[發明專利]一種箭形固相微萃取的氣態污染物的測試方法

在審

• 申請號: 202011418264.0
• 申請日: 2020-12-07
• 公開（公告）號: CN112798699A
• 公開（公告）日: 2021-05-14
• 發明（設計）人: 唐銘;王璐陽;丁莉;苑蕊;石安美;劉寧睿;張然;張秋雨;韓英;柳敏;王倩倩;張寅平
• 申請（專利權）人: 中國國家博物館;清華大學
• 主分類號: G01N30/02
• 分類號: G01N30/02;G01N30/72;G01N1/22
• 代理公司: 南京君陶專利商標代理有限公司 32215
• 代理人: 嚴海晨

1.一種箭形固相微萃取的氣態污染物測試方法，其特征是包括如下步驟：（1）老化；（2）采樣；（3）測試；（4）稀釋；（5）獲得標準曲線；（6）質譜圖分析；（7）吸附；（8）獲得分配系數；（9）獲得氣相濃度。

2.根據權利要求1所述的一種箭形固相微萃取的氣態污染物測試方法，其特征所述步驟（1）老化：使用老化裝置老化N個涂覆有X填料的箭形固相微萃取采樣器，老化溫度為100到300℃，老化時間為2到60分鐘，老化次數為1到10次；所述的填料為丙烯酸酯、聚二甲基硅氧烷、活性炭與聚二甲基硅氧烷復合填料或聚二甲基硅氧烷與二乙烯基苯復合填料中的一種。

3.根據權利要求1所述的一種箭形固相微萃取的氣態污染物測試方法，其特征所述步驟（2）采樣：使用步驟（1）老化后的N個涂覆有X填料的箭形固相微萃取采樣器，采集N個不同空間位置氣態污染物，采樣時間為2到240分鐘，獲得N個箭形固相微萃取樣品。

4.根據權利要求1所述的一種箭形固相微萃取的氣態污染物測試方法，其特征所述步驟（3）測試：使用氣相高分辨質譜對步驟（2）中的N個箭形固相微萃取樣品進行測試，獲得N張質譜圖。

5.根據權利要求1所述的一種箭形固相微萃取的氣態污染物測試方法，其特征所述步驟（4）稀釋：將P個化合物的標準品各自分別稀釋成B（B5）個濃度的標準使用液，獲得P個化合物各自的標準序列。

6.根據權利要求1所述的一種箭形固相微萃取的氣態污染物測試方法，其特征所述步驟（5）獲得標準曲線：使用氣相高分辨質譜測試步驟（4）中的P個化合物各自的標準序列，建立P個化合物各自質譜強度與含量的映射關系，獲得P個化合物各自的標準曲線。

7.根據權利要求1所述的一種箭形固相微萃取的氣態污染物測試方法，其特征所述步驟（6）質譜圖分析：使用步驟（5）獲得的P個化合物各自的標準曲線處理步驟（3）獲得的N張質譜圖，獲得N張質譜中各張質譜圖中P個化合物的含量。

8.根據權利要求1所述的一種箭形固相微萃取的氣態污染物測試方法，其特征所述步驟（7）吸附：使用標準氣體發生裝置分別準確發生P個化合物的W濃度的標準氣體，同時使用P個步驟（1）的涂覆有X填料的箭形固相微萃取采樣器分別吸附P個濃度為W的化合物的標準氣體，然后根據步驟（2）、（3）、（4）、（5）和（6）獲得P個涂覆有X填料的箭形固相微萃取采樣器上吸附的P個化合物的含量。

9.根據權利要求1所述的一種箭形固相微萃取的氣態污染物測試方法，其特征所述步驟（8）獲得分配系數：將步驟（7）中獲得的P個涂覆有X填料的箭形固相微萃取采樣器上吸附的P個化合物的含量，根據公式（1）獲得P個化合物各自的分配系數；

公式（1）

其中，M為涂覆有X填料的箭形固相微萃取上吸附的P個化合物的含量，K為P個化合物中每個化合物的分配系數，C_a為標準氣體發生裝置分別準確發生的P個化合物的標準氣體濃度(μg/m³)，V_fc為涂覆有X填料的箭形固相微萃取的X涂層的體積(m³)。

10.根據權利要求1所述的一種箭形固相微萃取的氣態污染物測試方法，其特征所述步驟（9）獲得氣相濃度：使用步驟（6）獲得的N張質譜中各張質譜圖中P個化合物的含量和步驟（8）獲得的P個化合物各自的分配系數，按照公式（1）即可獲得N張質譜圖中P個化合物各自的氣相濃度，實現氣相高分辨質譜的氣態污染物測試。