[發明專利]一種墻面平整度的測定方法

在審

• 申請號: 202011403429.7
• 申請日: 2020-12-04
• 公開（公告）號: CN112665535A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: 杜日中
• 申請（專利權）人: 中冶天工集團有限公司
• 主分類號: G01B11/30
• 分類號: G01B11/30
• 代理公司: 天津諾德知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 12213
• 代理人: 朱卉

1.一種墻面平整度的測定方法，其特征在于，所述方法包括步驟：

在待測定墻面上選定多個待測定墻面點；

測量多個所述待測定墻面點對應的初始假定坐標；

基于多個所述待測定墻面點建立墻面坐標系；

將多個所述初始假定坐標轉換至所述墻面坐標系中以得到多個墻面坐標；

基于多個所述墻面坐標計算所述墻面的平整度。

2.根據權利要求1所述的墻面平整度的測定方法，其特征在于，所述在待測定墻面上選定多個待測定墻面點包括步驟：

在所述待測定墻面的下邊緣選定第一墻面點；

在所述待測定墻面的下邊緣選定與所述第一墻面點等高的第二墻面點。

3.根據權利要求1所述的墻面平整度的測定方法，其特征在于，所述測量多個所述待測定墻面點對應的初始假定坐標包括步驟：

在所述待測定墻面前地面任意點處安裝免棱鏡式全站儀；

向所述免棱鏡式全站儀中輸入測站坐標(0，0，0)；

轉動所述免棱鏡式全站儀使其對準所述待測定墻面點中的第一墻面點；

向所述免棱鏡式全站儀中輸入后視定向方位角0°；

按下坐標測量鍵依次順序觀測所有所述待測定墻面點的初始假定坐標。

4.根據權利要求1所述的墻面平整度的測定方法，其特征在于，所述基于多個所述待測定墻面點建立墻面坐標系包括步驟：

選定所有所述待測定墻面點中的第一墻面點；

以所述第一墻面點為原點并沿垂直墻面向里方向設置X′軸；

按照左手坐標系沿水平面方向設置垂直所述X′軸的Y′軸；

沿垂直向上的方向設置垂直所述X′軸和所述Y′軸的Z′軸。

5.根據權利要求1所述的墻面平整度的測定方法，其特征在于，所述將多個所述初始假定坐標轉換至所述墻面坐標系中以得到多個墻面坐標包括步驟：

獲取所述待測定墻面點中第一墻面點和第二墻面點分別對應的第一初始假定坐標值和第二初始假定坐標值；

根據所述第一初始假定坐標值和所述第二初始假定坐標值計算所述第一墻面點和所述第二墻面點之間的坐標方位角T₁₂；

計算所述初始假定坐標與所述墻面坐標系的轉換角及坐標平移值；

基于所述轉換角及所述坐標平移值計算所述初始假定坐標對應的所述墻面坐標。

6.根據權利要求1所述的墻面平整度的測定方法，其特征在于，所述基于多個所述墻面坐標計算所述墻面的平整度包括步驟：

獲取墻面誤差方程式和各所述墻面坐標；

基于所述墻面誤差方程式和各所述墻面坐標計算得到誤差方程組；

基于所述誤差方程組計算得到墻面平面方程；

基于所述墻面平面方程和各所述墻面坐標計算得到各所述待測定墻面點的理論值；

基于各所述待測定墻面點的理論值和實際值計算得到偏差值；

基于所述偏差值計算得到墻面平整度。

7.根據權利要求6所述的墻面平整度的測定方法，其特征在于，所述墻面誤差方程式的表達式為：

vi＝aXi+bYi+c-Zi；

其中，vi表示所述待測定墻面點的誤差值，a、b和c均為系數，Xi、Yi和Zi分別表示所述待測定墻面點的X軸坐標、Y軸坐標和Z軸坐標。

8.根據權利要求6所述的墻面平整度的測定方法，其特征在于，所述誤差方程組的表達式為：

其中，v1、v2和v3分別表示所述待測定墻面點的誤差值，a、b和c均為系數，xm、ym和zm分別表示所述待測定墻面點的X軸坐標、Y軸坐標和Z軸坐標，m＝1、2……n。

9.根據權利要求6所述的墻面平整度的測定方法，其特征在于，所述墻面平面方程的表達式為：

Zi＝aXi+bYi+c，

其中，a、b和c均為系數，Xi、Yi和Zi分別表示所述待測定墻面點的X軸坐標、Y軸坐標和Z軸坐標。

10.根據權利要求6所述的墻面平整度的測定方法，其特征在于，所述墻面平整度的表達式為：

其中，σ表示墻面平整度，δ表示偏差值，n表示所述待測定墻面點個數。