[發明專利]一種異常場景測試方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202011410324.4
• 申請日: 2020-12-03
• 公開（公告）號: CN112506773A
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 劉志悠;李沫
• 申請（專利權）人: 安徽聽見科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李曉光

本申請提出一種異常場景測試方法、裝置、設備及存儲介質，該方法包括：獲取被測目標信息和測試項目信息，所述測試項目信息包括待測試的目標異常場景的信息，和/或由于異常場景而導致的異常狀況信息；調用與所述測試項目對應的異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試；其中，所述異常場景包括軟件異常，以及與所述軟件異常對應的硬件異常；所述異常場景測試模型至少根據異常場景的測試點、異常場景的模擬方法，以及異常場景的測試通過標準建模得到；輸出測試結果。上述方法能夠實現軟硬一體的自動化異常場景測試，能夠提高測試效率。

技術領域

本申請涉及異常測試技術領域，尤其涉及一種異常場景測試方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

異常場景測試是指測試系統或組件在運行過程中是否會發生異常場景，是系統或組件測試中的重要測試內容。

常規的異常場景測試，只是對軟件異常場景進行了測試，而并沒有考慮到硬件異常場景。而且，測試過程需要人工適時調整參數、控制測試程序，自動化程度不高。

發明內容

基于上述技術現狀，本申請提出一種異常場景測試方法、裝置、設備及存儲介質，能夠實現軟硬一體的自動化異常場景測試，顯著提高測試效率。

本申請提出的技術方案具體如下：

一種異常場景測試方法，包括：

獲取被測目標信息和測試項目信息，所述測試項目信息包括待測試的目標異常場景的信息，和/或由于異常場景而導致的異常狀況信息；

調用與所述測試項目對應的異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試；

其中，所述異常場景包括軟件異常，以及與所述軟件異常對應的硬件異常；所述異常場景測試模型至少根據異常場景的測試點、異常場景的模擬方法，以及異常場景的測試通過標準建模得到；

輸出測試結果。

可選的，當所述測試項目信息包括待測試的目標異常場景的信息時，所述調用與所述測試項目對應的異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試，包括：

調用與所述目標異常場景對應的目標異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試；

其中，所述目標異常場景測試模型至少根據所述目標異常場景的測試點、所述目標異常場景的模擬方法，以及所述目標異常場景的測試通過標準建模得到；所述目標異常場景包括軟件異常，以及與所述軟件異常對應的硬件異常。

可選的，當所述測試項目信息包括異常狀況信息時，所述調用與所述測試項目對應的異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試，包括：

根據所述異常狀況信息，調用與所述異常狀況對應的異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試；

其中，所述異常場景測試模型至少根據所述異常場景的測試點、異常場景的模擬方法、異常場景的測試通過標準，以及異常場景能夠導致的異常狀況建模得到，所述異常場景包括軟件異常，以及與所述軟件異常對應的硬件異常。

可選的，所述異常場景測試模型根據異常場景的測試點、異常場景的模擬方法、異常場景的測試通過標準，以及異常場景的恢復方法建模得到；

所述輸出測試結果，包括：

輸出所述被測目標在異常場景測試過程中是否發生異常場景的測試結果；

當所述被測目標在異常場景測試過程中發生所述異常場景時，輸出所發生的異常場景信息以及修改建議，所述修改建議包括恢復所發生的異常場景的處理方法。

可選的，當所述待測試的目標異常場景的數量為多個時，所述輸出測試結果，包括：