[發明專利]用于檢測鉆石標記的方法和裝置以及計算機可讀介質在審

申請號：	202011434655.1	申請日：	2017-10-24
公開（公告）號：	CN112525856A	公開（公告）日：	2021-03-19
發明（設計）人：	杰弗里·哈羅德·馬登松;馬庫斯·德勒	申請（專利權）人：	陶朗分選有限責任公司
主分類號：	G01N21/359	分類號：	G01N21/359;G01N21/85;G01N21/87;G01N33/38;B07C5/342
代理公司：	北京康信知識產權代理有限責任公司 11240	代理人：	劉瑞賢
地址：	德國米爾海***	國省代碼：	暫無信息
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摘要：
搜索關鍵詞：	用于檢測鉆石標記方法裝置以及計算機可讀介質
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【權利要求書】：

1.一種用于識別材料流中的部分析出的鉆石的存在的方法，所述方法包括以下步驟：

利用多波長光束照射材料，所述多波長光束包括至少一個單色SWIR激光束和至少一個IR散射/反散射激光束；

在所述單色SWIR激光束被所述材料反射和/或散射之后，捕獲所述至少一個單色SWIR激光束的一部分；

基于所捕獲的所述至少一個單色SWIR激光束的一部分生成SWIR信號；

在所述至少一個IR散射/反散射激光束被所述材料散射并且可選地被所述材料反射之后，捕獲所述至少一個IR散射/反散射激光束的第一部分；

從所述至少一個IR散射/反散射激光束已經被所述材料散射之后的所述至少一個IR散射/反散射激光束的一部分中分離并此后捕獲所述至少一個IR散射/反散射激光束已經被所述材料反射之后的所述至少一個IR散射/反散射激光束的反射部分；

基于所捕獲的所述至少一個IR散射/反散射激光束的所述第一部分生成IR散射信號；

基于所捕獲的所述至少一個IR散射/反散射激光束的所述反射部分生成IR反射信號；

基于所述SWIR信號、所述IR反射信號、以及所述IR散射信號的組合中的鉆石標記的存在，將所述材料分類成包括鉆石。

2.根據權利要求1所述的方法，還包括以下步驟：將所述至少一個IR散射/反散射激光束已經被所述材料散射之后的所述至少一個IR散射/反散射激光束的第一部分從所述至少一個IR散射/反散射激光束已經被所述材料反射之后的所述至少一個IR散射/反散射激光束的一部分中分離，并且之后，捕獲所述至少一個IR散射/反散射激光束的所述第一部分。

3.根據權利要求1或2所述的方法，其中，所述至少一個IR散射/反散射激光束是至少一個單色IR散射/反散射激光束。

4.根據權利要求1或2所述的方法，還包括以下步驟：過濾具有與入射光束相同的偏振的光，從而僅捕獲交叉偏振光。

5.根據權利要求1或2所述的方法，其中，分離所述IR散射/反散射激光束的反射部分的步驟是通過對來自反射光的散射光進行光學過濾而完成的。

6.根據權利要求1或2所述的方法，還包括以下步驟：分裂所述IR散射/反散射激光束。

7.根據權利要求1或2所述的方法，還包括以下步驟：通過將所述SWIR信號和所述IR散射信號分別除以所述IR反射信號而將所述SWIR信號和所述IR散射信號歸一化。

8.根據權利要求1或2所述的方法，還包括以下步驟：對所述材料流掃描所述多波長光束。

9.根據權利要求1或2所述的方法，其中，所述材料流包括至少一種具有部分析出的鉆石的巖石顆粒。

10.根據權利要求7所述的方法，還包括：使用歸一化的SWIR信號和歸一化的IR散射信號形成二維空間用于表示所述材料。

11.根據權利要求10所述的方法，其中，所述二維空間表示多種巖石顆粒。

12.根據權利要求10或11所述的方法，還包括：將所述二維空間內的像素分類成鉆石或其他材料類別。

13.根據權利要求1或2所述的方法，還包括：從所述材料流的輸送方向噴射包括被分類成鉆石的材料的物質以用于分選工藝。

14.一種包含程序指令的計算機可讀介質，所述程序指令在由處理器執行時使所述處理器執行根據權利要求1至13中任一項所述的方法。