[發明專利]一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備

在審

• 申請號: 202011447717.2
• 申請日: 2020-12-11
• 公開（公告）號: CN112611765A
• 公開（公告）日: 2021-04-06
• 發明（設計）人: 鄧君;李川
• 申請（專利權）人: 東莞理工學院
• 主分類號: G01N23/02
• 分類號: G01N23/02;B25B11/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備，包括底座（1），所述的底座（1）上設置有質子發射器（54）和樣品環境移動塊（52），所述的樣品環境移動塊（52）上設置有樣品環境機構（53），所述的樣品環境機構（53）和質子發射器（54）之間設置有直管（55），其特征在于，所述的直管（55）為具有收縮功能的軟管，直管（55）一端固定連接在質子發射器（54）的發射口，另一端固定連接有直管固接套（59），所述的直管固接套（59）安裝在移動座（57）上，所述的移動座（57）與底座（51）上設置的移動氣缸（56）連接，且移動座（57）與樣品環境移動塊（52）之間通過開合結構連接。

2.根據權利要求1所述的一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備，其特征在于，所述的移動座（57）和質子發射器（54）的外殼上均通過支架設置有與直管（55）配合的直管支撐板（58），且兩個直管支撐板（58）上表面的高度一致。

3.根據權利要求1所述的一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備，其特征在于，所述的樣品環境機構包括由下板（1）、筒體（2）和上板（3）組成的樣品管，所述的下板（1）、筒體（2）和上板（3）均為可拆卸結構，且下板（1）和上板（3）固定設置有可插入到筒體（2）壁內的環形插塊（4），所述的下板（1）通過支架設置在樣品環境移動塊（52）上，所述的筒體（2）的側面開設有穿透口（5），所述的穿透口（5）與直管（55）對接，所述的下板（1）上設置有裝料夾持裝置（6），所述的上板（3）上設置有壓料裝置（7），所述的壓料裝置（7）包括設置在上板的下壓架（21），所述的下壓架（21）上設置有豎直走向的電動伸縮桿（22），所述的電動伸縮桿（22）連接有穿過上板（3）并與上板（3）密封配合的下壓桿（23），所述的下壓桿（23）下方連接有下壓塊（25），所述的下壓塊（25）下方設置有下壓卡緊氣囊（27），所述的下壓卡緊氣囊（27）連接到氣動組件，所述的上板（3）上還設置有真空泵（8），且真空泵（8）與樣品管內腔連通。

4.根據權利要求3所述的一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備，其特征在于，所述的電動伸縮桿（22）通過硬塑材料的聯軸器（28）與下壓桿（23）連接，所述的下壓塊（25）上嵌入有下壓電磁鐵（26），所述的下壓塊為硬塑材質，所述的下壓桿（23）的下端設置有與下壓電磁鐵（26）套接的下壓套（24），且下壓套（24）與下壓電磁鐵（26）磁性配合。

5.根據權利要求4所述的一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備，其特征在于，所述的聯軸器（28）的外側設置有螺紋，所述的下壓架（21）上設置有兩個水平走向且氣缸頭相向設置的下壓卡位氣缸（29），所述的下壓卡位氣缸（29）的氣缸推桿連接有下壓卡位弧塊（30），且下壓卡位弧塊（30）的內側設置有內螺紋，此內螺紋與聯軸器（28）外側的螺紋配合。

6.根據權利要求4所述的一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備，其特征在于，所述的上板（3）上還設置有將其貫穿的穿線管（31），所述的穿線管（31）的下部密封套接有穿線密封套（32），且穿線密封套（32）固定連接有剛性材質的氣管（33）和線管（34），且氣管（33）和線管（34）的另一端均固定在下壓塊（25）上，下壓電磁鐵（26）的導線穿過線管（34）并從穿線管（31）穿出，下壓卡緊氣囊（27）的氣道與氣管（33）連通，且氣管（33）連通穿出穿線管（31）的通氣軟管（35），所述的通氣軟管（35）與設置在下壓架（21）上的氣囊氣泵（37）連通。

7.根據權利要求3所述的一種應用中子穿透打靶的材料性能測試設備，其特征在于，所述的筒體（2）的外側通過螺紋配合有拆卸螺桿（10），且拆卸螺桿（10）的端部為光滑桿，并能夠穿入到環形插塊（4）內。