[發(fā)明專利]一種芯片封裝結(jié)構(gòu)及封裝方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011416545.2 | 申請日: | 2020-12-04 |
| 公開(公告)號: | CN112542433B | 公開(公告)日: | 2022-07-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王全龍;曹立強(qiáng);王國軍;戴風(fēng)偉 | 申請(專利權(quán))人: | 華進(jìn)半導(dǎo)體封裝先導(dǎo)技術(shù)研發(fā)中心有限公司 |
| 主分類號: | H01L23/367 | 分類號: | H01L23/367;H01L23/373;H01L23/473;H01L23/498;H01L23/31;H01L21/50;H01L21/56 |
| 代理公司: | 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11250 | 代理人: | 馬吉蘭 |
| 地址: | 214135 江蘇省無錫市新*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 芯片 封裝 結(jié)構(gòu) 方法 | ||
本發(fā)明提供一種芯片封裝結(jié)構(gòu)及封裝方法,芯片封裝結(jié)構(gòu)包括:第一基片,所述第一基片具有第一表面,所述第一基片中具有容納槽,所述容納槽朝向第一表面;位于所述容納槽中的芯片填充件,所述芯片填充件的側(cè)壁與所述容納槽的側(cè)壁之間的間隔區(qū)域?yàn)榈谝晃⒘鞯馈0研酒畛浼糜谌菁{槽中,芯片填充件的側(cè)壁可以通過第一微流道進(jìn)行散熱,芯片四周散熱效果較好,提高了芯片的可靠性。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種芯片封裝結(jié)構(gòu)及封裝方法。
背景技術(shù)
隨著電子產(chǎn)品多功能化和小型化的發(fā)展,高密度微電子組裝技術(shù)在新 一代電子產(chǎn)品上逐漸成為主流,在工業(yè)技術(shù)水平的發(fā)展下,人們對于電子 元件的散熱性能也提出了更為嚴(yán)格的要求。在芯片領(lǐng)域,芯片尺寸的不斷 減小,芯片集成度的不斷提高,封裝密度也越來越高,使得單位體積芯片 的功耗急劇增大,芯片的溫度急劇升高,導(dǎo)致芯片的可靠性降低,影響芯 片的正常工作,芯片的散熱問題已經(jīng)成為電子設(shè)備正常運(yùn)行的關(guān)鍵要素, 而微流道散熱是非常有效的解決方案。
現(xiàn)有技術(shù)中芯片封裝結(jié)構(gòu)的散熱能力較差。
發(fā)明內(nèi)容
因此,本發(fā)明要解決的技術(shù)問題在于克服現(xiàn)有技術(shù)中芯片微流道散熱 效果較差的問題,從而提供一種芯片封裝結(jié)構(gòu)及封裝方法。
本發(fā)明提供一種芯片封裝結(jié)構(gòu),包括:第一基片,所述第一基片具有 第一表面,所述第一基片中具有容納槽,所述容納槽朝向第一表面;位于 所述容納槽中的芯片填充件,所述芯片填充件的側(cè)壁與所述容納槽的側(cè)壁 之間的間隔區(qū)域?yàn)榈谝晃⒘鞯馈?/p>
可選的,還包括:支撐件,所述支撐件位于所述容納槽中且位于所述 芯片填充件背向第一表面的一側(cè);位于所述支撐件的側(cè)部且位于所述芯片 填充件與所述容納槽的底面之間的間隔區(qū)域?yàn)榈诙⒘鞯溃龅诙⒘?道與所述第一微流道貫通。
可選的,所述第一基片中還具有第三微流道,且所述第三微流道位于 所述第二微流道背向所述芯片填充件的一側(cè);所述芯片填充件中具有延伸 在部分厚度的芯片填充件中的第四微流道;所述第二微流道分別與第三微 流道和所述第四微流道連通。
可選的,所述芯片填充件包括芯片本體和位于芯片本體背向所述第一 表面一側(cè)的填充基片;所述第四微流道位于所述填充基片中且與所述芯片 本體間隔;所述支撐件與所述填充基片接觸。
可選的,還包括:位于所述芯片本體和所述填充基片之間的散熱層; 所述第四微流道位于所述填充基片中且與所述散熱層間隔,或者所述第四 微流道位于所述填充基片中且延伸至散熱層背向所述芯片本體一側(cè)的表 面。
可選的,所述散熱層的材料包括銀漿、導(dǎo)熱硅脂或石墨。
可選的,所述芯片填充件僅包括芯片本體;所述支撐件與所述芯片本 體的背面接觸;所述芯片本體包括芯片襯底和芯片器件層,所述芯片襯底 背向所述芯片器件層的表面為芯片本體的背面;所述第四微流道位于所述 芯片襯底中且與所述芯片器件層間隔。
可選的,所述芯片填充件包括芯片本體;所述芯片封裝結(jié)構(gòu)還包括: 朝向所述第一表面且與所述芯片本體電學(xué)連接的第一互連結(jié)構(gòu);轉(zhuǎn)接板, 所述轉(zhuǎn)接板位于所述第一互連結(jié)構(gòu)背向所述第一基片的一側(cè)表面;貫穿所 述轉(zhuǎn)接板的第一導(dǎo)電插塞,所述第一導(dǎo)電插塞通過所述第一互連結(jié)構(gòu)與所 述芯片本體電學(xué)連接。
可選的,還包括:若干個(gè)子封裝結(jié)構(gòu),每個(gè)子封裝結(jié)構(gòu)均包括第一基 片、芯片填充件、轉(zhuǎn)接板、第一互連結(jié)構(gòu)、第一導(dǎo)電插塞和第一微流道; 若干個(gè)子封裝結(jié)構(gòu)上下鍵合在一起,對于位于相鄰的兩個(gè)第一基板之間的 轉(zhuǎn)接板,所述轉(zhuǎn)接板的上表面和下表面均與第一基片鍵合。
可選的,每個(gè)子封裝結(jié)構(gòu)中的芯片填充件在垂直于若干子封裝結(jié)構(gòu)堆 疊的水平方向上相互錯(cuò)位。
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