[發明專利]一種利用溫度校準基準電壓的方法、系統及存儲介質

有效

• 申請號: 202011430210.6
• 申請日: 2020-12-09
• 公開（公告）號: CN112578840B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 楊宏;呂堯明;黃海;程飛;吳清源
• 申請（專利權）人: 杭州米芯微電子有限公司
• 主分類號: G05F1/567
• 分類號: G05F1/567
• 代理公司: 杭州五洲普華專利代理事務所(特殊普通合伙) 33260
• 代理人: 姚宇吉

本發明公開了一種利用溫度校準基準電壓的方法、系統及存儲介質，涉及校準方法的技術領域，其中方法包括獲取溫度基準T_REF、溫度基準T_REF下的感溫電壓△Vbe_TREF、基準ADC電壓值VADC_TREF；用模數轉換器ADC測量當前溫度T下的感溫電壓△Vbe_T，得到測量ADC電壓值VADC_T，根據測量ADC電壓值VADC_T、溫度基準T_REF、基準ADC電壓值VADC_TREF通過公式：T=VADC_T*T_REF/VADC_TREF，計算得出當前溫度T；根據溫度基準T_REF下的感溫電壓△Vbe_TREF、當前溫度T，計算得到當前溫度T下的感溫電壓△Vbe_T，并最終計算出基準電壓VREF的值，本發明具有不需要對環境溫度做特殊要求、得到的基準電壓VREF值相對準確、基準電壓校準流程較為簡便、成本較低的優點。

【技術領域】

本發明涉及芯片的技術領域，特別是涉及一種利用溫度校準基準電壓的方法、系統及存儲介質。

【背景技術】

在很多應用中，需要用到比較準確的電壓或電流基準，比如說模數轉換器ADC的基準。在芯片的實際生產過程中，由于工藝的波動，生產出來的芯片基準電壓一定是波動的，這就需要生產校準，經典的方式是利用高精度的電壓表對基準電壓進行測量，在實際測量過程中，對測量環境較為苛刻，需要相對較長時間穩定的電壓，而且還需要穩定的環境溫度；而且有時候基準電壓在芯片內部，沒有外面的引腳，這樣就不能用直接測量電壓的方式進行測量。

【發明內容】

本發明為了克服背景技術中提到的不足，提出一種利用溫度校準基準電壓的方法、系統及存儲介質。

為實現上述目的，本發明提出了一種利用溫度校準基準電壓的方法，包括：

溫度校準，獲取溫度基準T_REF、溫度基準T_REF下的感溫電壓△Vbe_TREF、基準ADC電壓值VADC_TREF；用模數轉換器ADC得到測量ADC電壓值VADC_T，所述測量ADC電壓值VADC_T是將當前溫度T下的感溫電壓經過測量轉換后的值；根據所述測量ADC電壓值VADC_T、所述溫度基準T_REF、所述基準ADC電壓值VADC_TREF通過公式：T=VADC_T*T_REF/VADC_TREF，計算得出當前溫度T；根據所述溫度基準T_REF下的感溫電壓△Vbe_TREF、所述當前溫度T，通過公式：△Vbe_T=△Vbe_TREF+K*T，計算得到所述當前溫度T下的感溫電壓△Vbe_T，K是根據生產工藝得到單位溫度變化時感溫電壓的變化值；根據所述當前溫度T下的感溫電壓△Vbe_T、所述測量ADC電壓值VADC_T，通過公式：△Vbe_T=VADC_T*VREF/2^15, 計算出基準電壓VREF的值。

進一步地，所述溫度校準包括：晶圓測試過程中，測量得到溫度基準T_REF；在芯片內部存儲所述溫度基準T_REF、基準ADC電壓值VADC_TREF，所述基準ADC電壓值VADC_TREF是將所述溫度基準T_REF下的感溫電壓△Vbe_TREF經過模數轉換得到的值。

進一步地，所述用模數轉換器ADC得到測量ADC電壓值VADC_T是通過芯片內部的模數轉換器進行。