[發明專利]一種箱體類異型孔的測量裝置及測量方法有效
| 申請號: | 202011421196.3 | 申請日: | 2020-12-08 |
| 公開(公告)號: | CN112504073B | 公開(公告)日: | 2022-06-24 |
| 發明(設計)人: | 劉楠;侯爵;吳荻 | 申請(專利權)人: | 貴州龍飛航空附件有限公司 |
| 主分類號: | G01B5/06 | 分類號: | G01B5/06;G01B5/14;G01B5/24;G01B5/00 |
| 代理公司: | 遵義浩嘉知識產權代理事務所(普通合伙) 52112 | 代理人: | 石文義 |
| 地址: | 561000 貴州*** | 國省代碼: | 貴州;52 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 箱體 異型 測量 裝置 測量方法 | ||
1.一種箱體類異型孔的測量方法,其特征在于:所述測量方法采用的測量裝置包括有高度標尺(1)、導軌底座(2)、第一游標(3)和第二游標(4),所述高度標尺(1)由具有第一刻度值的尺體(11)和支座(12)組成,所述導軌底座(2)設置呈長方體結構,在所述導軌底座(2)的上表面沿其長度方向設有與所述支座(12)相匹配的滑軌(21),所述高度標尺(1)通過支座(12)可拆卸地設置于導軌底座(2)中的滑軌(21)內,所述高度標尺(1)通過支座(12)可在所述滑軌(21)內左右移動;所述第一游標(3)和第二游標(4)的結構相同,并設置呈平行狀態,所述第一游標(3)和第二游標(4)均與所述高度標尺(1)中的尺體(11)可拆卸連接,并與高度標尺(1)中的尺體(11)相互垂直,構成L形結構,所述第一游標(3)和第二游標(4)通過高度標尺(1)可沿所述尺體(11)上下移動;在所述滑軌(21)的側面設有與所述高度標尺(1)中的尺體(11)相對應的第二刻度值,并在所述支座(12)上設有與滑軌(21)上第二刻度值相對應的第二副刻度值;在所述導軌底座(2)的底面沿其長度方向還設有與所述滑軌(21)相對應的減輕槽(22);其中所述第一游標(3)和第二游標(4)均由固定螺釘(5),連接滑套(6)、測量爪(7)、測量頭(8)和緊固螺釘(9)組成,所述測量爪(7)與連接滑套(6)設置為一體式結構,所述連接滑套(6)通過固定螺釘(5)與高度標尺(1)中的尺體(11)可拆卸連接,所述測量爪(7)通過固定螺釘(5)與連接滑套(6)的配合,可沿所述尺體(11)的表面上下移動,所述測量頭(8)設置呈圓錐結構,并在其前端還設有探針(81),所述測量頭(8)通過緊固螺釘(9)與遠離所述連接滑套(6)一側的測量爪(7)可拆卸連接;并在所述連接滑套(6)上設有與尺體(11)上第一刻度值相對應的第一副刻度值;
具體測量方法包括以下步驟:
(1)、將測量裝置搬運至待測零件處,利用設置于滑軌(21)內的支座(12),通過左右移動支座(12),使所述高度標尺(1)位于待測零件的正前方;然后通過上下移動連接滑套(6),分別使第一游標(3)和第二游標(4)找正待測量的異型孔,調整固定螺釘(5),使與連接滑套(6)固定,同時固定高度標尺(1);
(2)、用于對呈上下分布的異型孔高度間隔距離測量,將第一游標(3)和第二游標(4)中的測量頭(8)分別探入呈上下分布的異型孔Ⅰ及異型孔Ⅱ中,利用測量頭(8)前端的探針(81)可達到快速定位異型孔的幾何中心;利用高度標尺(1)中尺體(11)上所設置的第一刻度值,分別讀出第一游標(3)和第二游標(4)相對于底面的高度數值,該高度數值即為異型孔Ⅰ和異型孔Ⅱ相對于底面的高度,并計算異型孔Ⅰ和異型孔Ⅱ之間相對于底面的高度差,即為異型孔Ⅰ和異型孔Ⅱ之間的高度差,該高度即為異型孔Ⅰ和異型孔Ⅱ之間的高度間隔距離;
(3)、用于對呈左右分布的異型孔水平間隔距離測量,先將第一游標(3)或第二游標(4)探入異型孔Ⅰ或者是異型孔Ⅱ中,利用設置于滑軌(21)側面上的第二刻度值讀出第一水平數值,然后取出第一游標(3)或第二游標(4);同時移動支座(12),使所述高度標尺(1)位于待測零件中具有異型孔Ⅲ或者是異型孔Ⅳ的正前方;并將第一游標(3)或第二游標(4)探入異型孔Ⅲ或者是異型孔Ⅳ中,利用設置于滑軌(21)側面上的第二刻度值讀出第二水平數值,并計算第二水平數值與第一水平數值之間的差值,即為異型孔Ⅲ和異型孔Ⅰ或異型孔Ⅳ和異型孔Ⅱ之間的水平距離,該水平距離即為異型孔Ⅲ和異型孔Ⅰ或異型孔Ⅳ和異型孔Ⅱ之間的水平間隔距離;
(4)、用于對異型孔傾斜角度測量,將第一游標(3)或第二游標(4)中的測量頭(8)探入異型孔的頂部,利用高度標尺(1)中尺體(11)上所設置的第一刻度值,讀出其相對于底面的第一高度數值,采用相同步驟,在將測量頭(8)探入異型孔的底部,利用高度標尺(1)中尺體(11)上所設置的第一刻度值,讀出其相對于底面的第二高度數值,并計算第一高度數值與二高度數值之間的差值,即為異型孔的垂直高度;利用已知異型孔的厚度,即為其寬度,與所得垂直高度相比,即可計算出異型孔的傾斜角度。
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