[發明專利]遙控器測試方法、裝置及存儲介質

在審

• 申請號: 202011358881.6
• 申請日: 2020-11-27
• 公開（公告）號: CN112666454A
• 公開（公告）日: 2021-04-16
• 發明（設計）人: 雷軍平
• 申請（專利權）人: 深圳市創榮發電子有限公司
• 主分類號: G01R31/327
• 分類號: G01R31/327
• 代理公司: 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 44205
• 代理人: 邱維杰

1.遙控器測試方法，其特征在于，包括：

標記待測試遙控器的所有按鍵的位置，所述位置包括所有所述按鍵的所在行；

根據第一操作指令，將所有所述按鍵設置為按壓狀態；

設置所有所述按鍵在所述按壓狀態下的工作模式為第一模式，獲取每一行的所述按鍵的第一電平狀態；

根據第二操作指令，將所有所述按鍵設置為松開狀態；

設置所有所述按鍵在所述松開狀態下的工作模式為第二模式，獲取每一行的所述按鍵的第二電平狀態；

其中，所述第一電平狀態用于表征待測試的所述按鍵在所述按壓狀態下是否為正常狀態，所述第二電平狀態用于表征待測試的所述按鍵在所述松開狀態下是否為正常狀態。

2.根據權利要求1所述的遙控器測試方法，其特征在于，所述根據第一操作指令，將所有所述按鍵設置為按壓狀態，包括：

同時按下所有所述按鍵，將所有所述按鍵設置為按壓狀態。

3.根據權利要求1所述的遙控器測試方法，其特征在于，所述設置所有所述按鍵在所述按壓狀態下的工作模式為第一模式，獲取每一行的所述按鍵的第一電平狀態，包括：

設置每一行的所述按鍵的工作模式為第三模式；

設置目標列的所述按鍵的工作模式為第四模式，設置非目標列的所述按鍵的工作模式為第五模式；

獲取每一行的所述按鍵的第一電平狀態。

4.根據權利要求3所述的遙控器測試方法，其特征在于，所述設置每一行的所述按鍵的工作模式為第三模式，包括：

設置每一行的所述按鍵的I/O口為上拉輸入模式。

5.根據權利要求3所述的遙控器測試方法，其特征在于，所述設置目標列的所述按鍵的工作模式為第四模式，設置非目標列的所述按鍵的工作模式為第五模式，包括：

設置目標列的所述按鍵的I/O口為低電平輸出模式；

設置非目標列的所述按鍵的I/O口為非上拉輸入模式。

6.根據權利要求1所述的遙控器測試方法，其特征在于，所述根據第二操作指令，將所有所述按鍵設置為松開狀態，包括：

同時按下所有所述按鍵，在預定時間之后松開所有所述按鍵，將所有所述按鍵設置為松開狀態。

7.根據權利要求1所述的遙控器測試方法，其特征在于，所述設置所有所述按鍵在所述松開狀態下的工作模式為第二模式，獲取每一行的所述按鍵的第二電平狀態，包括：

設置每一行的所述按鍵的工作模式為第六模式，設置每一列的所述按鍵的工作模式為第七模式；

獲取每一行的所述按鍵的第二電平狀態。

8.根據權利要求7所述的遙控器測試方法，其特征在于，所述設置每一行的所述按鍵的工作模式為第六模式，設置每一列的所述按鍵的工作模式為第七模式，包括：

設置每一行的所述按鍵的I/O口為上拉輸入模式；

設置每一列的所述按鍵的I/O口為低電平輸出模式。

9.遙控器測試裝置，其特征在于，包括：

第一處理模塊，用于標記待測試遙控器的所有按鍵的位置，所述位置包括所有所述按鍵的所在行；

第二處理模塊，用于根據第一操作指令，將所有所述按鍵設置為按壓狀態；

第三處理模塊，用于設置所有所述按鍵在所述按壓狀態下的工作模式為第一模式，獲取每一行的所述按鍵的第一電平狀態；

第四處理模塊，用于根據第二操作指令，將所有所述按鍵設置為松開狀態；

第五處理模塊，用于設置所有所述按鍵在所述松開狀態下的工作模式為第二模式，獲取每一行的所述按鍵的第二電平狀態；

其中，所述第一電平狀態用于表征待測試的所述按鍵在所述按壓狀態下是否為正常狀態，所述第二電平狀態用于表征待測試的所述按鍵在所述松開狀態下是否為正常狀態。

10.計算機可讀存儲介質，其特征在于，所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機可執行指令，所述計算機可執行指令用于使計算機執行如權利要求1至8任一項所述的遙控器測試方法。