[發明專利]用于檢測鉆石標記的方法和裝置以及計算機可讀介質

在審

• 申請號: 202011434655.1
• 申請日: 2017-10-24
• 公開（公告）號: CN112525856A
• 公開（公告）日: 2021-03-19
• 發明（設計）人: 杰弗里·哈羅德·馬登松;馬庫斯·德勒
• 申請（專利權）人: 陶朗分選有限責任公司
• 主分類號: G01N21/359
• 分類號: G01N21/359;G01N21/85;G01N21/87;G01N33/38;B07C5/342
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 劉瑞賢

公開了用于檢測鉆石標記的方法和裝置以及計算機可讀介質，具體涉及用于識別材料流中的部分析出的鉆石的存在的方法，包括：利用多波長光束照射材料，多波長光束包括至少一個單色SWIR激光束和至少一個IR散射/反散射激光束；捕獲至少一個單色SWIR激光束的一部分；基于至少一個單色SWIR激光束的一部分生成SWIR信號；捕獲至少一個IR散射/反散射激光束的第一部分；從至少一個IR散射/反散射激光束被材料散射之后的至少一個IR散射/反散射激光束的一部分中分離并此后捕獲至少一個IR散射/反散射激光束已經被材料反射之后的至少一個IR散射/反散射激光束的反射部分；基于SWIR信號、IR反射信號、以及IR散射信號的組合中的鉆石標記的存在，將材料分類成包括鉆石。

本申請是國際申請日2017年10月24日、國際申請號PCT/EP2017/077143的國際申請于2019年4月23日進入國家階段的申請號為201780065685.X、發明名稱為“一種用于檢測鉆石標記的方法和系統”的專利申請的分案申請，其全部內容結合于此作為參考。

技術領域

本發明涉及一種鉆石檢測，例如，檢測諸如角礫云橄巖等巖石顆粒流中的未析出的鉆石。

背景技術

在鉆石回收領域和提供鉆石回收技術的時候觀察到了未析出的鉆石和部分析出的鉆石的問題。未析出的鉆石是那些仍附著至諸如角礫云橄巖及其他礦物等巖石產物/顆粒/砂礫的鉆石。這些未析出的鉆石可能在選礦過程中被錯放，這可能是由于未析出的鉆石的密度低于DMS旋風分離器的分選點并且隨后被發送至尾礦，而導致未析出的鉆石在重介質選礦DMS過程中被錯放。

未析出的鉆石在循環過程中也可能受到損壞/壓壞或嚴重破壞，因為未析出的鉆石未報告至工廠的回收工段，而是報告至粉碎工段并且隨后由于材料的尺寸減小而被壓碎、以通過轉而損壞鉆石的CSS。這給處理沉淀物的采礦公司和針對鉆石的出售收各種稅的政府造成可防止和不必要的經濟損失。

現有技術中的鉆石檢測涉及激光束的激勵和對由鉆石的晶體結構散射的激光的測量。通過利用鉆石在其晶體結構內散射光的性質和“照射”或“照亮”鏡面反射周期的區域的效應，即使鉆石僅部分析出并且仍附著至砂礫，仍可以使用這種性質和效應作為區分鉆石與諸如角礫云橄巖及其他礦物等巖石產物或顆粒/砂礫的特征。該基本原理的缺點在于類似石英、一些方解石等其他傳輸的礦物也發生散射并且在分選工藝中可能被錯放，從而導致產量更高。

其他現有技術文獻描述了用于檢測材料流中的目標材料的其他方法，諸如EP2392414中描述的方法等，該方法涉及利用具有預定光譜帶寬的照明射材料流，所述預定的帶寬在被檢測的目標材料的光譜峰值的半最大值全寬度的附近；之后，捕獲并且分析來自照明物質的反射及散射光。

因此，本發明的目標是提出一種改進否則被損壞或丟失的部分析出的鉆石的回收的高速工藝。進一步的目標是改進鉆石檢測。進一步的目標是通過提供適合于各種各樣的礦石類型的合適鉆石回收技術而改進鉆石價值管理。

本發明的目標是克服或緩解上述所述至少一個問題。通過獨立權利要求中限定的方法實現了此目標。從從屬權利要求及下列描述中導出了本發明的有利實施方式。

令人驚訝的是，發現使用至少一個單色SWIR激光束能夠有利于以精確并且可靠的方式回收部分析出的鉆石。由于通常通過采用被檢測的目標材料的光譜峰值的半最大值全寬度選擇照射光束的帶寬，這種發現令人驚訝。其支撐的基本原理在于本領域技術人員了解到，為了實現對材料流中的鉆石的檢測的可靠性，需要一定的帶寬。本領域技術人員了解到，使用較小的帶寬導致方法產生丟失鉆石的風險，出于各種原因，這些鉆石可能與鉆石檢測器布置成檢測的礦石具有略微不同的光譜峰值。

發明內容

根據本發明，提供一種用于識別材料流中的部分析出的鉆石的存在的方法，所述方法包括以下步驟：

利用多波長光束照射材料，多波長光束包括至少一個單色SWIR激光束和至少一個IR散射/反散射激光束；