[發(fā)明專利]一種利用溫度校準(zhǔn)基準(zhǔn)電壓的方法、系統(tǒng)及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011430210.6
• 申請(qǐng)日: 2020-12-09
• 公開（公告）號(hào): CN112578840B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 楊宏;呂堯明;黃海;程飛;吳清源
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 杭州米芯微電子有限公司
• 主分類號(hào): G05F1/567
• 分類號(hào): G05F1/567
• 代理公司: 杭州五洲普華專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 33260
• 代理人: 姚宇吉

1.一種利用溫度校準(zhǔn)基準(zhǔn)電壓的方法，其特征在于，包括：

溫度校準(zhǔn)，獲取溫度基準(zhǔn)T_REF、溫度基準(zhǔn)T_REF下的感溫電壓△Vbe_TREF、基準(zhǔn)ADC電壓值VADC_TREF，所述溫度校準(zhǔn)包括：晶圓測(cè)試過程中，測(cè)量得到溫度基準(zhǔn)T_REF；在芯片內(nèi)部存儲(chǔ)所述溫度基準(zhǔn)T_REF、基準(zhǔn)ADC電壓值VADC_TREF，所述基準(zhǔn)ADC電壓值VADC_TREF是將所述溫度基準(zhǔn)T_REF下的感溫電壓△Vbe_TREF經(jīng)過模數(shù)轉(zhuǎn)換得到的值；測(cè)量得到溫度基準(zhǔn)T_REF通過使用高精度數(shù)字溫度傳感器來(lái)獲取溫度基準(zhǔn)T_REF；

用模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC得到測(cè)量ADC電壓值VADC_T，所述測(cè)量ADC電壓值VADC_T是將當(dāng)前溫度T下的感溫電壓經(jīng)過測(cè)量轉(zhuǎn)換后的值；

根據(jù)所述測(cè)量ADC電壓值VADC_T、所述溫度基準(zhǔn)T_REF、所述基準(zhǔn)ADC電壓值VADC_TREF通過公式：T=VADC_T*T_REF/VADC_TREF，計(jì)算得出當(dāng)前溫度T；

根據(jù)所述溫度基準(zhǔn)T_REF下的感溫電壓△Vbe_TREF、所述當(dāng)前溫度T，通過公式：△Vbe_T=△Vbe_TREF+K*T，計(jì)算得到所述當(dāng)前溫度T下的感溫電壓△Vbe_T，K是根據(jù)生產(chǎn)工藝得到單位溫度變化時(shí)感溫電壓的變化值；

根據(jù)所述當(dāng)前溫度T下的感溫電壓△Vbe_T、所述測(cè)量ADC電壓值VADC_T，通過公式：△Vbe_T=VADC_T*VREF/2^15, 計(jì)算出基準(zhǔn)電壓VREF的值。

2.如權(quán)利要求1所述的利用溫度校準(zhǔn)基準(zhǔn)電壓的方法，其特征在于，所述用模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC得到測(cè)量ADC電壓值VADC_T是通過芯片內(nèi)部的模數(shù)轉(zhuǎn)換器進(jìn)行。

3.如權(quán)利要求1所述的利用溫度校準(zhǔn)基準(zhǔn)電壓的方法，其特征在于，所述溫度基準(zhǔn)T_REF和所述當(dāng)前溫度T的單位采用開爾文度表示。

4.如權(quán)利要求1所述的利用溫度校準(zhǔn)基準(zhǔn)電壓的方法，其特征在于，所述計(jì)算出基準(zhǔn)電壓VREF的值被重新設(shè)置為芯片模數(shù)轉(zhuǎn)換器ADC的參考電壓。