[發明專利]一種測試探針清潔裝置及其夾持構件和測試基座

有效

• 申請號: 202011365615.6
• 申請日: 2020-11-28
• 公開（公告）號: CN112462109B
• 公開（公告）日: 2022-04-19
• 發明（設計）人: 賀濤;金永斌;丁寧;朱偉
• 申請（專利權）人: 法特迪精密科技（蘇州）有限公司
• 主分類號: G01R1/073
• 分類號: G01R1/073;G01R1/067;B08B13/00;B08B1/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種測試探針清潔裝置，其特征在于：包括清潔構件（1）、夾持構件（2）、測試插座（3）、測試基座（4）和測試探針（5）；所述清潔構件（1）上方設置有夾持構件（2），所述清潔構件（1）下方設置有測試插座（3），所述測試插座（3）安裝在測試基座（4）上，所述夾持構件（2）能夠通過傳動機械臂移動控制測試插座（3）上方的清潔構件（1），能夠使清潔構件（1）移動至測試插座（3）內，并與測試插座（3）內的測試探針（5）的探頭貼合抵靠，以完成對測試探針（5）的先刮除累積雜質，再將雜質灰塵從測試插座（3）內吸附清除的工作；

所述清潔構件包括套管（1-1）、密封片（1-2）、安裝板（1-3）、限位片（1-4）、活塞（1-5）、主動梯形齒輪（1-6）、從動梯形齒輪（1-7）、傳動桿（1-8）、移動片（1-9）、彈性件（1-10）、刮除件（1-11）、螺紋套筒（1-12）、傳動軸（1-13）、固定片（1-14）、清潔軟膠（1-15）、復位彈簧（1-16）和輸出長軸（1-17）；所述套管（1-1）通過密封片（1-2）陣列設置在安裝板（1-3）下端面上，活塞（1-5）下端的主動梯形齒輪（1-6）和從動梯形齒輪（1-7）相嚙合，所述從動梯形齒輪（1-7）兩端對稱設置有傳動桿（1-8），傳動桿（1-8）的一端與活塞（1-5）的一端相連，傳動桿（1-8）的另一端穿過兩個限位片（1-4）與移動片（1-9）上端面相連，移動片（1-9）下端面通過彈性件（1-10）陳列設置有多個刮除件（1-11），所述從動梯形齒輪（1-7）通過螺紋套筒（1-12）轉動設置在下層限位片（1-4）上，所述傳動軸（1-13）上端穿過螺紋套筒（1-12）并與螺紋套筒（1-12）相配合，傳動軸（1-13）的另一端與固定片（1-14）相連接，所述固定片（1-14）下端設置有清潔軟膠（1-15），位于兩個限位片（1-4）之間的傳動軸（1-13）上設置有復位彈簧（1-16），所述傳動電機設置在一側的套管（1-1）側壁上，傳動電機的輸出端與輸出長軸（1-17）相連，所述輸出長軸（1-17）穿過陣列設置的套管（1-1），套管（1-1）內的從動梯形齒輪（1-7）設置在輸出長軸（1-17）上，所述刮除件（1-11）能夠通過活塞（1-5）進行上下往復運動，并通過彈性件（1-10）使刮除件（1-11）的下端面與測試探針（5）的探頭的梅花尖端相抵靠，以對梅花尖端上累積的雜質進行刮除，所述清潔軟膠（1-15）能夠將清潔的雜質、灰塵進行粘吸在清潔軟膠（1-15）表面，進而從測試插座（3）內將雜質灰塵清除。

2.根據權利要求1所述的一種測試探針清潔裝置，其特征在于：所述夾持構件（2）包括夾持本體（2-1）、空氣管路（2-3）、密封板（2-4）；所述夾持本體（2-1）內腔下部設置有吸附口（2-2），夾持本體（2-1）內部設有空氣管路（2-3），所述空氣管路（2-3）的吸氣端至吸附口（2-2），夾持本體（2-1）能夠通過空氣管路（2-3）下端的吸附口（2-2）提供吸氣，以吸取清潔構件（1），將清潔構件（1）吸附于夾持本體（2-1）下端的密封板（2-4）上，所述夾持本體（2-1）兩端對稱開有若干個定位孔（2-5）。

3.根據權利要求1所述的一種測試探針清潔裝置，其特征在于：所述測試基座（4）包括基座本體（4-1）、第一限位夾片（4-3）、第二限位夾片（4-4）、第一絲杠螺母（4-5）、第二絲杠螺母（4-6）、第一調節螺栓（4-7）、第二調節螺栓（4-8）和定位銷（4-9）；所述基座本體（4-1）側壁對稱開有條形通孔（4-2），第一限位夾片（4-3）和第二限位夾片（4-4）活動設置在條形通孔（4-2）內，所述第一限位夾片（4-3）的左端與第一絲杠螺母（4-5）相連接，所述第二限位夾片（4-4）與第二絲杠螺母（4-6）相連接，所述第一調節螺栓（4-7）穿過第一絲杠螺母（4-5）轉動設置在基座本體（4-1）的左端側壁上，所述第二調節螺栓（4-8）穿過第二絲杠螺母（4-6）轉動設置在基座本體（4-1）的右端側壁上，所述定位銷（4-9）對稱設置在基座本體（4-1）上端，并與所述的定位孔（2-5）相配合，所述第一限位夾片（4-3）和第二限位夾片（4-4）上均陣列開有圓形通孔，測試探針（5）的梅花探頭能夠穿過圓形通孔，設置在測試基座本體（4-1）內，測試插座（3）安裝于基座本體（4-1）上。