[發(fā)明專利]一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011455496.3
• 申請(qǐng)日: 2020-12-10
• 公開（公告）號(hào): CN112698319A
• 公開（公告）日: 2021-04-23
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 顏衛(wèi)忠;陳棟志;孔凡偉;錢婧怡;白旭東
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 上海航天電子有限公司;上?？茖W(xué)儀器廠有限公司
• 主分類號(hào): G01S13/42
• 分類號(hào): G01S13/42;G01S13/58;G01S13/08;G01S7/40
• 代理公司: 上海航天局專利中心 31107
• 代理人: 孫瑜

1.一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，包括步驟：

步驟1:架設(shè)雷達(dá)，選取經(jīng)過(guò)雷達(dá)的第一條線，即中軸線，然后根據(jù)選取的夾角，在中軸線的兩側(cè)根據(jù)夾角選取兩條標(biāo)記線，所述標(biāo)記線用于標(biāo)記目標(biāo)移動(dòng)的軌跡；

步驟2：雷達(dá)天線指向校準(zhǔn)；

步驟3：將目標(biāo)放置在標(biāo)記線上，利用雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)的角度；

步驟4：對(duì)每一個(gè)角度標(biāo)記線上測(cè)量的角度數(shù)據(jù)進(jìn)行處理，即得到目標(biāo)角度。測(cè)量的目標(biāo)角度先平均，再減去天線主軸指向角度，記為最終目標(biāo)角度。

2.如權(quán)利要求1所述的一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟2中，中軸線上放置定標(biāo)體，不斷調(diào)整天線指向并測(cè)量定標(biāo)體的角度，使定標(biāo)體的角度小于閾值δ，定標(biāo)體的角度記為θ_T。

3.如權(quán)利要求2所述的一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟2中，首次角度測(cè)量系統(tǒng)的中軸線上的目標(biāo)(定標(biāo)體)角度θ₀，若目標(biāo)角度小于閾值δ，即|θ₀|δ，則無(wú)需校正。否則，當(dāng)θ₀0，則雷達(dá)天線需順時(shí)針轉(zhuǎn)，反之，雷達(dá)天線逆時(shí)針轉(zhuǎn)。天線固定后，再次測(cè)量目標(biāo)角度θ₁。如此反復(fù)調(diào)整天線指向，直至|θ_i|δ，則校準(zhǔn)完成，且天線主軸方向記為θ_T＝θ_i。

4.如權(quán)利要求2所述的一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟3中，

為了測(cè)量連續(xù)運(yùn)動(dòng)目標(biāo)，讓目標(biāo)沿標(biāo)記線運(yùn)動(dòng)，并記錄測(cè)角數(shù)據(jù)。

5.如權(quán)利要求4所述的一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟2中，角度誤差閾值δ需根據(jù)測(cè)角精度來(lái)設(shè)置。

6.如權(quán)利要求5所述的一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟2中，當(dāng)測(cè)試環(huán)境或測(cè)試條件改變時(shí)需對(duì)雷達(dá)天線指向重新校準(zhǔn)。

7.如權(quán)利要求6所述的一種雷達(dá)測(cè)量目標(biāo)角度的實(shí)驗(yàn)方法，其特征在于，所述步驟4中，測(cè)量的目標(biāo)角度先平均，再減去天線主軸指向角度θ_T，記為最終目標(biāo)角度。