[發明專利]一種大口徑光學系統檢測方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011377267.4
• 申請日: 2020-11-30
• 公開（公告）號: CN112556997B
• 公開（公告）日: 2021-10-08
• 發明（設計）人: 張學軍;胡海翔;陶小平
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G02B27/30
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 巴翠昆

本申請公開了一種大口徑光學系統檢測方法、裝置、設備及存儲介質，該方法包括：設計具有矩形主鏡的矩形孔徑平行光管；對矩形孔徑平行光管進行自準直標定；控制標定后的矩形孔徑平行光管多角度旋轉以進行被檢光學系統不同方向上的全視場覆蓋成像性能檢測；融合被檢光學系統所有視場的成像性能檢測數據，獲取被檢光學系統的整體成像性能評估結果。本申請通過矩形孔徑平行光管多角度旋轉來進行大口徑光學系統成像性能檢測，成本低，性能高，對被檢光學系統視場不同方向上的成像性能檢測數據進行融合后，就可以實現大口徑光學系統的高精度測試。

技術領域

本發明涉及光學系統檢測領域，特別是涉及一種大口徑光學系統檢測方法、裝置、設備及存儲介質。

背景技術

隨著天文探索、對地遙感等應用所提出的更高分辨率的觀測需求，超大口徑、超高精度先進光學系統的研究也逐步升級。光學系統角分辨本領與口徑成正比，而大口徑光學系統的研制一來受限于大口徑光學元件的加工難度，二來依賴于高精度的檢測方法和檢測設備，成本較高。

目前，大口徑光學系統成像性能測試需要使用與待測系統主鏡口徑相當的或比待測系統主鏡口徑更大的平行光管提供理想參考平面波，這就對大口徑平行光管的研制提出了挑戰，其制造成本和主鏡面積的成正比。

因此，如何使用較低成本對大口徑光學系統進行高精度測試，是本領域技術人員亟待解決的技術問題。

發明內容

有鑒于此，本發明的目的在于提供一種大口徑光學系統檢測方法、裝置、設備及存儲介質，可以實現大口徑光學系統的高精度測試且成本低、性能高。其具體方案如下：

一種大口徑光學系統檢測方法，包括：

設計具有矩形主鏡的矩形孔徑平行光管；

對所述矩形孔徑平行光管進行自準直標定；

控制標定后的所述矩形孔徑平行光管多角度旋轉以進行被檢光學系統不同方向上的全視場覆蓋成像性能檢測；

融合所述被檢光學系統所有視場的成像性能檢測數據，獲取所述被檢光學系統的整體成像性能評估結果。

優選地，在本發明實施例提供的上述大口徑光學系統檢測方法中，對所述矩形孔徑平行光管進行自準直標定，具體包括：

通過小口徑平面反射鏡對所述矩形孔徑平行光管進行逐視場波像差檢測；

沿所述矩形孔徑平行光管的主鏡長邊方向多次平移所述平面反射鏡，直至覆蓋所述矩形孔徑平行光管的全部視場；

將各視場波像差數據融合，完成所述矩形孔徑平行光管的自準直標定。

優選地，在本發明實施例提供的上述大口徑光學系統檢測方法中，所述平面反射鏡的直徑大于所述矩形孔徑平行光管的主鏡短邊尺寸。

優選地，在本發明實施例提供的上述大口徑光學系統檢測方法中，控制標定后的所述矩形孔徑平行光管多角度旋轉以進行被檢光學系統不同方向上的全視場覆蓋成像性能檢測，具體包括：

控制標定后的所述矩形孔徑平行光管進行被檢光學系統第一方向上的全視場覆蓋成像性能檢測；

將所述矩形孔徑平行光管旋轉設定角度，控制標定后的所述矩形孔徑平行光管進行實時被檢光學系統第二方向上的全視場覆蓋成像性能檢測；

繼續旋轉所述矩形孔徑平行光管，直至覆蓋所述被檢光學系統的所有視場。

優選地，在本發明實施例提供的上述大口徑光學系統檢測方法中，所述矩形孔徑平行光管的光學系統結構包括同軸牛頓型系統、卡塞格林型系統、RC系統、TMA系統及相應的離軸光學系統構型。