代理公司: | 上海航天局專利中心 31107 | 代理人: | 孫瑜 |
| 地址: | 201821 *** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 雷達(dá) 測(cè)量 目標(biāo) 角度 實(shí)驗(yàn) 方法 | ||
本發(fā)明實(shí)施例提供了一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法,其特征在于,包括步驟:步驟1:架設(shè)雷達(dá),選取經(jīng)過(guò)雷達(dá)的第一條線,即中軸線,然后根據(jù)選取的夾角,在中軸線的兩側(cè)根據(jù)夾角選取兩條標(biāo)記線,所述標(biāo)記線用于標(biāo)記目標(biāo)移動(dòng)的軌跡;步驟2:雷達(dá)天線指向校準(zhǔn);步驟3:將目標(biāo)放置在標(biāo)記線上,利用雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)的角度;步驟4:對(duì)每一個(gè)角度標(biāo)記線上測(cè)量的角度數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,即得到目標(biāo)角度。測(cè)量的目標(biāo)角度先平均,再減去天線主軸指向角度,記為最終目標(biāo)角度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于雷達(dá)目標(biāo)測(cè)量領(lǐng)域,涉及一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法。
背景技術(shù)
雷達(dá)發(fā)射機(jī)產(chǎn)生的信號(hào)經(jīng)發(fā)射天線向外輻射,信號(hào)遇到目標(biāo)后被反射或散射,雷達(dá)的接收天線將所接收的反射信號(hào)(回波信號(hào))送入雷達(dá)接收機(jī)完成變頻、濾波、放大等處理,形成中頻信號(hào)。中頻信號(hào)在信號(hào)處理機(jī)完成采樣及數(shù)字信號(hào)處理,完成目標(biāo)參數(shù)的測(cè)量。雷達(dá)能夠測(cè)量目標(biāo)的距離和速度,如果具有多個(gè)接收天線或者天線波束可控,則還能夠測(cè)量目標(biāo)的角度。針對(duì)不同的應(yīng)用場(chǎng)景有不同體制的雷達(dá),常見的雷達(dá)有線性調(diào)頻連續(xù)波雷達(dá)、多普勒雷達(dá)、脈沖雷達(dá)等。
對(duì)于靜止目標(biāo),只需確保雷達(dá)天線主軸與目標(biāo)測(cè)量坐標(biāo)系重合,則目標(biāo)角度測(cè)量較為簡(jiǎn)單,根據(jù)雷達(dá)角度測(cè)量值與實(shí)際角度值的差異,即可確定測(cè)角誤差。對(duì)于連續(xù)運(yùn)動(dòng)目標(biāo)的測(cè)角誤差的驗(yàn)證,角度的實(shí)時(shí)變化給測(cè)量帶來(lái)了困難,且測(cè)角精度有限也會(huì)造成測(cè)量結(jié)果誤差較大,讓目標(biāo)沿固定角度運(yùn)動(dòng)可減少實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度。此外,不管哪種運(yùn)動(dòng)狀態(tài)的目標(biāo),測(cè)量前均需要對(duì)天線指向進(jìn)行校準(zhǔn)。但是目前文獻(xiàn)中對(duì)于雷達(dá)測(cè)角方法的介紹很少,因此有必要確定不同運(yùn)動(dòng)狀態(tài)目標(biāo)的雷達(dá)測(cè)角誤差的方法。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)當(dāng)前雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度過(guò)程繁瑣、誤差大、可靠性低的問(wèn)題,提出了一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法。
一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法,其特征在于,包括步驟:
步驟1:架設(shè)雷達(dá),選取經(jīng)過(guò)雷達(dá)的第一條線,即中軸線,然后根據(jù)選取的夾角,在中軸線的兩側(cè)根據(jù)夾角選取兩條標(biāo)記線,所述標(biāo)記線用于標(biāo)記目標(biāo)移動(dòng)的軌跡;
步驟2:雷達(dá)天線指向校準(zhǔn);
步驟3:將目標(biāo)放置在標(biāo)記線上,利用雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)的角度;
步驟4:對(duì)每一個(gè)角度標(biāo)記線上測(cè)量的角度數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,即得到目標(biāo)角度。測(cè)量的目標(biāo)角度先平均,再減去天線主軸指向角度,記為最終目標(biāo)角度。
優(yōu)選地,所述步驟2中,中軸線上放置定標(biāo)體,不斷調(diào)整天線指向并測(cè)量定標(biāo)體的角度,使定標(biāo)體的角度小于閾值δ,定標(biāo)體的角度記為θT。
優(yōu)選地,所述步驟2中,首次角度測(cè)量系統(tǒng)的中軸線上的目標(biāo)角度θ0,若目標(biāo)角度小于閾值δ,即|θ0|δ,則無(wú)需校正。否則,當(dāng)θ00,則雷達(dá)天線需順時(shí)針轉(zhuǎn),反之,雷達(dá)天線逆時(shí)針轉(zhuǎn)。天線固定后,再次測(cè)量目標(biāo)角度θ1。如此反復(fù)調(diào)整天線指向,直至|θi|δ,則校準(zhǔn)完成,且天線主軸方向記為θT=θi。
優(yōu)選地,所述步驟3中,為了測(cè)量連續(xù)運(yùn)動(dòng)目標(biāo),讓目標(biāo)沿標(biāo)記線運(yùn)動(dòng),并記錄測(cè)角數(shù)據(jù)。
優(yōu)選地,所述步驟2中,角度誤差閾值δ需根據(jù)測(cè)角精度來(lái)設(shè)置。
優(yōu)選地,所述步驟2中,當(dāng)測(cè)試環(huán)境或測(cè)試條件改變時(shí)需對(duì)雷達(dá)天線指向重新校準(zhǔn)。
優(yōu)選地,所述步驟4中,測(cè)量的目標(biāo)角度先平均,再減去天線主軸指向角度θT,記為最終目標(biāo)角度。
本發(fā)明提出了一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法,結(jié)合對(duì)雷達(dá)回波信號(hào)的處理技術(shù),能夠較好地保證目標(biāo)角度測(cè)量的準(zhǔn)確性。
本發(fā)明的有益效果包括:
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- 同類專利
- 專利分類
G01S 無(wú)線電定向;無(wú)線電導(dǎo)航;采用無(wú)線電波測(cè)距或測(cè)速;采用無(wú)線電波的反射或再輻射的定位或存在檢測(cè);采用其他波的類似裝置
G01S13-00 使用無(wú)線電波的反射或再輻射的系統(tǒng),例如雷達(dá)系統(tǒng);利用波的性質(zhì)或波長(zhǎng)是無(wú)關(guān)的或未指明的波的反射或再輻射的類似系統(tǒng)
G01S13-02 .利用無(wú)線電波反射的系統(tǒng),例如,初級(jí)雷達(dá)系統(tǒng);類似的系統(tǒng)
G01S13-66 .雷達(dá)跟蹤系統(tǒng);類似系統(tǒng)
G01S13-74 .應(yīng)用無(wú)線電波再輻射的系統(tǒng),例如二次雷達(dá)系統(tǒng);類似系統(tǒng)
G01S13-86 .雷達(dá)系統(tǒng)與非雷達(dá)系統(tǒng)
G01S13-87 .雷達(dá)系統(tǒng)的組合,例如一次雷達(dá)與二次雷達(dá)
- 測(cè)量設(shè)備、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量配件和測(cè)量方法
- 測(cè)量尺的測(cè)量組件及測(cè)量尺
- 測(cè)量輔助裝置、測(cè)量裝置和測(cè)量系統(tǒng)
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量觸頭、測(cè)量組件和測(cè)量裝置
- 測(cè)量容器、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)、測(cè)量程序以及測(cè)量方法
- 測(cè)量裝置、測(cè)量系統(tǒng)及測(cè)量方法
- 測(cè)量電路、測(cè)量方法及測(cè)量設(shè)備
- 目標(biāo)檢測(cè)裝置、學(xué)習(xí)裝置、目標(biāo)檢測(cè)系統(tǒng)及目標(biāo)檢測(cè)方法
- 目標(biāo)監(jiān)測(cè)方法、目標(biāo)監(jiān)測(cè)裝置以及目標(biāo)監(jiān)測(cè)程序
- 目標(biāo)監(jiān)控系統(tǒng)及目標(biāo)監(jiān)控方法
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)跟蹤方法和目標(biāo)跟蹤裝置
- 目標(biāo)檢測(cè)方法和目標(biāo)檢測(cè)裝置
- 目標(biāo)跟蹤方法、目標(biāo)跟蹤裝置、目標(biāo)跟蹤設(shè)備
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)處理方法、目標(biāo)處理裝置、目標(biāo)處理設(shè)備及介質(zhì)
- 目標(biāo)跟蹤系統(tǒng)及目標(biāo)跟蹤方法





