[發(fā)明專利]醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)間確定方法、裝置和計(jì)算機(jī)設(shè)備

有效

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• 申請日: 2020-12-01
• 公開（公告）號: CN112545484B
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 史宇航;胡均普
• 申請（專利權(quán)）人: 上海聯(lián)影醫(yī)療科技股份有限公司
• 主分類號: A61B5/055
• 分類號: A61B5/055;A61B6/00;A61B8/00;G01R33/58;G01R35/00
• 代理公司: 杭州華進(jìn)聯(lián)浙知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 33250
• 代理人: 范麗霞

本申請涉及一種醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)間確定方法、裝置和計(jì)算機(jī)設(shè)備，該方法包括：基于醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)中多個(gè)子部件的樣本數(shù)據(jù)，建立多個(gè)對應(yīng)于各所述子部件的不穩(wěn)定性模型；根據(jù)多個(gè)對應(yīng)于各所述子部件的不穩(wěn)定性模型生成所述醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的系統(tǒng)不穩(wěn)定性模型；根據(jù)所述樣本數(shù)據(jù)或所述系統(tǒng)不穩(wěn)定性模型確定所述醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的校準(zhǔn)時(shí)間。本申請兼顧了不同用戶的使用習(xí)慣、不同系統(tǒng)各個(gè)部件的儀器特性和穩(wěn)定性進(jìn)行校準(zhǔn)時(shí)間確定，使得系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)間配置更加合理、更加個(gè)性化。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請涉及醫(yī)學(xué)成像技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)間確定方法、裝置和計(jì)算機(jī)設(shè)備。

背景技術(shù)

當(dāng)代醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的應(yīng)用為臨床診斷醫(yī)學(xué)、計(jì)算機(jī)輔助手術(shù)、病灶監(jiān)控等提供了高質(zhì)量的信息支持，大大提高了人類對自身的認(rèn)識和醫(yī)學(xué)診療水平。在現(xiàn)有的高精密醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)上，受儀器損耗或受外界干擾影響下，儀器成像參數(shù)會偏離預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)，影響成像結(jié)果。為了保持儀器長期穩(wěn)定運(yùn)行，及時(shí)排查風(fēng)險(xiǎn)，儀器會設(shè)置有校準(zhǔn)方法，對儀器各組件情況進(jìn)行檢測和自動校準(zhǔn)。

現(xiàn)有的技術(shù)一般都是所有的系統(tǒng)都是在統(tǒng)一固定的時(shí)間點(diǎn)和時(shí)間間隔進(jìn)行自動檢測和校準(zhǔn)。在自動校準(zhǔn)方面，例如，醫(yī)學(xué)超導(dǎo)磁共振成像系統(tǒng)上，為了防止外界磁場的干擾，EIS磁體電路每隔一段時(shí)間需要自動將感應(yīng)產(chǎn)生的電釋放掉，以恢復(fù)到比較好的磁屏蔽狀態(tài)，但是如果在掃描時(shí)候放電會影響成像質(zhì)量。另外，醫(yī)學(xué)超導(dǎo)磁共振成像系統(tǒng)上，需要對系統(tǒng)自動定期進(jìn)行電壓的檢測。然而儀器的臨床使用習(xí)慣、儀器特性和穩(wěn)定性不同，往往導(dǎo)致每次需要進(jìn)行校準(zhǔn)的間隔時(shí)間和時(shí)間點(diǎn)配置不合理。

發(fā)明內(nèi)容

本申請實(shí)施例提供了一種醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)間確定方法、裝置和計(jì)算機(jī)設(shè)備，以至少解決相關(guān)技術(shù)中校準(zhǔn)時(shí)間不合理的問題。

第一方面，本申請實(shí)施例提供了一種醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)間確定方法，包括：

基于醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)中多個(gè)子部件的樣本數(shù)據(jù)，建立多個(gè)對應(yīng)于各所述子部件的不穩(wěn)定性模型；

根據(jù)多個(gè)對應(yīng)于各所述子部件的不穩(wěn)定性模型生成所述醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的系統(tǒng)不穩(wěn)定性模型；

根據(jù)所述系統(tǒng)不穩(wěn)定性模型確定所述醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的校準(zhǔn)時(shí)間。

在其中一些實(shí)施例中，所述基于醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)中多個(gè)子部件的樣本數(shù)據(jù)，建立多個(gè)對應(yīng)于各所述子部件的不穩(wěn)定性模型包括：

獲取醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)中多個(gè)子部件的樣本數(shù)據(jù)；所述樣本數(shù)據(jù)包括子部件特征數(shù)據(jù)和對應(yīng)于所述子部件特征數(shù)據(jù)的子部件不穩(wěn)定性參數(shù)；

以子部件的樣本數(shù)據(jù)中所述子部件特征數(shù)據(jù)為輸入值，以對應(yīng)的子部件不穩(wěn)定性參數(shù)為輸出值，對樣本數(shù)據(jù)對應(yīng)的子部件的不穩(wěn)定性模型進(jìn)行訓(xùn)練。

在其中一些實(shí)施例中，所述根據(jù)多個(gè)對應(yīng)于各所述子部件的不穩(wěn)定性模型生成所述醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的系統(tǒng)不穩(wěn)定性模型包括：

根據(jù)子部件的不穩(wěn)定性模型確定在給定模型輸入條件下對應(yīng)子部件的不穩(wěn)定性參數(shù)；

將對應(yīng)于各所述子部件的不穩(wěn)定性參數(shù)進(jìn)行加權(quán)平均得到所述醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的系統(tǒng)不穩(wěn)定性參數(shù)；

基于醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)中多個(gè)子部件的給定模型輸入條件和所述系統(tǒng)不穩(wěn)定性參數(shù)建立所述醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的系統(tǒng)不穩(wěn)定性模型。

在其中一些實(shí)施例中，所述根據(jù)所述子部件的不穩(wěn)定性模型確定醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)在給定模型輸入條件下對應(yīng)子部件的不穩(wěn)定性參數(shù)包括：所述子部件為放電系統(tǒng)；

根據(jù)所述子部件的不穩(wěn)定性模型獲取子部件在給定模型輸入條件下的EIS磁體電路放電量；

根據(jù)所述EIS磁體電路放電量和預(yù)設(shè)的理想放電區(qū)間，確定所述放電系統(tǒng)的不穩(wěn)定性參數(shù)。

在其中一些實(shí)施例中，所述根據(jù)所述系統(tǒng)不穩(wěn)定性模型確定所述醫(yī)學(xué)成像系統(tǒng)的校準(zhǔn)時(shí)間包括：