[發明專利]一種墻面平整度的測定方法

在審

• 申請號: 202011403429.7
• 申請日: 2020-12-04
• 公開（公告）號: CN112665535A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: 杜日中
• 申請（專利權）人: 中冶天工集團有限公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30
• 代理公司: 天津諾德知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 12213
• 代理人: 朱卉

一種墻面平整度的測定方法，屬于墻面平整度測定技術領域，所述方法包括步驟：在待測定墻面上選定多個待測定墻面點；測量多個所述待測定墻面點對應的初始假定坐標；基于多個所述待測定墻面點建立墻面坐標系；將多個所述初始假定坐標轉換至所述墻面坐標系中以得到多個墻面坐標；基于多個所述墻面坐標計算所述墻面的平整度。本申請提供的一種墻面平整度的測定方法具有如下有益效果：免棱鏡式全站儀無需司鏡員配合，可以直接測得墻面各點三維坐標，短距離內精度無異于使用棱鏡，所以測點選取靈活自由，可使點位布置均勻合理，測量精度較高，且消除了觀測人員攀爬墻體的不安全因素。

技術領域

本發明屬于墻面平整度測定技術領域，具體涉及一種墻面平整度的測定方法。

背景技術

當建筑物外墻或其外飾面施工完畢，往往要對其平整度進行檢測，以評定其施工質量。

平整度是評定墻面施工質量其中之一，即墻面點相對于標準面偏差值的標準差。常規測定方法為：吊垂線法、靠尺法、張拉直線法等，其優點是：讀數直觀，易操作性強；缺點是：墻體面積較大時，測量人員很難掌握測點的均勻性，測點數量也很難滿足要求，使得評定結果有失代表性；當墻體較高時，測量人員需攀爬至墻面高空作業，不安全；使用的儀器具精度低，且當測量環境不利時(如風擺、溫差等)，對一些評定精度要求較高的墻面(玻璃幕墻等)無法達到一定數量級精度要求；工作效率低等。

發明內容

為解決上述問題，本發明提供了一種墻面平整度的測定方法，所述方法包括步驟：

在待測定墻面上選定多個待測定墻面點；

測量多個所述待測定墻面點對應的初始假定坐標；

基于多個所述待測定墻面點建立墻面坐標系；

將多個所述初始假定坐標轉換至所述墻面坐標系中以得到多個墻面坐標；

基于多個所述墻面坐標計算所述墻面的平整度。

優選地，所述在待測定墻面上選定多個待測定墻面點包括步驟：

在所述待測定墻面的下邊緣選定第一墻面點；

在所述待測定墻面的下邊緣選定與所述第一墻面點等高的第二墻面點。

優選地，所述測量多個所述待測定墻面點對應的初始假定坐標包括步驟：

在所述待測定墻面前地面任意點處安裝免棱鏡式全站儀；

向所述免棱鏡式全站儀中輸入測站坐標(0，0，0)；

轉動所述免棱鏡式全站儀使其對準所述待測定墻面點中的第一墻面點；

向所述免棱鏡式全站儀中輸入后視定向方位角0°；

按下坐標測量鍵依次順序觀測所有所述待測定墻面點的初始假定坐標。

優選地，所述基于多個所述待測定墻面點建立墻面坐標系包括步驟：

選定所有所述待測定墻面點中的第一墻面點；

以所述第一墻面點為原點并沿垂直墻面向里方向設置X′軸；

按照左手坐標系沿水平面方向設置垂直所述X′軸的Y′軸；

沿垂直向上的方向設置垂直所述X′軸和所述Y′軸的Z′軸。

優選地，所述將多個所述初始假定坐標轉換至所述墻面坐標系中以得到多個墻面坐標包括步驟：

獲取所述待測定墻面點中第一墻面點和第二墻面點分別對應的第一初始假定坐標值和第二初始假定坐標值；

根據所述第一初始假定坐標值和所述第二初始假定坐標值計算所述第一墻面點和所述第二墻面點之間的坐標方位角T₁₂；