[發明專利]一種大口徑光學系統檢測方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202011377267.4
• 申請日: 2020-11-30
• 公開（公告）號: CN112556997B
• 公開（公告）日: 2021-10-08
• 發明（設計）人: 張學軍;胡海翔;陶小平
• 申請（專利權）人: 中國科學院長春光學精密機械與物理研究所
• 主分類號: G01M11/02
• 分類號: G01M11/02;G02B27/30
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 巴翠昆

1.一種大口徑光學系統檢測方法，其特征在于，包括：

設計具有矩形主鏡的矩形孔徑平行光管；

對所述矩形孔徑平行光管進行自準直標定；

控制標定后的所述矩形孔徑平行光管多角度旋轉以進行被檢光學系統不同方向上的全視場覆蓋成像性能檢測；

融合所述被檢光學系統所有視場的成像性能檢測數據，獲取所述被檢光學系統的整體成像性能評估結果。

2.根據權利要求1所述的大口徑光學系統檢測方法，其特征在于，對所述矩形孔徑平行光管進行自準直標定，具體包括：

通過小口徑平面反射鏡對所述矩形孔徑平行光管進行逐視場波像差檢測；

沿所述矩形孔徑平行光管的主鏡長邊方向多次平移所述平面反射鏡，直至覆蓋所述矩形孔徑平行光管的全部視場；

將各視場波像差數據融合，完成所述矩形孔徑平行光管的自準直標定。

3.根據權利要求2所述的大口徑光學系統檢測方法，其特征在于，所述平面反射鏡的直徑大于所述矩形孔徑平行光管的主鏡短邊尺寸。

4.根據權利要求1所述的大口徑光學系統檢測方法，其特征在于，控制標定后的所述矩形孔徑平行光管多角度旋轉以進行被檢光學系統不同方向上的全視場覆蓋成像性能檢測，具體包括：

控制標定后的所述矩形孔徑平行光管進行被檢光學系統第一方向上的全視場覆蓋成像性能檢測；

將所述矩形孔徑平行光管旋轉設定角度，控制標定后的所述矩形孔徑平行光管進行實時被檢光學系統第二方向上的全視場覆蓋成像性能檢測；

繼續旋轉所述矩形孔徑平行光管，直至覆蓋所述被檢光學系統的所有視場。

5.根據權利要求1所述的大口徑光學系統檢測方法，其特征在于，所述矩形孔徑平行光管的光學系統結構包括同軸牛頓型系統、卡塞格林型系統、RC系統、TMA系統及相應的離軸光學系統構型。

6.根據權利要求1所述的大口徑光學系統檢測方法，其特征在于，所述矩形孔徑平行光管的主鏡長邊大于或等于所述被檢光學系統的主鏡直徑；所述矩形孔徑平行光管的主鏡短邊小于所述被檢光學系統的主鏡直徑。

7.根據權利要求1所述的大口徑光學系統檢測方法，其特征在于，所述被檢光學系統包括六邊形蜂巢式拼接系統、圓形拼接系統、扇形拼接系統。

8.一種大口徑光學系統檢測裝置，其特征在于，包括：

具有矩形主鏡的矩形孔徑平行光管，用于進行被檢光學系統不同方向上的全視場覆蓋成像性能檢測；

自準直標定單元，用于對所述矩形孔徑平行光管進行自準直標定；

旋轉控制單元，用于控制標定后的所述矩形孔徑平行光管多角度旋轉；

數據處理單元，用于融合所述被檢光學系統所有視場的成像性能檢測數據，獲取所述被檢光學系統的整體成像性能評估結果。

9.一種大口徑光學系統檢測設備，其特征在于，包括處理器和存儲器，其中，所述處理器執行所述存儲器中保存的計算機程序時實現如權利要求1至7任一項所述的大口徑光學系統檢測方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，其特征在于，用于存儲計算機程序，其中，所述計算機程序被處理器執行時實現如權利要求1至7任一項所述的大口徑光學系統檢測方法。