[發(fā)明專利]一種時(shí)序路徑的老化仿真分析方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011440411.4
• 申請(qǐng)日: 2020-12-11
• 公開（公告）號(hào): CN112417801A
• 公開（公告）日: 2021-02-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 郭超;董森華;陳彬;江榮貴;石華俊
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 北京華大九天軟件有限公司
• 主分類號(hào): G06F30/3308
• 分類號(hào): G06F30/3308;G06F119/04
• 代理公司: 北京德崇智捷知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11467
• 代理人: 王金雙

1.一種時(shí)序路徑的老化仿真分析方法，其特征在于，包括以下步驟：

1）基于時(shí)序路徑搭建電路網(wǎng)表；

2）在所述電路網(wǎng)表中的各個(gè)單元模塊之間插入第一電阻；

3）在所述電路網(wǎng)表中的各個(gè)單元模塊的輸出端插入第二電阻，并通過(guò)電容接地；

4）在所述電路網(wǎng)表中的各個(gè)單元模塊的輸入端插入第三電阻，并通過(guò)電壓激勵(lì)源接地；

5）進(jìn)行應(yīng)力仿真；

6）將應(yīng)力仿真結(jié)果代入時(shí)序仿真的網(wǎng)表，運(yùn)行SPICE時(shí)序仿真。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的時(shí)序路徑的老化仿真分析方法，其特征在于，所述電容的值分別為各個(gè)單元模塊各自的負(fù)載值。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的時(shí)序路徑的老化仿真分析方法，其特征在于，所述電壓激勵(lì)源，其通過(guò)用戶對(duì)各個(gè)單元模塊分別設(shè)定信號(hào)翻轉(zhuǎn)率、信號(hào)占空比與工作頻率進(jìn)行構(gòu)造。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的時(shí)序路徑的老化仿真分析方法，其特征在于，所述步驟5）進(jìn)一步包括以下步驟：

41）將所述第二電阻和第三電阻設(shè)定為極小值，所述極小值小于或等于0.01；

42）將第一電阻設(shè)定為極大值，所述極大值大于等于1.0e⁸；

43）運(yùn)行SPICE應(yīng)力仿真。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的時(shí)序路徑的老化仿真分析方法，其特征在于，所述步驟6）進(jìn)一步包括以下步驟：

51）將步驟5）中的應(yīng)力仿真的結(jié)果代入時(shí)序仿真；

52）將第三電阻和第二電阻設(shè)定為極大值，所述極大值大于或等于1.0e⁸；

53）將第一電阻設(shè)定為極小值，所述極小值小于或等于0.01。

6.一種電子設(shè)備，其特征在于，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器上儲(chǔ)存有在所述處理器上運(yùn)行的計(jì)算機(jī)程序，所述處理器運(yùn)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)執(zhí)行權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的時(shí)序路徑的老化仿真分析方法步驟。

7.一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)指令，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)指令運(yùn)行時(shí)執(zhí)行權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述的時(shí)序路徑的老化仿真分析方法的步驟。