[發明專利]用于硅后芯片驗證的方法、系統、設備以及存儲介質

有效

• 申請號: 202011375141.3
• 申請日: 2020-11-30
• 公開（公告）號: CN112540288B
• 公開（公告）日: 2023-02-21
• 發明（設計）人: 潘杰;陳元;曹亞桃
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京市柳沈律師事務所 11105
• 代理人: 彭久云

1.一種用于硅后芯片驗證的方法，包括：

在用于所述芯片的測試程序的執行過程中提供斷點；

執行所述斷點之后中斷所述測試程序執行，且獲取截止到所述斷點的測試程序的第一執行結果；

將所述第一執行結果與在參考模型中執行所述測試程序的第二執行結果進行比較；以及

根據比較結果對所述芯片進行驗證，

其中，在用于所述芯片的測試程序的執行過程中提供斷點，包括：在執行所述測試程序的過程中將當前指令選擇為斷點指令，

在執行所述測試程序的過程中將當前指令選擇為斷點指令，包括：

設置斷點指令設定值，

通過指令計數器在執行所述測試程序的過程中對發射的指令的數量進行計數，得到對應于發射所述當前指令的指令計數值，

當所述指令計數值與所述斷點指令設定值相等時，將所述當前指令標記為斷點指令。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，

當所述比較結果出現不一致，確定截止到所述斷點發現問題。

3.根據權利要求1所述的方法，其中，

響應于執行所述斷點之后所述斷點的退役，將所述第一執行結果轉儲到存儲單元中，

轉入對比過程將所述轉儲到所述存儲單元中的數據與所述第二執行結果進行比較；

當比較結果一致時，重新設置斷點，

將轉儲到所述存儲單元中的數據重新加載到所述芯片內部，以回到所述測試程序截止到所述斷點時的狀態。

4.根據權利要求1所述的方法，其中，所述斷點指令設定值為隨機數。

5.根據權利要求1所述的方法，其中，將所述第一執行結果與在所述參考模型中執行所述測試程序的所述第二執行結果進行比較，包括：

響應于執行所述斷點指令之后所述斷點指令的退役，將所述第一執行結果轉儲到存儲單元中，

轉入對比過程將所述轉儲到所述存儲單元中的數據與所述參考模型中對應的所述測試程序的所述第二執行結果進行比較。

6.根據權利要求5所述的方法，其中，響應于執行所述斷點指令之后所述斷點指令的退役，將所述第一執行結果轉儲到所述存儲單元中，包括：

在所述斷點指令退役之前，在所述芯片上執行所述測試程序的過程中，將發射的指令進行亂序執行，其中，所述發射的指令包括所述斷點指令，并且將所述亂序執行的所述發射的指令，按照所述指令被發射的先后順序進行重排；以及

將重排后的指令順序中將截止到所述斷點指令的所述第一執行結果轉儲到所述存儲單元中。

7.根據權利要求6所述的方法，其中，將所述重排后的指令順序中在所述斷點指令之后的指令刷掉。

8.根據權利要求5所述的方法，其中，響應于執行所述斷點指令之后所述斷點指令的退役，將所述第一執行結果轉儲到存儲單元中之前，還包括：

建立將所述第一執行結果轉儲到所述存儲單元中的數據協議；以及

將所述數據協議告知所述對比過程，所述對比過程根據所述數據協議讀取所述存儲單元中轉儲的數據，

其中，所述數據協議包括所述測試程序的所述第一執行結果的存儲格式。

9.根據權利要求5所述的方法，其中，

在所述斷點指令退役之前，當發生所述發射的指令執行錯誤時，將出現執行錯誤的指令之后所有指令刷掉，恢復至發生所述發射的指令執行錯誤之前的狀態；以及

將所述指令計數器統計的計數值恢復為沒有發射所述執行錯誤的指令對應的指令計數值。

10.根據權利要求9所述的方法，其中，

所述執行錯誤包括所述發射的指令中的分支指令的執行路徑預測錯誤，從而導致所述斷點指令在錯誤的執行路徑上。

11.根據權利要求3、5和8任一所述的方法，其中，

當所述比較結果一致時，重新設置斷點，以及

退出所述對比過程，繼續執行所述測試程序。