[發明專利]外殼、殼體溫度測量方法、終端及存儲介質在審
| 申請號: | 202011440835.0 | 申請日: | 2020-12-07 |
| 公開(公告)號: | CN114615360A | 公開(公告)日: | 2022-06-10 |
| 發明(設計)人: | 孫長宇;陳朝喜 | 申請(專利權)人: | 北京小米移動軟件有限公司 |
| 主分類號: | H04M1/02 | 分類號: | H04M1/02;G06F11/30;G01K7/16 |
| 代理公司: | 北京善任知識產權代理有限公司 11650 | 代理人: | 康艷青 |
| 地址: | 100085 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 外殼 殼體 溫度 測量方法 終端 存儲 介質 | ||
1.一種外殼,其特征在于,包括:
殼體,具有外表面和內表面;
測溫組件,貼合在所述殼體的內表面;
連接觸點,位于所述內表面,并通過連接線路與所述測溫組件連接,其中,所述連接觸點,用于將所述測溫組件檢測的殼體溫度,傳輸給與所述連接觸點連接的處理模組。
2.根據權利要求1所述的外殼,其特征在于,所述測溫組件包括:
薄膜溫敏電阻。
3.根據權利要求1或2所述的外殼,其特征在于,
所述測溫組件為多個;
多個所述測溫組件,分散貼合在所述內表面的不同位置處。
4.根據權利要求3所述的外殼,其特征在于,多個所述測溫組件與同一個所述連接觸點連接。
5.根據權利要求3所述的外殼,其特征在于,所述連接觸點為多個,一個所述測溫組件與一個所述連接觸點連接,且任意兩個所述測溫組件連接的連接觸點不同。
6.根據權利要求5所述的外殼,其特征在于,還包括貼合在所述殼體內表面的彈片;
所述彈片電連接在所述連接觸點與所述處理模組之間,用于所述連接觸點與所述處理模組之間導電。
7.根據權利要求6所述的外殼,其特征在于,所述彈片為多個,一個所述彈片與一個所述連接觸點連接,多個所述彈片均與所述處理模組連接。
8.一種終端,其特征在于,包括:
權利要求1-7任一項所述的外殼;以及
與所述外殼內的所述連接觸點連接的處理模組;
所述處理模組,用于處理從所述外殼獲取的殼體溫度。
9.一種殼體溫度測量方法,其特征在于,包括:
通過貼合在殼體內表面的測溫組件,采集所述殼體在多個位置處的溫度值;
基于位于所述殼體內表面的連接觸點,傳輸采集的所述多個位置處的溫度值至處理模組;其中,所述連接觸點,通過連接線路與所述測溫組件連接;
通過所述處理模組處理所述多個位置處的溫度值,獲取所述殼體的平均溫度。
10.根據權利要求9所述的殼體溫度測量方法,其特征在于,所述通過所述處理模組處理所述多個位置處的溫度值,獲取所述殼體的平均溫度,包括:
對每個所述位置處的溫度值加權,獲取每個所述位置處的溫度加權值;
基于每個所述位置處的所述溫度加權值,獲得所述平均溫度。
11.根據權利要求9所述的殼體溫度測量方法,其特征在于,所述處理模組處理所述多個位置處的溫度值,獲取所述殼體的平均溫度,包括:
獲取所述多個位置處的溫度值分別對應的電壓值、電流值;
基于所述多個位置處的電壓值、電流值,獲取多個位置處的平均電壓值和平均電流值;
基于所述平均電壓值和平均電流值,獲取所述平均溫度。
12.一種終端,其特征在于,包括:處理器和用于存儲能夠在處理器上運行的計算機程序的存儲器,其中,所述處理器用于運行所述計算機程序時,執行權利要求1至7所述方法的步驟。
13.一種計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于,所述計算機程序被處理器執行時實現權利要求1至7所述方法的步驟。
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