[發(fā)明專利]一種電路功能仿真測(cè)試方法、裝置、設(shè)備及可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011453187.2
• 申請(qǐng)日: 2020-12-11
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112464594B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-10-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李燈偉;李仁剛
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G06F30/33
• 分類號(hào): G06F30/33
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 張春輝

1.一種電路功能仿真測(cè)試方法，其特征在于，包括：

確定第一功能仿真中待插入斷點(diǎn)的仿真步驟，作為目標(biāo)步驟；其中，所述確定第一功能仿真中待插入斷點(diǎn)的仿真步驟，作為目標(biāo)步驟，包括：確定至少兩個(gè)當(dāng)前待仿真的電路以及對(duì)應(yīng)的功能仿真的執(zhí)行步驟；識(shí)別各所述仿真步驟中從上電開(kāi)始相同的步驟，作為所述目標(biāo)步驟；

在所述目標(biāo)步驟后插入狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn)；

若所述第一功能仿真的執(zhí)行過(guò)程中檢測(cè)到所述狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn)，暫停仿真并存儲(chǔ)當(dāng)前的執(zhí)行狀態(tài)信息；

若第二功能仿真中存在與所述第一功能仿真執(zhí)行條件相同的步驟，提取所述第一功能仿真中所述相同的步驟對(duì)應(yīng)的執(zhí)行狀態(tài)信息；

將所述執(zhí)行狀態(tài)信息作為第二電路中對(duì)應(yīng)步驟的執(zhí)行結(jié)果，執(zhí)行所述第二電路的功能仿真中的下一個(gè)仿真步驟。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路功能仿真測(cè)試方法，其特征在于，確定第一功能仿真中待插入斷點(diǎn)的仿真步驟，作為目標(biāo)步驟，包括：

確定所述第一功能仿真中所有的仿真步驟；

將所述所有的仿真步驟作為所述目標(biāo)步驟。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的電路功能仿真測(cè)試方法，其特征在于，所述若所述第一功能仿真的執(zhí)行過(guò)程中檢測(cè)到所述狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn)，暫停仿真并存儲(chǔ)當(dāng)前的執(zhí)行狀態(tài)信息，包括：

若所述第一功能仿真的執(zhí)行過(guò)程中檢測(cè)到所述狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn)，暫停仿真并存儲(chǔ)當(dāng)前的仿真代碼邏輯、當(dāng)前仿真時(shí)刻中所有信號(hào)的值以及仿真設(shè)置，作為所述執(zhí)行狀態(tài)信息。

4.一種電路功能仿真測(cè)試裝置，其特征在于，包括：

目標(biāo)步驟確定單元，用于確定第一功能仿真中待插入斷點(diǎn)的仿真步驟，作為目標(biāo)步驟；其中，所述目標(biāo)步驟確定單元包括：步驟對(duì)比子單元，用于確定至少兩個(gè)當(dāng)前待仿真的電路以及對(duì)應(yīng)的功能仿真的執(zhí)行步驟；步驟識(shí)別子單元，用于識(shí)別各所述仿真步驟中從上電開(kāi)始相同的步驟，作為所述目標(biāo)步驟；

斷點(diǎn)插入單元，用于在所述目標(biāo)步驟后插入狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn)；

狀態(tài)保護(hù)單元，用于若所述第一功能仿真的執(zhí)行過(guò)程中檢測(cè)到所述狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn)，暫停仿真并存儲(chǔ)當(dāng)前的執(zhí)行狀態(tài)信息；

狀態(tài)提取單元，用于若第二功能仿真中存在與所述第一功能仿真執(zhí)行條件相同的步驟，提取所述第一功能仿真中所述相同的步驟對(duì)應(yīng)的執(zhí)行狀態(tài)信息；

仿真重續(xù)單元，用于將所述執(zhí)行狀態(tài)信息作為第二電路中對(duì)應(yīng)步驟的執(zhí)行結(jié)果，執(zhí)行所述第二電路的功能仿真中的下一個(gè)仿真步驟。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電路功能仿真測(cè)試裝置，其特征在于，所述目標(biāo)步驟確定單元包括：

步驟確定子單元，用于確定所述第一功能仿真中所有的仿真步驟；

步驟判定子單元，用于將所述所有的仿真步驟作為所述目標(biāo)步驟。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的電路功能仿真測(cè)試裝置，其特征在于，所述狀態(tài)提取單元為第一信息提取單元，所述第一信息提取單元用于：若所述第一功能仿真的執(zhí)行過(guò)程中檢測(cè)到所述狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn)，暫停仿真并存儲(chǔ)當(dāng)前的仿真代碼邏輯、當(dāng)前仿真時(shí)刻中所有信號(hào)的值以及仿真設(shè)置，作為所述執(zhí)行狀態(tài)信息。

7.一種電路功能仿真測(cè)試設(shè)備，其特征在于，包括：

存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序；

處理器，用于執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述電路功能仿真測(cè)試方法的步驟。

8.一種可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，所述可讀存儲(chǔ)介質(zhì)上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述電路功能仿真測(cè)試方法的步驟。