[發(fā)明專利]一種ALD加熱組件在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 202011411046.4 | 申請日: | 2020-12-03 |
| 公開(公告)號: | CN112359346A | 公開(公告)日: | 2021-02-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 萬軍;廖海濤;王斌;王輝 | 申請(專利權(quán))人: | 無錫市邑晶半導(dǎo)體科技有限公司 |
| 主分類號: | C23C16/455 | 分類號: | C23C16/455;C23C16/52;B82Y30/00;B82Y40/00 |
| 代理公司: | 北京眾達(dá)德權(quán)知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11570 | 代理人: | 劉杰 |
| 地址: | 214028 江蘇省無錫市新*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 ald 加熱 組件 | ||
本發(fā)明涉及一種ALD加熱組件。該加熱組件適用于對反應(yīng)器的加熱,該加熱組件包括第一加熱器、第二加熱器以及第三加熱器,第一加熱器設(shè)置在封蓋的頂部上,第一加熱器的輸出端作用在封蓋上,第二加熱器設(shè)置在反應(yīng)腔室的外側(cè)壁和真空腔室的內(nèi)側(cè)壁之間,第二加熱器的輸出端作用在反應(yīng)腔室的側(cè)壁上,第三加熱器設(shè)置在反應(yīng)腔室的底部和真空腔室的底部之間,第三加熱器作用在反應(yīng)腔室的底部上。本發(fā)明可實現(xiàn)反應(yīng)腔室的頂部、側(cè)部及底部三個區(qū)域獨立輻射加熱和控溫,在大空間內(nèi)形成均勻溫度場,以使前驅(qū)體源的加熱溫度快速升溫至需求溫度,加熱效率高,加熱均勻,提高沉積膜的成型質(zhì)量和一致性,適合批量性生產(chǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體納米薄膜沉積技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種ALD加熱組件。
背景技術(shù)
隨著IC復(fù)雜程度的不斷提高,按照著名的摩爾定律和國際半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會公布的國際半導(dǎo)體技術(shù)發(fā)展路線圖,硅基半導(dǎo)體集成電路中金屬-氧化物-半導(dǎo)體場效應(yīng)晶體管器件的特征尺寸將達(dá)到納米尺度。原子層沉積(Atomic Layer Deposition,ALD)具有優(yōu)異的三維共形性、大面積的均勻性和精確的亞單層膜厚控制等特點,受到微電子行業(yè)和納米科技領(lǐng)域的青睞。
現(xiàn)有技術(shù)中,原子層沉積加工的技術(shù)方案為:將基體放置在一個密封的反應(yīng)器中,再通過將氣相前驅(qū)體源交替地通入反應(yīng)器,以在基體上化學(xué)吸附并反應(yīng)形成沉積膜。
在實現(xiàn)本發(fā)明的技術(shù)方案中,申請人發(fā)現(xiàn)現(xiàn)有技術(shù)中至少存在以下不足:
現(xiàn)有技術(shù)中,在將氣相前驅(qū)體源交替脈沖地通入反應(yīng)器之前,還需要對反應(yīng)器加熱至合適溫度,現(xiàn)有技術(shù)中對反應(yīng)器的加熱速率慢,加熱不均勻,影響沉積膜的成型質(zhì)量和一致性。
因此,需對現(xiàn)有技術(shù)進(jìn)行改進(jìn)。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種ALD加熱組件,解決了或部分解決了現(xiàn)有技術(shù)中對反應(yīng)器的加熱速率慢,加熱不均勻,影響沉積膜的成型質(zhì)量和一致性的技術(shù)問題。
本發(fā)明的技術(shù)方案為:
一種ALD加熱組件,所述加熱組件適用于對反應(yīng)器的加熱,所述反應(yīng)器包括真空腔室以及反應(yīng)腔室,所述反應(yīng)腔室內(nèi)置于所述真空腔室內(nèi),所述反應(yīng)腔室頂部敞口,所述反應(yīng)腔室的頂部通過封蓋密封;所述加熱組件包括:
第一加熱器,所述第一加熱器設(shè)置在所述封蓋的頂部上,所述第一加熱器的輸出端作用在所述封蓋上;
第二加熱器,所述第二加熱器設(shè)置在所述反應(yīng)腔室的外側(cè)壁和所述真空腔室的內(nèi)側(cè)壁之間,所述第二加熱器的輸出端作用在所述反應(yīng)腔室的側(cè)壁上;
第三加熱器,所述第三加熱器設(shè)置在所述反應(yīng)腔室的底部和所述真空腔室的底部之間,所述第三加熱器作用在所述反應(yīng)腔室的底部上。
進(jìn)一步地,所述封蓋的頂部固定設(shè)置有第一安裝板,所述第一加熱器包括多個第一加熱絲,多個所述第一加熱絲呈同心波紋設(shè)置,多個所述第一加熱絲均固定在所述第一安裝板的底面上。
進(jìn)一步地,所述第一安裝板的外沿向下折彎,形成第一限位擋邊。
進(jìn)一步地,所述加熱組件還包括第一熱反射組件,所述第一熱反射組件固定設(shè)置在所述第一安裝板的頂面上。
更進(jìn)一步地,所述第一安裝板的頂面上設(shè)置有固定塊,所述第一熱反射組件設(shè)置在所述第一安裝板和所述固定塊之間;
所述第一熱反射組件包括若干依次設(shè)置的熱反射板,相鄰的兩個所述熱反射板的接觸形式為多點接觸。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于無錫市邑晶半導(dǎo)體科技有限公司,未經(jīng)無錫市邑晶半導(dǎo)體科技有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202011411046.4/2.html,轉(zhuǎn)載請聲明來源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
C23C 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C16-00 通過氣態(tài)化合物分解且表面材料的反應(yīng)產(chǎn)物不留存于鍍層中的化學(xué)鍍覆,例如化學(xué)氣相沉積
C23C16-01 .在臨時基體上,例如在隨后通過浸蝕除去的基體上
C23C16-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C16-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金屬材料的沉積為特征的
C23C16-22 .以沉積金屬材料以外之無機(jī)材料為特征的





