[發明專利]杠桿式測試導通裝置

在審

• 申請號: 202011446546.1
• 申請日: 2020-12-11
• 公開（公告）號: CN112666492A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: 劉會龍;陳創;馬廷富;操輝;鄧李軍
• 申請（專利權）人: 深圳市歐米加智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/54
• 分類號: G01R31/54;G01R1/04;G01R1/073
• 代理公司: 深圳市舜立知識產權代理事務所(普通合伙) 44335
• 代理人: 侯藝

本發明公開了一種杠桿式測試導通裝置，包括用于與測試設備固定的基座、設于所述基座上端的導向連接座、穿設于所述基座和導向連接座中的微型探針組件以及與所述微型探針組件電連接的信號轉接PCB板，所述導向連接座的上端面具有供所述微型探針組件的上端穿出的開口所述信號轉接PCB板與所述微型探針組件的下端連接；還包括一具有上部開口的底盒以及一設于所述底盒內的上頂杠桿機構，所述底盒的上端與所述基座的下端連接，所述上頂杠桿機構包括設于所述底盒內的一側的能夠繞自身軸心轉動的轉軸、設于所述轉軸上的固定架以及向上穿設于所述底盒上位于所述固定架的內側的部分的頂桿，所述信號轉接PCB板相應于所述固定架的部分固定于所述固定架上。

技術領域

本發明涉及電子部件測試導通領域，特別涉及一種杠桿式測試導通裝置。

背景技術

在聚合物電池等電子部件模塊制造工序中，往往需要對相應的電子部件(例如3C電池或其他需測試的電子部件)進行導通檢測等過程，這通常需要采用測試設備通過測試導通裝置與電子部件的接觸電極對應連接，由測試設備讀取相關的數據。

傳統的測試導通裝置通常采用彈片式微型探針組件作為導通介質，而彈片式微型探針包括一體成型的第一接觸部、彈性部以及第二接觸部，第一接觸部與測試設備電連接，第二接觸部與被測試的電子部件電連接，彈性部位于所述第一接觸部及第二接觸部之間。在對被測試的電子部件進行導通測試時，被測試的電子部件輕壓于所述彈片式微型探針的第二接觸部上，所述彈片式微型探針的彈性部由若干“S”狀的彈性片組成，其使得所述第二接觸部向上伸以緊密與所述被測試的電子部件接觸，保證接觸穩定性。然而，彈片式微型探針在經過數次壓縮后易發生形變，從而導致回彈性較差，機械壽命大大地衰減；若改變微型探針的結構，使其不具有彈性部或者具有微小的彈性，這樣雖然可以解決微型探針的形變問題、提高其機械壽命，卻無法保證其與被測試的電子部件的接觸穩定性。因此，無何能夠提高微型探針的機械壽命又能夠保證其與被測試的電子部件的接觸穩定性是目前亟待解決解決的技術問題。

發明內容

針對上述現有技術的不足，本發明所要解決的技術問題是：提供了一種能夠增加微型探針組件機械壽命且能夠與被測試的電子部件穩定接觸的杠桿式測試導通裝置。

為解決上述技術問題，本發明采用的一個技術方案是：提供一種杠桿式測試導通裝置，包括用于與測試設備固定的基座、設于所述基座上端的導向連接座、穿設于所述基座和導向連接座中的微型探針組件以及與所述微型探針組件電連接的信號轉接PCB板，所述導向連接座的上端面具有供所述微型探針組件的上端穿出的開口，所述信號轉接PCB板與所述微型探針組件的下端連接；還包括一具有上部開口的底盒以及一設于所述底盒內的上頂杠桿機構，所述底盒的上端與所述基座的下端連接，所述上頂杠桿機構包括設于所述底盒內的一側的能夠繞自身軸心轉動的轉軸、設于所述轉軸上的固定架以及向上穿設于所述底盒上位于所述固定架的內側的部分的頂桿，所述信號轉接PCB板相應于所述固定架的部分固定于所述固定架上，所述信號轉接PCB板相應于所述頂桿的部分與所述頂桿的上端連接以能夠在所述頂桿的帶動下在所述基座和導向連接座中上下移動。

進一步的，在初始狀態下，所述微型探針組件的上端面與所述導向連接座的上端齊平或者低于所述導向連接座的上端面。

進一步的，所述固定架包括一套設于所述轉軸上以能夠隨其轉動的底座以及設于所述底座上端的固定槽座，所述固定槽座的寬度小于所述信號轉接PCB的寬度，所述信號轉接PCB板上相應于所述固定槽座的部分固定于所述固定槽座中。

進一步的，所述固定槽座的橫截面呈U形，該U形的固定槽座朝向所述信號轉接PCB板的方向和遠離所述信號轉接PCB板的方向均具有與外界連通的開口。

進一步的，還包括兩第一自恢復彈簧，所述兩第一自恢復彈簧的下端分別設于所述微型探針組件的底部的兩側，所述兩第一自恢復彈簧的上端向上穿過所述基座并與所述導向連接座的下端連接。