[發(fā)明專利]一種電路功能仿真測試方法、裝置、設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011453187.2 | 申請日: | 2020-12-11 |
| 公開(公告)號: | CN112464594B | 公開(公告)日: | 2022-10-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 李燈偉;李仁剛 | 申請(專利權(quán))人: | 蘇州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F30/33 | 分類號: | G06F30/33 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 張春輝 |
| 地址: | 215100 江蘇省蘇州市吳*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 電路 功能 仿真 測試 方法 裝置 設(shè)備 可讀 存儲 介質(zhì) | ||
本發(fā)明公開了一種電路功能仿真測試方法,該方法通過在對于硬件電路的功能仿真測試中插入狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn),在仿真的執(zhí)行過程中針對斷點(diǎn)位置存儲執(zhí)行狀態(tài)信息實(shí)現(xiàn)斷點(diǎn)狀態(tài)保護(hù),以便于后續(xù)其它功能仿真過程可以依據(jù)該保護(hù)的斷點(diǎn)狀態(tài)對執(zhí)行狀態(tài)信息修改仿真信號條件后繼續(xù)仿真,無需重復(fù)執(zhí)行相同的仿真步驟,從而可以減少仿真過程的整體實(shí)現(xiàn)資源占用以及時(shí)間占用。本發(fā)明還公開了一種電路功能仿真測試裝置、設(shè)備及可讀存儲介質(zhì),具有相應(yīng)的技術(shù)效果。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及硬件電路技術(shù)領(lǐng)域,特別是涉及一種電路功能仿真測試方法、裝置、設(shè)備及可讀存儲介質(zhì)。
背景技術(shù)
為了保障硬件電路的正常功能運(yùn)行,常常需要對硬件電路進(jìn)行功能仿真。
在硬件電路仿真中,對于不同功能的仿真都要按照執(zhí)行步驟完整執(zhí)行,而實(shí)際在實(shí)施過程中發(fā)現(xiàn),針對所需的仿真過程的執(zhí)行過程,其時(shí)間和仿真資源的占用較多,特別在遇到大型工程的仿真和后端仿真時(shí),仿真會更慢,其所用時(shí)間和所用資源尤為明顯。
綜上所述,如何減少對于硬件電路的功能仿真對于時(shí)間以及資源的占用,同時(shí)保障可靠的功能仿真結(jié)果,是目前本領(lǐng)域技術(shù)人員急需解決的技術(shù)問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種電路功能仿真測試方法、裝置、設(shè)備及可讀存儲介質(zhì),可以減少對于硬件電路的功能仿真對于時(shí)間以及資源的占用,同時(shí)保障可靠的功能仿真結(jié)果。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明提供如下技術(shù)方案:
一種電路功能仿真測試方法,包括:
確定第一功能仿真中待插入斷點(diǎn)的仿真步驟,作為目標(biāo)步驟;
在所述目標(biāo)步驟后插入狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn);
若所述第一功能仿真的執(zhí)行過程中檢測到所述狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn),暫停仿真并存儲當(dāng)前的執(zhí)行狀態(tài)信息;
若第二功能仿真中存在與所述第一功能仿真執(zhí)行條件相同的步驟,提取所述第一功能仿真中所述相同的步驟對應(yīng)的執(zhí)行狀態(tài)信息;
將所述執(zhí)行狀態(tài)信息作為所述第二電路中對應(yīng)步驟的執(zhí)行結(jié)果,執(zhí)行所述第二電路的功能仿真中的下一個(gè)仿真步驟。
可選地,確定第一功能仿真中待插入斷點(diǎn)的仿真步驟,作為目標(biāo)步驟,包括:
確定至少兩個(gè)當(dāng)前待仿真的電路以及對應(yīng)的功能仿真的執(zhí)行步驟;
識別各所述仿真步驟中從上電開始相同的步驟,作為所述目標(biāo)步驟。
可選地,確定第一功能仿真中待插入斷點(diǎn)的仿真步驟,作為目標(biāo)步驟,包括:
確定所述第一功能仿真中所有的仿真步驟;
將所述所有的仿真步驟作為所述目標(biāo)步驟。
可選地,所述若所述第一功能仿真的執(zhí)行過程中檢測到所述狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn),暫停仿真并存儲當(dāng)前的執(zhí)行狀態(tài)信息,包括:
若所述第一功能仿真的執(zhí)行過程中檢測到所述狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn),暫停仿真并存儲當(dāng)前的仿真代碼邏輯、當(dāng)前仿真時(shí)刻中所有信號的值以及仿真設(shè)置,作為所述執(zhí)行狀態(tài)信息。
一種電路功能仿真測試裝置,包括:
目標(biāo)步驟確定單元,用于以是否存在與其他功能仿真具有相同的執(zhí)行條件作為斷點(diǎn)插入規(guī)則,確定第一功能仿真中待插入斷點(diǎn)的仿真步驟,作為目標(biāo)步驟;
斷點(diǎn)插入單元,用于在所述目標(biāo)步驟后插入狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn);
狀態(tài)保護(hù)單元,用于若所述第一功能仿真的執(zhí)行過程中檢測到所述狀態(tài)保護(hù)斷點(diǎn),暫停仿真并存儲當(dāng)前的執(zhí)行狀態(tài)信息;
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