[發(fā)明專利]薄膜晶體管陣列基板和包括其的數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011442557.2
• 申請(qǐng)日: 2020-12-08
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN113013156A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-06-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 孔敏碩;金素英;姜汶秀;尹載皓
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 樂(lè)金顯示有限公司
• 主分類號(hào): H01L27/02
• 分類號(hào): H01L27/02;H01L27/146;G01T1/24;G01T1/20;G01T1/161
• 代理公司: 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002
• 代理人: 張偉

本發(fā)明涉及薄膜晶體管陣列基板和包括其的數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備。薄膜晶體管陣列基板包括：基礎(chǔ)基板，其中限定了驅(qū)動(dòng)區(qū)域和非驅(qū)動(dòng)區(qū)域；至少一個(gè)讀出電路焊盤，其設(shè)置在所述非驅(qū)動(dòng)區(qū)域中并電連接到所述驅(qū)動(dòng)區(qū)域；至少一條讀出電路焊盤連接線，其將所述驅(qū)動(dòng)區(qū)域電連接到所述至少一個(gè)讀出電路焊盤；以及至少一條靜電感應(yīng)線，其中，所述至少一條靜電感應(yīng)線電連接到所述至少一條讀出電路焊盤連接線，并且其中，所述至少一條靜電感應(yīng)線具有比所述至少一條讀出電路焊盤連接線的電阻大的電阻。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種用于數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備的薄膜晶體管陣列基板和包括其的數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備，該薄膜晶體管陣列基板能夠?qū)⒂捎陟o電的流入而導(dǎo)致的缺陷減到最小。

背景技術(shù)

因?yàn)閄射線具有短波長(zhǎng)，所以X射線可以容易地穿過(guò)對(duì)象。X射線的透射率取決于對(duì)象的內(nèi)部密度。因此，可以通過(guò)檢測(cè)透射穿過(guò)對(duì)象的X射線的量來(lái)觀察對(duì)象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。

在醫(yī)學(xué)領(lǐng)域中使用的基于X射線的檢查方法之一是膠片打印方案(film printingscheme)。然而，在膠片打印方案中，為了檢查結(jié)果，拍攝圖像，并且然后打印膠片。因此，為了檢查結(jié)果需要花費(fèi)很長(zhǎng)時(shí)間。尤其是，在膠片打印方案中，在存儲(chǔ)和保存打印膠片方面存在一些困難。

使用薄膜晶體管的數(shù)字X射線檢測(cè)器(DXD)設(shè)備已經(jīng)被開(kāi)發(fā)并廣泛用于醫(yī)療領(lǐng)域。

DXD設(shè)備對(duì)透射穿過(guò)對(duì)象的X射線的透射率進(jìn)行檢測(cè)，并且基于透射率在顯示器上顯示對(duì)象的內(nèi)部狀態(tài)。

因此，數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備可以顯示對(duì)象的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，而無(wú)需使用額外的膠片和打印紙。此外，DXD設(shè)備可以在X射線拍攝之后立即實(shí)時(shí)檢查結(jié)果。

發(fā)明內(nèi)容

一種數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備檢測(cè)數(shù)字X射線檢測(cè)面板內(nèi)的電流以基于該電流實(shí)現(xiàn)圖像，并且該數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備包括響應(yīng)于光的光電PIN(P型半導(dǎo)體-本征型半導(dǎo)體-N型半導(dǎo)體)二極管和諸如驅(qū)動(dòng)光電PIN二極管的驅(qū)動(dòng)薄膜晶體管之類的各種類型的元件。

由于元件易受電擊(例如從外部引入的靜電)的影響，因此當(dāng)靜電被引入到元件中時(shí)，可能出現(xiàn)元件缺陷。

例如，諸如液晶顯示(LCD)設(shè)備或有機(jī)發(fā)光顯示(OLED)設(shè)備等顯示設(shè)備包括靜電放電(ESD)防護(hù)電路以解決靜電。

ESD防護(hù)電路可以進(jìn)行操作，使得ESD發(fā)生并且過(guò)電壓被施加到元件，過(guò)電壓通過(guò)連接到接地端子的ESD防護(hù)電路被放電。

因此，該顯示設(shè)備包括位于將數(shù)據(jù)焊盤連接到顯示區(qū)域的數(shù)據(jù)線或連接線處的ESD防護(hù)電路，以解決通過(guò)數(shù)據(jù)線或連接線引入的靜電。

在一些示例中，數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備包括讀出電路焊盤。讀出電路焊盤可以通過(guò)讀出線或連接線電連接到驅(qū)動(dòng)區(qū)域。

與顯示設(shè)備的數(shù)據(jù)焊盤相比，讀出電路焊盤可以用于施加信號(hào)，并且還可以用于從驅(qū)動(dòng)區(qū)域讀取作為數(shù)據(jù)信號(hào)的讀出信號(hào)。

在顯示設(shè)備在讀出電路焊盤與驅(qū)動(dòng)區(qū)域之間的讀出線或者連接線處包括ESD防護(hù)電路的一些情況下，由于信號(hào)干擾，在讀出信號(hào)值中可能出現(xiàn)噪聲。因此，優(yōu)選地，數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備可以不包括ESD防護(hù)電路。

在顯示設(shè)備可能在讀出電路焊盤區(qū)域中不包括ESD防護(hù)電路以避免信號(hào)干擾的一些情況下，可能不能解決由通過(guò)讀出電路焊盤區(qū)域引入的靜電所引起的元件缺陷。

因此，本發(fā)明的發(fā)明人發(fā)明了一種用于數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備的薄膜晶體管陣列基板和包括其的數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備，該薄膜晶體管陣列基板能夠?qū)⒂捎陟o電的流入而引起的缺陷減到最小并且將信號(hào)干擾減到最小。

本發(fā)明提供了一種用于數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備的薄膜晶體管陣列基板和數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備，能夠?qū)⒂梢氲阶x出電路焊盤或讀出線和數(shù)字X射線檢測(cè)器設(shè)備中的靜電引起的缺陷減到最小。