[發明專利]一種電池篩選方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011454583.7
• 申請日: 2020-12-10
• 公開（公告）號: CN112505560B
• 公開（公告）日: 2023-05-30
• 發明（設計）人: 閆俊杰;王成云;宋鵬元;何巍;杜金田;庫志新
• 申請（專利權）人: 湖北億緯動力有限公司
• 主分類號: G01R31/385
• 分類號: G01R31/385;G01R35/00
• 代理公司: 北京品源專利代理有限公司 11332
• 代理人: 孟金喆

1.一種電池篩選方法，其特征在于，包括：

基于第一樣本電芯在不同測試電壓下的Hi-pot阻值與測試壓力的變化關系，確定標準測試壓力，其中，所述第一樣本電芯為合格電芯；

基于第二樣本電芯在所述標準測試壓力下的Hi-pot阻值與測試電壓的變化關系，確定標準測試電壓，其中，所述第二樣本電芯的隔膜具有預設孔徑的針孔；

基于第三樣本電芯在所述標準測試壓力和所述標準測試電壓時的Hi-pot阻值與所述第一樣本電芯在所述標準測試壓力和所述標準測試電壓時的Hi-pot阻值，確定標準分選阻值，其中，所述第三樣本電芯摻雜有預設類型的金屬顆粒物；

使用所述標準測試壓力、所述標準測試電壓和所述標準分選阻值對待檢電芯進行篩選。

2.根據權利要求1所述的電池篩選方法，其特征在于，所述基于第一樣本電芯在不同測試電壓下的Hi-pot阻值與測試壓力的變化關系，確定標準測試壓力，包括：

確定預設數量的測試電壓；

在每個所述測試電壓下分別使用梯度增加的測試壓力檢測第一樣本電芯的Hi-pot阻值；

確定各所述測試電壓下所述Hi-pot阻值穩定時的臨界壓力；

基于最大所述臨界壓力和所述電芯的壽命終結膨脹力確定標準測試壓力，其中，所述標準測試壓力大于最大所述臨界壓力且小于所述壽命終結膨脹力。

3.根據權利要求1所述的電池篩選方法，其特征在于，所述基于第二樣本電芯在所述標準測試壓力下的Hi-pot阻值與測試電壓的變化關系，確定標準測試電壓，包括：

確定預設數量的測試電壓；

在每個所述測試電壓下分別使用所述標準測試壓力檢測預設數量的第二樣本電芯的Hi-pot阻值；

將全部所述第二樣本電芯的Hi-pot阻值均為擊穿阻值時對應的測試電壓確定為標準測試電壓。

4.根據權利要求3所述的電池篩選方法，其特征在于，所述在每個所述測試電壓下分別使用所述標準測試壓力檢測預設數量的第二樣本電芯的Hi-pot阻值，包括：

在每個所述測試電壓下，分別使用所述標準測試壓力檢測第一數量的第二樣本電芯的Hi-pot阻值、第二數量的第二樣本電芯的Hi-pot阻值以及第三數量的第二樣本電芯的Hi-pot阻值，其中，所述第一數量的所述第二樣本電芯的針孔均位于對應電芯的第一預設位置，所述第二數量的所述第二樣本電芯的針孔均位于對應電芯的第二預設位置，所述第三數量的所述第二樣本電芯的針孔均位于對應電芯的第三預設位置；

相應地，所述將全部所述第二樣本電芯的Hi-pot阻值均為擊穿阻值時對應的測試電壓確定為標準測試電壓，包括：

將全部所述第一數量的所述第二樣本電芯的Hi-pot阻值均為擊穿阻值、全部所述第二數量的所述第二樣本電芯的Hi-pot阻值均為擊穿阻值以及全部所述第三數量的所述第二樣本電芯的Hi-pot阻值均為擊穿阻值時對應的測試電壓確定為標準測試電壓。

5.根據權利要求1所述的電池篩選方法，其特征在于，所述基于第三樣本電芯在所述標準測試壓力和所述標準測試電壓時的Hi-pot阻值與所述第一樣本電芯在所述標準測試壓力和所述標準測試電壓時的Hi-pot阻值，確定標準分選阻值，包括：

對預設數量的所述第一樣本電芯分別施加所述標準測試壓力和所述標準測試電壓，得到第一Hi-pot電阻集；

對預設數量的所述第三樣本電芯分別施加所述標準測試壓力和所述標準測試電壓，得到第二Hi-pot電阻集；

將所述第一Hi-pot電阻集中的最小值作為分選阻值上限，將所述第二Hi-pot電阻集中的最大值作為分選阻值下限，確定標準分選阻值區間。