[發明專利]用于雙面打標的振鏡標定方法、板狀物體的雙面打標方法在審
| 申請號: | 202011371332.2 | 申請日: | 2020-11-30 |
| 公開(公告)號: | CN112404741A | 公開(公告)日: | 2021-02-26 |
| 發明(設計)人: | 劉福濤;吳俊龍 | 申請(專利權)人: | 蘇州領鹿智能科技有限公司 |
| 主分類號: | B23K26/362 | 分類號: | B23K26/362;G06T7/80;G02B26/08 |
| 代理公司: | 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260 | 代理人: | 王春麗 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州市相城區*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 用于 雙面 標的 標定 方法 物體 | ||
1.一種用于雙面打標的振鏡標定方法,用于對分別放置于待打標的物體兩側的第一振鏡和第二振鏡進行標定,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1:標定第一振鏡,得到第一振鏡的糾偏矩陣,
步驟2:標定相機,得到相機與第一振鏡的打標系統的變化矩陣,
步驟3:標定第二振鏡,
步驟3包括如下步驟:
步驟31:在第一振鏡和第二振鏡中間設置具有透光性能的標記面板,相機能捕捉位于標記面板任意一側的標記;
步驟32:用第二振鏡在標記面板上標刻呈m階矩陣分布的基準點,
步驟33:利用步驟2的相機捕獲基準點,并記錄下基準點相對相機的實際坐標;
步驟34:根據步驟33所得到的實際坐標和步驟32的第二振鏡的理論坐標,得到第二振鏡的糾偏矩陣。
2.根據權利要求1的用于雙面打標的振鏡標定方法,其特征在于,步驟1包括如下步驟:
步驟S11:利用第一振鏡在待打標的物體的一側標刻出呈n階矩陣分布的標記點;
步驟S12:測量并計算得到各個標記點的實際坐標位置;
步驟S13:根據步驟S12的實際坐標與步驟S11的第一振鏡的理論坐標,得到第一振鏡的糾偏矩陣。
3.根據權利要求2的用于雙面打標的振鏡標定方法,其特征在于,步驟2包括如下步驟:
步驟S21:利用相機捕獲步驟S11的標記點的像素坐標;
步驟S22:根據標記點的實際坐標與相機所捕獲的像素坐標計算得到相機與第一振鏡的打標系統的變化矩陣。
4.根據權利要求1的用于雙面打標的振鏡標定方法,其特征在于,相機與第一振鏡設置在待打標物體的同一側。
5.根據權利要求1的用于雙面打標的振鏡標定方法,其特征在于,標記面板為透明材質的面板。
6.根據權利要求5的用于雙面打標的振鏡標定方法,其特征在于,m與n相等。
7.一種板狀物體的雙面打標方法,其特征在于,包括如下步驟,
步驟101:在板狀物體的兩側分別設置正面振鏡和反面振鏡,利用正面振鏡在板狀物體的正面標刻出呈n階矩陣分布的標記點,根據標記點的實際坐標與正面振鏡的理論坐標得到正面振鏡的糾偏矩陣;
步驟102:利用相機對步驟101在板狀物體表面打出的標記點位置進行捕獲,并得到相機與正面振鏡的打標系統的變化矩陣;
步驟103:將板狀物體替換為透明材質的標記面板,并利用反面振鏡在標記面板上標刻出呈m階矩陣分布的基準點;
步驟104:利用相機捕獲步驟103的基準點,并記錄下基準點相對相機的實際坐標;
步驟105:根據步驟S104的實際坐標與步驟103的反面振鏡的理論坐標,得到反面鏡的糾偏矩陣;
步驟106:取下標記面板,將待打標的板狀物體重新放置于正面振鏡和反面振鏡中間,利用步驟105所得到的反面振鏡的糾偏矩陣在待打標的板狀物體的反面標刻。
8.根據權利要求7的板狀物體的雙面打標方法,其特征在于,相機與正面振鏡均設置在待打標的板狀物體的同一側。
9.根據權利要求7的板狀物體的雙面打標方法,其特征在于,m與n相等。
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