[發明專利]一種天線近場數據采集方法和系統

有效

• 申請號: 202011454849.8
• 申請日: 2020-12-10
• 公開（公告）號: CN112698114B
• 公開（公告）日: 2023-04-14
• 發明（設計）人: 杜立賀;孫健
• 申請（專利權）人: 北京無線電測量研究所
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R29/08
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 厲洋洋

本發明涉及一種天線近場數據采集方法和系統，方法包括近場測試系統將收發通道位置信息和頻點信息打包成第一數據包，對第一數據包和同步脈沖信號進行累加計數，分別得到對應的計數值，將同步脈沖信號和第二數據包發送給模擬器，第二數據包包括第一數據包和對應的計數值；模擬器分別對第一數據包和同步脈沖信號進行累加計數，并對對應的計數值進行檢驗，當檢驗通過時，將同步脈沖信號和第一數據包發送給波束控制系統；波束控制系統根據第一數據包和同步脈沖信號更新相控陣天線的工作狀態；近場測試系統采集當前收發通道的頻點信息對應的相位和幅度信息，可以避免丟包的現象發生，可以極大地降低天線近場測試時間，保證了天線近場數據的快速采集。

技術領域

本發明涉及天線技術領域，具體涉及一種天線近場數據采集方法和系統。

背景技術

天線近場數據包括所有收發通道所有工作頻點的初始相位和初始幅度等參數，通過對這些參數的采集以及處理，可以及時發現故障通道并對天線整體性能進行有效評估。

對于小規模相控陣天線，近場數據規模不大，可以對每個收發通道進行單頻點測試，如果中間出現失誤，重新開始測試即可，可以忽略測試效率等因素；但是隨著相控陣天線規模的逐步擴大，通道數量和頻點數量均日益增加，這種情況下傳統的測試效率低下的弊端被放大，日益成為制約天線測試的瓶頸，如果測試過程中出現單點失誤，則從失誤點開始的測試數據都是無效數據，這都會造成人力物力的極大浪費，嚴重制約著工程進度的順利開展，使得天線近場數據的采集時間消耗較大。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是提供一種天線近場數據采集方法和系統，通過數據包和同步脈沖信號雙重計數，可以避免丟包的現象發生，通過校驗保證測試結果正確性，進而可以極大地降低天線近場測試時間，保證了天線近場參數的快速采集。

本發明解決上述技術問題的技術方案如下：一種天線近場數據采集方法，應用于一種天線近場數據采集系統，所述天線近場數據采集系統包括近場測試系統、模擬器、波束控制系統和相控陣天線；所述天線近場數據采集方法包括：

所述近場測試系統將收發通道位置信息和頻點信息打包成第一數據包，對所述第一數據包和同步脈沖信號進行累加計數，得到第一數據包計數值和第一同步脈沖信號計數值，將所述同步脈沖信號和第二數據包發送給所述模擬器，所述第二數據包包括所述第一數據包、第一數據包計數值和第一同步脈沖信號計數值；

所述模擬器分別對所述第一數據包和同步脈沖信號進行累加計數，并對所述第一數據包計數值和第一同步脈沖信號計數值進行檢驗，當檢驗通過時，將所述同步脈沖信號和第一數據包發送給所述波束控制系統；

所述波束控制系統根據所述第一數據包和同步脈沖信號更新相控陣天線的工作狀態；

所述近場測試系統采集當前收發通道的頻點信息對應的相位和幅度信息。

本發明的有益效果是：由近場測試系統將收發通道位置信息和頻點信息打包成第一數據包，近場測試系統和模擬器分別進行第一數據包和同步脈沖信號的雙重計數，再由模擬器對近場測試系統的計數值進行校驗，在校驗通過時，由波束控制系統根據第一數據包和同步脈沖信號更新相控陣天線的工作狀態，近場測試系統采集當前收發通道的頻點信息對應的相位和幅度信息；通過第一數據包和同步脈沖信號雙重計數，可以避免丟包的現象發生，通過校驗保證測試結果正確性，進而可以極大地降低天線近場測試時間，保證了天線近場參數的快速采集。

在上述技術方案的基礎上，本發明還可以做如下改進：

進一步，所述模擬器分別對所述第一數據包和同步脈沖信號進行累加計數，并對所述第一數據包計數值和第一同步脈沖信號計數值進行檢驗包括：

所述模擬器分別對所述第一數據包和同步脈沖信號進行累加計數，得到第二數據包計數值和第二同步脈沖信號計數值，當確定第一數據包計數值與所述第二數據包計數值相同，且第一同步脈沖信號計數值和第二同步脈沖信號計數值相同時，確定校驗通過。