[發明專利]一種天線近場數據采集方法和系統

有效

• 申請號: 202011454849.8
• 申請日: 2020-12-10
• 公開（公告）號: CN112698114B
• 公開（公告）日: 2023-04-14
• 發明（設計）人: 杜立賀;孫健
• 申請（專利權）人: 北京無線電測量研究所
• 主分類號: G01R29/10
• 分類號: G01R29/10;G01R29/08
• 代理公司: 北京輕創知識產權代理有限公司 11212
• 代理人: 厲洋洋

1.一種天線近場數據采集方法，其特征在于，應用于一種天線近場數據采集系統，所述天線近場數據采集系統包括近場測試系統、模擬器、波束控制系統和相控陣天線；所述天線近場數據采集方法包括：

所述近場測試系統將收發通道位置信息和頻點信息打包成第一數據包，對所述第一數據包和同步脈沖信號進行累加計數，得到第一數據包計數值和第一同步脈沖信號計數值，將所述同步脈沖信號和第二數據包發送給所述模擬器，所述第二數據包包括所述第一數據包、第一數據包計數值和第一同步脈沖信號計數值；

所述模擬器分別對所述第一數據包和同步脈沖信號進行累加計數，并對所述第一數據包計數值和第一同步脈沖信號計數值進行檢驗，當檢驗通過時，將所述同步脈沖信號和第一數據包發送給所述波束控制系統；

所述波束控制系統根據所述第一數據包和同步脈沖信號更新相控陣天線的工作狀態；

所述近場測試系統采集當前收發通道的頻點信息對應的相位和幅度信息；

所述模擬器分別對所述第一數據包和同步脈沖信號進行累加計數，并對所述第一數據包計數值和第一同步脈沖信號計數值進行檢驗包括：

所述模擬器分別對所述第一數據包和同步脈沖信號進行累加計數，得到第二數據包計數值和第二同步脈沖信號計數值，當確定第一數據包計數值與所述第二數據包計數值相同，且第一同步脈沖信號計數值和第二同步脈沖信號計數值相同時，確定校驗通過；

所述模擬器將所述同步脈沖信號和第一數據包發送給所述波束控制系統包括：

將所述第一數據包、第二數據包計數值和第二同步脈沖信號計數值填入控制字，將所述控制字和所述同步脈沖信號發送給所述波束控制系統；

所述波束控制系統根據所述第一數據包和同步脈沖信號更新相控陣天線的工作狀態包括：

所述波束控制系統分別對所述第一數據包和同步脈沖信號進行累加計數，得到第三數據包計數值和第三同步脈沖信號計數值，當確定所述第二數據包計數值與所述第三數據包計數值相同，且第二同步脈沖信號計數值和第三同步脈沖信號計數值相同時，更新相控陣天線的工作狀態。

2.根據權利要求1所述的天線近場數據采集方法，其特征在于，所述天線近場數據采集方法還包括：

所述模擬器確定流程異常時，將流程異常標志位、所述第二同步脈沖信號計數值與所述第二數據包計數值發送給所述近場測試系統。

3.根據權利要求2所述的天線近場數據采集方法，其特征在于，所述模擬器確定流程異常包括：

當所述第二數據包計數值與所述第三數據包計數值不同，或/和，第二同步脈沖信號計數值和第三同步脈沖信號計數值不同時，所述波束控制系統確定流程異常，將異常消息發送給所述模擬器，所述模擬器確定流程異常；

或，當所述第一數據包計數值與所述第二數據包計數值不同，和/或，第一同步脈沖信號計數值與第二同步脈沖信號計數值不同時，所述模擬器確定流程異常。

4.根據權利要求2所述的天線近場數據采集方法，其特征在于，所述將流程異常標志位、所述第二同步脈沖信號計數值與所述第二數據包計數值發送給所述近場測試系統之后包括：

所述近場測試系統對異常次數進行計數，當異常次數未超過設定的退出門限，重復發送當前通道的位置信息以及頻點信息。

5.根據權利要求2所述的天線近場數據采集方法，其特征在于，所述將流程異常標志位、所述第二同步脈沖信號計數值與所述第二數據包計數值發送給所述近場測試系統包括：

所述模擬器將流程異常標志位、所述第二同步脈沖信號計數值與所述第二數據包計數值通過UDP網絡發送給所述近場測試系統。

6.根據權利要求1-5任一項所述的天線近場數據采集方法，其特征在于，所述將所述同步脈沖信號和第二數據包發送給所述模擬器包括：

所述近場測試系統通過UDP網絡將所述第二數據包發送給所述模擬器，通過同步信號線將同步脈沖信號發送給所述模擬器。

7.一種天線近場數據采集系統，其特征在于，所述天線近場數據采集系統包括近場測試系統、模擬器、波束控制系統和相控陣天線，以實現根據權利要求1至6中任一項所述的天線近場數據采集方法的步驟。