[發(fā)明專利]激光切割面條紋深度的檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011413138.6 | 申請日： | 2020-12-04 |
| 公開（公告）號： | CN112648932A | 公開（公告）日： | 2021-04-13 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 馬帥;鄭星;王仕達;陳安意;楊琴 | 申請（專利權(quán)）人： | 武漢銳科光纖激光技術(shù)股份有限公司 |
| 主分類號： | G01B11/22 | 分類號： | G01B11/22;B23K26/38;B23K26/70;G06F17/14;G06T3/40;G06T3/60;G06T7/41 |
| 代理公司： | 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人： | 沈軍 |
| 地址： | 430000 湖北省*** | 國省代碼： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 激光 切割 條紋 深度 檢測 方法 | ||
本發(fā)明提供一種激光切割面條紋深度的檢測方法，包括：獲取切割面放大倍數(shù)≥100倍的完整圖像，并截取完整圖像的兩個橫向截面數(shù)據(jù)；對兩個橫向截面數(shù)據(jù)進行縱向連接，以得到波形數(shù)據(jù)；獲取波形數(shù)據(jù)的多個波峰值和多個波谷值，計算每個波峰值與相鄰的兩個波谷值的差值，并將較大的差值記為當前條紋的深度；獲取多個當前條紋的深度，并計算平均值，以得到激光切割面條紋的深度數(shù)據(jù)。本發(fā)明實施例提供的激光切割面條紋深度的檢測方法，通過對切割面的圖像進行放大，并截取截面數(shù)據(jù)，然后對截面數(shù)據(jù)進行算法處理，可將切割面的條紋深度信息提取出來，對激光切割面條紋形成了定量的描述，為激光切割面質(zhì)量客觀評價提供了依據(jù)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及激光切割面質(zhì)量評價技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種激光切割面條紋深度的檢測方法。
背景技術(shù)
激光切割技術(shù)被廣泛應(yīng)用于金屬和非金屬材料的加工中，其可大大減少加工時間、降低加工成本、提高工件質(zhì)量。激光切割技術(shù)涵蓋了光學、材料科學與工程、機械制造學、數(shù)控技術(shù)及電子技術(shù)等學科，屬于當前國內(nèi)外科技界和產(chǎn)業(yè)界共同關(guān)注的熱點。
激光切割切縫小，精度高，在激光應(yīng)用行業(yè)中，激光切割占了70％的應(yīng)用。高質(zhì)量的切割，切割后的工件可直接應(yīng)用于工業(yè)生產(chǎn)與制造、組裝等，從而節(jié)省了大量時間、材料以及成本。而當前激光切割質(zhì)量的評價主要是通過憑借人工經(jīng)驗來評價，切割面質(zhì)量缺乏定量及定性地描述。
因此，如何對激光切割面的質(zhì)量進行定量描述成為亟待解決的問題。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種激光切割面條紋深度的檢測方法，用以解決現(xiàn)有技術(shù)中激光切割面的質(zhì)量無法進行定量描述的缺陷，實現(xiàn)激光切割面條紋信息數(shù)據(jù)化。
本發(fā)明提供一種激光切割面條紋深度的檢測方法，包括：獲取切割面放大倍數(shù)≥100倍的完整圖像，并截取所述完整圖像的兩個橫向截面數(shù)據(jù)；對兩個所述橫向截面數(shù)據(jù)進行縱向連接，以得到波形數(shù)據(jù)；獲取所述波形數(shù)據(jù)的多個波峰值和多個波谷值，計算每個所述波峰值與相鄰的兩個所述波谷值的差值，并將較大的差值記為當前條紋的深度；獲取多個所述當前條紋的深度，并計算平均值，以得到激光切割面條紋的深度數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種激光切割面條紋深度的檢測方法，所述獲取切割面放大倍數(shù)≥100倍的完整圖像，并截取所述完整圖像的兩個橫向截面數(shù)據(jù)的步驟進一步包括：將放大后的局部圖像進行圖像拼接，以得到所述完整圖像，其中，所述完整圖像中試樣表面條紋的長度達到原表面條紋長度的80％及以上。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種激光切割面條紋深度的檢測方法，所述獲取所述波形數(shù)據(jù)的多個波峰值和多個波谷值，計算每個所述波峰值與相鄰的兩個所述波谷值的差值，并將較大的差值記為當前條紋的深度的步驟進一步包括：基于快速傅里葉變換計算所述波形數(shù)據(jù)的多個極大值和多個極小值，其每個極大值和每個極小值的計算公式為：
Pup＝{Di|Di+1≤Di,Di-1≤Di}；
Pdn＝{Di|Di+1≥Di,Di-1≥Di}；
其中，Pup為極大值，Pdn為極小值，D為橫向截面數(shù)據(jù)。
根據(jù)本發(fā)明提供的一種激光切割面條紋深度的檢測方法，所述獲取所述波形數(shù)據(jù)的多個波峰值和多個波谷值，計算每個所述波峰值與相鄰的兩個所述波谷值的差值，并將較大的差值記為當前條紋的深度的步驟進一步包括：過濾x軸上橫向閾值小于第一預設(shè)值的極值，以得到多個橫向閾值大于等于第一預設(shè)值的極值，所述極值的x軸坐標點的計算公式為：
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