[發明專利]遙控器測試方法、裝置及存儲介質

在審

• 申請號: 202011358881.6
• 申請日: 2020-11-27
• 公開（公告）號: CN112666454A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: 雷軍平
• 申請（專利權）人: 深圳市創榮發電子有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 邱維杰

本發明公開了一種遙控器測試方法、裝置及存儲介質，屬于測試技術領域。本發明的遙控器測試方法包括：標記待測試遙控器的所有按鍵的位置，位置包括所有按鍵的所在行；根據第一操作指令，將所有按鍵設置為按壓狀態；設置所有按鍵在按壓狀態下的工作模式為第一模式，獲取每一行的按鍵的第一電平狀態；根據第二操作指令，將所有按鍵設置為松開狀態；設置所有按鍵在松開狀態下的工作模式為第二模式，獲取每一行的按鍵的第二電平狀態。這種遙控器測試方法能夠對遙控器按鍵是否處于正常狀態進行快速測試，節省時間，提高了測試效率。

技術領域

本發明涉及測試技術領域，尤其涉及一種遙控器測試方法、裝置及存儲介質。

背景技術

目前，在對遙控器的按鍵進行測試時，往往是逐一按下/松開所有按鍵來測試按鍵是否處于正常狀態，這種方式耗時較長，影響遙控器按鍵的測試效率，因此，如何提供一種高效的遙控器按鍵測試方法，實現對遙控器按鍵的快速測試，成為了亟待解決的問題。

發明內容

本發明旨在至少解決現有技術中存在的技術問題之一。為此，本發明提出一種遙控器測試方法，能夠對遙控器按鍵是否處于正常狀態進行快速測試，節省時間，提高了測試效率。

本發明還提出一種具有上述遙控器測試方法的遙控器測試裝置。

本發明還提出一種具有上述遙控器測試方法的計算機可讀存儲介質。

根據本發明的第一方面實施例的遙控器測試方法，包括：

標記待測試遙控器的所有按鍵的位置，所述位置包括所有所述按鍵的所在行；

根據第一操作指令，將所有所述按鍵設置為按壓狀態；

設置所有所述按鍵在所述按壓狀態下的工作模式為第一模式，獲取每一行的所述按鍵的第一電平狀態；

根據第二操作指令，將所有所述按鍵設置為松開狀態；

設置所有所述按鍵在所述松開狀態下的工作模式為第二模式，獲取每一行的所述按鍵的第二電平狀態；

其中，所述第一電平狀態用于表征待測試的所述按鍵在所述按壓狀態下是否為正常狀態，所述第二電平狀態用于表征待測試的所述按鍵在所述松開狀態下是否為正常狀態。

根據本發明實施例的遙控器測試方法，至少具有如下有益效果：這種遙控器測試方法通過標記所有按鍵位置，對每個按鍵進行位置確認，根據第一操作指令將所有按鍵設置為按壓狀態，并設置所有按鍵在按壓狀態下的工作模式為第一模式，獲取每一行的按鍵的第一電平狀態，根據第二操作指令將所有按鍵設置為松開狀態，并設置所有按鍵在松開狀態下的工作模式為第二模式，獲取每一行的按鍵的第二電平狀態，這樣能夠通過第一電平狀態和第二電平狀態表征出按鍵在按壓狀態下/松開狀態下是否正常，從而對遙控器按鍵的正常/異常狀態快速測試，節省時間，提高了測試效率。

根據本發明的一些實施例，所述根據第一操作指令，將所有所述按鍵設置為按壓狀態，包括：

同時按下所有所述按鍵，將所有所述按鍵設置為按壓狀態。

根據本發明的一些實施例，所述設置所有所述按鍵在所述按壓狀態下的工作模式為第一模式，獲取每一行的所述按鍵的第一電平狀態，包括：

設置每一行的所述按鍵的工作模式為第三模式；

設置目標列的所述按鍵的工作模式為第四模式，設置非目標列的所述按鍵的工作模式為第五模式；

獲取每一行的所述按鍵的第一電平狀態。

根據本發明的一些實施例，所述設置每一行的所述按鍵的工作模式為第三模式，包括：

設置每一行的所述按鍵的I/O口為上拉輸入模式。