[發明專利]一種異常場景測試方法、裝置、設備及存儲介質

在審

• 申請號: 202011410324.4
• 申請日: 2020-12-03
• 公開（公告）號: CN112506773A
• 公開（公告）日: 2021-03-16
• 發明（設計）人: 劉志悠;李沫
• 申請（專利權）人: 安徽聽見科技有限公司
• 主分類號: G06F11/36
• 分類號: G06F11/36;G06F11/22
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 李曉光

1.一種異常場景測試方法，其特征在于，包括：

獲取被測目標信息和測試項目信息，所述測試項目信息包括待測試的目標異常場景的信息，和/或由于異常場景而導致的異常狀況信息；

調用與所述測試項目對應的異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試；

其中，所述異常場景包括軟件異常，以及與所述軟件異常對應的硬件異常；所述異常場景測試模型至少根據異常場景的測試點、異常場景的模擬方法，以及異常場景的測試通過標準建模得到；

輸出測試結果。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當所述測試項目信息包括待測試的目標異常場景的信息時，所述調用與所述測試項目對應的異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試，包括：

調用與所述目標異常場景對應的目標異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試；

其中，所述目標異常場景測試模型至少根據所述目標異常場景的測試點、所述目標異常場景的模擬方法，以及所述目標異常場景的測試通過標準建模得到；所述目標異常場景包括軟件異常，以及與所述軟件異常對應的硬件異常。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，當所述測試項目信息包括異常狀況信息時，所述調用與所述測試項目對應的異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試，包括：

根據所述異常狀況信息，調用與所述異常狀況對應的異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試；

其中，所述異常場景測試模型至少根據所述異常場景的測試點、異常場景的模擬方法、異常場景的測試通過標準，以及異常場景能夠導致的異常狀況建模得到，所述異常場景包括軟件異常，以及與所述軟件異常對應的硬件異常。

4.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述異常場景測試模型根據異常場景的測試點、異常場景的模擬方法、異常場景的測試通過標準，以及異常場景的恢復方法建模得到；

所述輸出測試結果，包括：

輸出所述被測目標在異常場景測試過程中是否發生異常場景的測試結果；

當所述被測目標在異常場景測試過程中發生所述異常場景時，輸出所發生的異常場景信息以及修改建議，所述修改建議包括恢復所發生的異常場景的處理方法。

5.根據權利要求4所述的方法，其特征在于，當所述待測試的目標異常場景的數量為多個時，所述輸出測試結果，包括：

輸出所述被測目標在異常場景測試過程發生的目標異常場景的信息，以及未發生的目標異常場景的信息；

當所述被測目標在異常場景測試過程發生的目標異常場景的數量為多個時，所述修改建議還包括恢復所述被測目標發生的各個目標異常場景的處理順序信息。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述異常場景測試模型的建模過程，包括：

采集硬件異常數據和軟件異常數據；

利用采集的硬件異常數據和軟件異常數據，確定至少一種異常場景；

分別確定每種異常場景的測試相關信息；所述測試相關信息包括測試點信息、模擬方法信息、測試通過標準信息；

針對每種異常場景，利用該異常場景數據以及該異常場景的測試相關信息進行數據建模，得到異常場景測試模型。

7.根據權利要求6所述的方法，其特征在于，所述測試相關信息還包括：

能夠導致的異常狀況信息和恢復方法信息。

8.一種異常場景測試裝置，其特征在于，包括：

參數獲取單元，用于獲取被測目標信息和測試項目信息，所述測試項目信息包括待測試的目標異常場景的信息，和/或由于異常場景而導致的異常狀況信息；

測試處理單元，用于調用與所述測試項目對應的異常場景測試模型，對所述被測目標進行異常場景測試；

其中，所述異常場景包括軟件異常，以及與所述軟件異常對應的硬件異常；所述異常場景測試模型至少根據異常場景的測試點、異常場景的模擬方法，以及異常場景的測試通過標準建模得到；

輸出單元，用于輸出測試結果。