[發明專利]一種電池篩選方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011454583.7
• 申請日: 2020-12-10
• 公開（公告）號: CN112505560B
• 公開（公告）日: 2023-05-30
• 發明（設計）人: 閆俊杰;王成云;宋鵬元;何巍;杜金田;庫志新
• 申請（專利權）人: 湖北億緯動力有限公司
• 主分類號: G01R31/385
• 分類號: G01R31/385;G01R35/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

本發明實施例公開了一種電池篩選方法、裝置、設備及存儲介質。該電池篩選方法包括：基于第一樣本電芯在不同測試電壓下的Hi?pot阻值與測試壓力的變化關系，確定標準測試壓力，其中，第一樣本電芯為合格電芯；基于第二樣本電芯在標準測試壓力下的Hi?pot阻值與測試電壓的變化關系，確定標準測試電壓，其中，第二樣本電芯的隔膜具有預設孔徑的針孔；基于第三樣本電芯在標準測試壓力和標準測試電壓時的Hi?pot阻值與第一樣本電芯在標準測試壓力和標準測試電壓時的Hi?pot阻值，確定標準分選阻值，其中，第三樣本電芯摻雜有預設類型的金屬顆粒物；使用標準測試壓力、標準測試電壓和標準分選阻值對待檢電芯進行篩選。

技術領域

本發明實施例涉及鋰電池檢測技術，尤其涉及一種電池篩選方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

Hi-pot測試作為電芯前期的一種檢測技術，如果在注液工序前將不良電芯全部檢測出，不僅為公司節約了成本，而且生產出滿足客戶需求的電池。

當前，各公司模塊測試電壓有300V、250V、200V等，測試時間有1s、2s、4s等，判斷標準有5MΩ、10MΩ、100MΩ。該測試方法下，存在電芯的Hi-pot阻值不穩定、金屬顆粒物混入電芯較難被檢測出、且含有較小隔膜針孔的電芯被檢出率低的問題。因此，Hi-pot測試有必要開發出一套標準的有效的檢測方法。

發明內容

本發明實施例提供一種電池篩選方法、裝置、設備及存儲介質，以提供一套標準的Hi-pot測試方法，提高Hi-pot測試的可靠性，提高對于不良電芯的篩選成功率。

第一方面，本發明實施例提供了一種電池篩選方法，包括：

基于第一樣本電芯在不同測試電壓下的Hi-pot阻值與測試壓力的變化關系，確定標準測試壓力，其中，所述第一樣本電芯為合格電芯；

基于第二樣本電芯在所述標準測試壓力下的Hi-pot阻值與測試電壓的變化關系，確定標準測試電壓，其中，所述第二樣本電芯的隔膜具有預設孔徑的針孔；

基于第三樣本電芯在所述標準測試壓力和所述標準測試電壓時的Hi-pot阻值與所述第一樣本電芯在所述標準測試壓力和所述標準測試電壓時的Hi-pot阻值，確定標準分選阻值，其中，所述第三樣本電芯摻雜有預設類型的金屬顆粒物；

使用所述標準測試壓力、所述標準測試電壓和所述標準分選阻值對待檢電芯進行篩選。

第二方面，本發明實施例還提供了一種電池篩選裝置，該裝置包括：

標準測試壓力確定模塊，用于基于第一樣本電芯在不同測試電壓下的Hi-pot阻值與測試壓力的變化關系，確定標準測試壓力，其中，所述第一樣本電芯為合格電芯；

標準測試電壓確定模塊，用于基于第二樣本電芯在所述標準測試壓力下的Hi-pot阻值與測試電壓的變化關系，確定標準測試電壓，其中，所述第二樣本電芯的隔膜具有預設孔徑的針孔；

標準分選阻值確定模塊，用于基于第三樣本電芯在所述標準測試壓力和所述標準測試電壓時的Hi-pot阻值與所述第一樣本電芯在所述標準測試壓力和所述標準測試電壓時的Hi-pot阻值，確定標準分選阻值，其中，所述第三樣本電芯摻雜有預設類型的金屬顆粒物；

篩選模塊，用于使用所述標準測試壓力、所述標準測試電壓和所述標準分選阻值對待檢電芯進行篩選。

第三方面，本發明實施例還提供了一種電池篩選設備，該設備包括：

一個或多個處理器；

存儲裝置，用于存儲一個或多個程序；

當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行，使得所述一個或多個處理器實現本發明任意實施例所述的電池篩選方法。