[發明專利]激光切割面條紋深度的檢測方法

在審

• 申請號: 202011413138.6
• 申請日: 2020-12-04
• 公開（公告）號: CN112648932A
• 公開（公告）日: 2021-04-13
• 發明（設計）人: 馬帥;鄭星;王仕達;陳安意;楊琴
• 申請（專利權）人: 武漢銳科光纖激光技術股份有限公司
• 主分類號: G01B11/22
• 分類號: G01B11/22;B23K26/38;B23K26/70;G06F17/14;G06T3/40;G06T3/60;G06T7/41
• 代理公司: 北京路浩知識產權代理有限公司 11002
• 代理人: 沈軍

1.一種激光切割面條紋深度的檢測方法，其特征在于，包括：

獲取切割面放大倍數≥100倍的完整圖像，并截取所述完整圖像的兩個橫向截面數據；

對兩個所述橫向截面數據進行縱向連接，以得到波形數據；

獲取所述波形數據的多個波峰值和多個波谷值，計算每個所述波峰值與相鄰的兩個所述波谷值的差值，并將較大的差值記為當前條紋的深度；

獲取多個所述當前條紋的深度，并計算平均值，以得到激光切割面條紋的深度數據。

2.根據權利要求1所述的激光切割面條紋深度的檢測方法，其特征在于，所述獲取切割面放大倍數≥100倍的完整圖像，并截取所述完整圖像的兩個橫向截面數據的步驟進一步包括：

將放大后的局部圖像進行圖像拼接，以得到所述完整圖像，其中，所述完整圖像中試樣表面條紋的長度達到原表面條紋長度的80％及以上。

3.根據權利要求1所述的激光切割面條紋深度的檢測方法，其特征在于，所述獲取所述波形數據的多個波峰值和多個波谷值，計算每個所述波峰值與相鄰的兩個所述波谷值的差值，并將較大的差值記為當前條紋的深度的步驟進一步包括：

基于快速傅里葉變換計算所述波形數據的多個極大值和多個極小值，其每個極大值和每個極小值的計算公式為：

P_up＝{D_i|D_i+1≤D_i,D_i-1≤D_i}；

P_dn＝{D_i|D_i+1≥D_i,D_i-1≥D_i}；

其中，P_up為極大值，P_dn為極小值，D為橫向截面數據。

4.根據權利要求3所述的激光切割面條紋深度的檢測方法，其特征在于，所述獲取所述波形數據的多個波峰值和多個波谷值，計算每個所述波峰值與相鄰的兩個所述波谷值的差值，并將較大的差值記為當前條紋的深度的步驟進一步包括：

過濾x軸上橫向閾值小于第一預設值的極值，以得到多個橫向閾值大于等于第一預設值的極值，所述極值的x軸坐標點的計算公式為：

其中，Pi為i點的極值，Px為點Pi的橫坐標，Hh₁為橫向閾值。

5.根據權利要求4所述的激光切割面條紋深度的檢測方法，其特征在于，所述獲取所述波形數據的多個波峰值和多個波谷值，計算每個所述波峰值與相鄰的兩個所述波谷值的差值，并將較大的差值記為當前條紋的深度的步驟進一步包括：

過濾y軸上縱向閾值小于第二預設值的波形，以得到多個縱向閾值大于等于第二預設值的極值，所述極值的y軸坐標點的計算公式為：

其中，Pi為i點的極值，Py為點Pi的縱坐標，Th₂為縱向閾值。

6.根據權利要求5所述的激光切割面條紋深度的檢測方法，其特征在于，所述獲取所述波形數據的多個波峰值和多個波谷值，計算每個所述波峰值與相鄰的兩個所述波谷值的差值，并將較大的差值記為當前條紋的深度的步驟進一步包括：

所述計算每個所述波峰值與相鄰的兩個所述波谷值的差值的計算公式為：

h_ik＝P_upyk-P_dnyk,k＝1,2，

其中，h_ik為差值，P_upy為P_up的縱坐標，P_dny為P_dn的縱坐標，k為數量。

7.根據權利要求4所述的激光切割面條紋深度的檢測方法，其特征在于，還包括：

基于快速傅里葉變換獲取所述波形數據的最大頻譜，其計算公式為：

Pyy＝X.*conj(X)/N，

其中，Pyy為功率譜密度，X為快速傅里葉變換函數，conj(·)為共軛，N為數量。