[發明專利]一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備

在審

• 申請號: 202011447717.2
• 申請日: 2020-12-11
• 公開（公告）號: CN112611765A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 鄧君;李川
• 申請（專利權）人: 東莞理工學院
• 主分類號: G01N23/02
• 分類號: G01N23/02;B25B11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本發明涉及一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備，包括底座，所述的底座上設置有質子發射器和樣品環境移動塊，所述的樣品環境移動塊上設置有樣品環境機構，所述的樣品環境機構和質子發射器之間設置有直管，所述的直管為具有收縮功能的軟管，直管一端固定連接在質子發射器的發射口，另一端固定連接有直管固接套，所述的直管固接套安裝在移動座上，所述的移動座與底座上設置的移動氣缸連接，且移動座與樣品環境移動塊之間通過開合結構連接；本發明將直管作出具有收拉功能的軟管，并且在直管與樣品環境機構對接的一端固定連接直管固接套，如此極大的簡化了質子發射器與樣品環境機構距離調整的難度。

技術領域

本發明涉及散列中子源領域，尤其涉及一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備。

背景技術

散裂中子源（CSNS）總體原理可簡要概括為：（1）使用質子加速器產生流強高、脈沖短的質子束流，（2）使用質子束流轟擊重金屬靶，產生高通量、短脈沖中子，（3）在靶站的周圍建造許多臺譜儀，測量中子脈沖打在樣品上產生的訊號，從而獲得樣品物質結構的信息；一般情況下，質子發射器是不移動的，其經過環形循環加速后，通過直管射入到樣品環境機構中，而樣品環境機構有時需要移動，有時還會調整其與質子發射器之間的距離，也就是需要調整直管的距離，現有的操作大多都是更換直管，在輻射環境中，操作復雜。

發明內容

本發明的目的是提供一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備，將直管作出具有收拉功能的軟管，并且在直管與樣品環境機構對接的一端固定連接直管固接套，如此極大的簡化了質子發射器與樣品環境機構距離調整的難度。

為了實現以上目的，本發明采用的技術方案為：一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備，包括底座，所述的底座上設置有質子發射器和樣品環境移動塊，所述的樣品環境移動塊上設置有樣品環境機構，所述的樣品環境機構和質子發射器之間設置有直管，所述的直管為具有收縮功能的軟管，直管一端固定連接在質子發射器的發射口，另一端固定連接有直管固接套，所述的直管固接套安裝在移動座上，所述的移動座與底座上設置的移動氣缸連接，且移動座與樣品環境移動塊之間通過開合結構連接。

優選的，所述的移動座和質子發射器的外殼上均通過支架設置有與直管配合的直管支撐板，且兩個直管支撐板上表面的高度一致。

優選的，所述的樣品環境機構包括由下板、筒體和上板組成的樣品管，所述的下板、筒體和上板均為可拆卸結構，且下板和上板固定設置有可插入到筒體壁內的環形插塊，所述的下板通過支架設置在樣品環境移動塊上，所述的筒體的側面開設有穿透口，所述的穿透口與直管對接，所述的下板上設置有裝料夾持裝置，所述的上板上設置有壓料裝置，所述的壓料裝置包括設置在上板的下壓架，所述的下壓架上設置有豎直走向的電動伸縮桿，所述的電動伸縮桿連接有穿過上板并與上板密封配合的下壓桿，所述的下壓桿下方連接有下壓塊，所述的下壓塊下方設置有下壓卡緊氣囊，所述的下壓卡緊氣囊連接到氣動組件，所述的上板上還設置有真空泵，且真空泵與樣品管內腔連通。

優選的，所述的電動伸縮桿通過硬塑材料的聯軸器與下壓桿連接，所述的下壓塊上嵌入有下壓電磁鐵，所述的下壓塊為硬塑材質，所述的下壓桿的下端設置有與下壓電磁鐵套接的下壓套，且下壓套與下壓電磁鐵磁性配合。

優選的，所述的聯軸器的外側設置有螺紋，所述的下壓架上設置有兩個水平走向且氣缸頭相向設置的下壓卡位氣缸，所述的下壓卡位氣缸的氣缸推桿連接有下壓卡位弧塊，且下壓卡位弧塊的內側設置有內螺紋，此內螺紋與聯軸器外側的螺紋配合。

優選的，所述的上板上還設置有將其貫穿的穿線管，所述的穿線管的下部密封套接有穿線密封套，且穿線密封套固定連接有剛性材質的氣管和線管，且氣管和線管的另一端均固定在下壓塊上，下壓電磁鐵的導線穿過線管并從穿線管穿出，下壓卡緊氣囊的氣道與氣管連通，且氣管連通穿出穿線管的通氣軟管，所述的通氣軟管與設置在下壓架上的氣囊氣泵連通。

優選的，所述的筒體的外側通過螺紋配合有拆卸螺桿，且拆卸螺桿的端部為光滑桿，并能夠穿入到環形插塊內。