[發(fā)明專利]杠桿式測試導(dǎo)通裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011446546.1
• 申請日: 2020-12-11
• 公開（公告）號: CN112666492A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 劉會龍;陳創(chuàng);馬廷富;操輝;鄧李軍
• 申請（專利權(quán)）人: 深圳市歐米加智能科技有限公司
• 主分類號: G01R31/54
• 分類號: G01R31/54;G01R1/04;G01R1/073
• 代理公司: 深圳市舜立知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44335
• 代理人: 侯藝

1.一種杠桿式測試導(dǎo)通裝置，包括用于與測試設(shè)備固定的基座、設(shè)于所述基座上端的導(dǎo)向連接座、穿設(shè)于所述基座和導(dǎo)向連接座中的微型探針組件以及與所述微型探針組件電連接的信號轉(zhuǎn)接PCB板，所述導(dǎo)向連接座的上端面具有供所述微型探針組件的上端穿出的開口，其特征在于：所述信號轉(zhuǎn)接PCB板與所述微型探針組件的下端連接；還包括一具有上部開口的底盒以及一設(shè)于所述底盒內(nèi)的上頂杠桿機構(gòu)，所述底盒的上端與所述基座的下端連接，所述上頂杠桿機構(gòu)包括設(shè)于所述底盒內(nèi)的一側(cè)的能夠繞自身軸心轉(zhuǎn)動的轉(zhuǎn)軸、設(shè)于所述轉(zhuǎn)軸上的固定架以及向上穿設(shè)于所述底盒上位于所述固定架的內(nèi)側(cè)的部分的頂桿，所述信號轉(zhuǎn)接PCB板相應(yīng)于所述固定架的部分固定于所述固定架上，所述信號轉(zhuǎn)接PCB板相應(yīng)于所述頂桿的部分與所述頂桿的上端連接以能夠在所述頂桿的帶動下在所述基座和導(dǎo)向連接座中上下移動。

2.如權(quán)利要求1所述的杠桿式測試導(dǎo)通裝置，其特征在于：在初始狀態(tài)下，所述微型探針組件的上端面與所述導(dǎo)向連接座的上端齊平或者低于所述導(dǎo)向連接座的上端面。

3.如權(quán)利要求1所述的杠桿式測試導(dǎo)通裝置，其特征在于：所述固定架包括一套設(shè)于所述轉(zhuǎn)軸上以能夠隨其轉(zhuǎn)動的底座以及設(shè)于所述底座上端的固定槽座，所述固定槽座的寬度小于所述信號轉(zhuǎn)接PCB的寬度，所述信號轉(zhuǎn)接PCB板上相應(yīng)于所述固定槽座的部分固定于所述固定槽座中。

4.如權(quán)利要求3所述的杠桿式測試導(dǎo)通裝置，其特征在于：所述固定槽座的橫截面呈U形，該U形的固定槽座朝向所述信號轉(zhuǎn)接PCB板的方向和遠離所述信號轉(zhuǎn)接PCB板的方向均具有與外界連通的開口。

5.如權(quán)利要求1所述的杠桿式測試導(dǎo)通裝置，其特征在于：還包括兩第一自恢復(fù)彈簧，所述兩第一自恢復(fù)彈簧的下端分別設(shè)于所述微型探針組件的底部的兩側(cè)，所述兩第一自恢復(fù)彈簧的上端向上穿過所述基座并與所述導(dǎo)向連接座的下端連接。

6.如權(quán)利要求5所述的杠桿式測試導(dǎo)通裝置，其特征在于：在所述底盒上位于所述頂桿兩側(cè)的位置處分別設(shè)有第一定位孔，在所述信號轉(zhuǎn)接PCB板、微型探針組件、基座以及導(dǎo)向連接座上相應(yīng)于兩第一定位孔的位置處分別設(shè)置有兩第二定位孔、兩第三定位孔、兩第四定位孔以及兩第五定位孔，兩第一定位銷釘依次向下分別穿設(shè)于兩第五定位孔、兩第四定位孔、第三定位孔、第二定位孔以及第一定位孔中。

7.如權(quán)利要求6所述的杠桿式測試導(dǎo)通裝置，其特征在于：所述兩第一自恢復(fù)彈簧的下端分別設(shè)于兩第三定位孔的位置處并套于所述第一定位銷釘上，隨所述第一定位銷釘向上穿設(shè)于對應(yīng)的兩第四定位孔中，且所述兩第一自恢復(fù)彈簧冒出于所述基座的上端面以頂于所述導(dǎo)向連接座的下端面。

8.如權(quán)利要求1所述的杠桿式測試導(dǎo)通裝置，其特征在于：所述微型探針組件包括一針模以及豎向設(shè)于所述針模上的若干微型探針；所述微型探針包括一體成型的第一接觸部、第二接觸部、位于所述第一接觸部及第二接觸部之間的中部以及設(shè)于所述中部上的鏤空部，所述第一接觸部與所述信號轉(zhuǎn)接PCB板電連接、所述第二接觸部穿設(shè)于所述導(dǎo)向連接座上并與置于所述導(dǎo)向連接座上的被測試的電子部件的連接部電連接。

9.如權(quán)利要求8所述的杠桿式測試導(dǎo)通裝置，其特征在于：所述鏤空部從所述中部的一側(cè)方向貫穿所述中部以與外界連通，所述中部的另一側(cè)至所述鏤空部的寬度等于或大于所述第一接觸部的寬度。

10.如權(quán)利要求1至9中任一項所述的杠桿式測試導(dǎo)通裝置，其特征在于：所述導(dǎo)向連接座的上端面相應(yīng)于所述微型探針組件的位置處圍設(shè)有仿形壁，所述仿形壁之間的空間形成與所述被測的電子部件的連接部相匹配的仿形槽，在所述仿形槽的底部開設(shè)有供所述微型探針組件的上端向上穿出的穿孔。