[發(fā)明專利]提高逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器參考電壓穩(wěn)定性的電路在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011356870.4 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-27 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112187274A | 公開(公告)日: | 2021-01-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 杜翎;吳霜毅;李昌紅 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 成都銘科思微電子技術(shù)有限責(zé)任公司 |
| 主分類號(hào): | H03M1/46 | 分類號(hào): | H03M1/46;H03M1/06 |
| 代理公司: | 成都其高專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 51244 | 代理人: | 賈波 |
| 地址: | 610000 四川*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 提高 逐次 逼近 型模數(shù) 轉(zhuǎn)換器 參考 電壓 穩(wěn)定性 電路 | ||
本發(fā)明公開了提高逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器參考電壓穩(wěn)定性的電路,包括P端DAC、N端DAC、比較器、SAR邏輯電路及參考電壓產(chǎn)生電路,還包括參考電壓補(bǔ)償電路,所述參考電壓補(bǔ)償電路設(shè)置編碼電路、補(bǔ)償電容控制電路及補(bǔ)償電容陣列,所述編碼電路接入SAR邏輯電路的輸出信號(hào),編碼電路輸出的編碼信號(hào)作為補(bǔ)償電容控制電路的輸入信號(hào),補(bǔ)償電容控制電路的輸出信號(hào)作為補(bǔ)償電容陣列的電容切換控制信號(hào),參考電壓產(chǎn)生電路與補(bǔ)償電容陣列相連接;本發(fā)明利用參考電壓補(bǔ)償電路從參考電壓產(chǎn)生電路所生成的參考電壓中進(jìn)行額外的電荷抽取進(jìn)行調(diào)節(jié),進(jìn)而使得整個(gè)電路結(jié)構(gòu)從參考電壓中抽取的電荷基本維持恒定,從而達(dá)到提高參考電壓穩(wěn)定性的目的。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及模擬集成電路技術(shù)等領(lǐng)域,具體的說(shuō),是提高逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器參考電壓穩(wěn)定性的電路。
背景技術(shù)
SAR_ADC(逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器)是ADC(模數(shù)轉(zhuǎn)換器)的一種常見架構(gòu)。而采用電容陣列的電荷重分布型SAR_ADC由于良好的電容匹配和較低的靜態(tài)功耗而成為目前SAR_ADC的主流結(jié)構(gòu)。通常,N位SAR_ADC包含一個(gè)N位的二進(jìn)制電容陣列,即1C、2C、4C、…、2N-1C,其中C為單位電容,2N-1C對(duì)應(yīng)于MSB(最高位),1C對(duì)應(yīng)于LSB(最低位)。
在電力線檢測(cè)、繼電器保護(hù)、多相電機(jī)控制以及一些數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)的應(yīng)用中,ADC的輸入通常是高壓信號(hào),例如0~10V。為了對(duì)高壓信號(hào)進(jìn)行采樣和量化,ADC前端可以采用電阻串分壓的結(jié)構(gòu),將高壓信號(hào)變?yōu)?~VREF(參考電壓)的低壓信號(hào),再由后續(xù)的電路進(jìn)行采樣和量化。另一種方案是利用高壓采樣開關(guān)直接將輸入信號(hào)采樣到電荷重分配DAC(數(shù)模轉(zhuǎn)換器)的電容上,利用采樣電容與總電容的比例來(lái)等效地實(shí)現(xiàn)輸入信號(hào)的衰減。
后一種設(shè)計(jì)方案無(wú)需讓輸入信號(hào)驅(qū)動(dòng)阻性負(fù)載,模擬前端無(wú)靜態(tài)功耗,并且通過(guò)改變采樣電容的大小可以方便地調(diào)節(jié)輸入信號(hào)的范圍,因此在高壓SAR_DAC的設(shè)計(jì)中更具有優(yōu)勢(shì)。
采樣電容可以與量化電容合并,以減小電路的面積。由于采樣電容需要參與采樣和量化,因此其下極板需要有三個(gè)開關(guān)分別接高壓輸入信號(hào)(VIN)、參考電壓(VREF)和參考地(REFGND),而這三個(gè)開關(guān)均必須為高壓開關(guān)以實(shí)現(xiàn)足夠的耐壓;同時(shí),在開關(guān)導(dǎo)通和關(guān)閉時(shí),相互之間必須留有足夠的非交疊時(shí)間。這些因素都會(huì)造成開關(guān)控制和驅(qū)動(dòng)電路的復(fù)雜和開關(guān)速度的降低,不利于提高ADC的轉(zhuǎn)換速度。
為了避免以上問(wèn)題,采樣電容可以與量化電容相獨(dú)立,只在采樣時(shí)接高壓輸入信號(hào),采樣結(jié)束后保持接參考地。而所有量化電容的下極板則只需要接參考電壓和參考地,無(wú)需高壓開關(guān),從而簡(jiǎn)化開關(guān)控制和驅(qū)動(dòng)電路,提高ADC的轉(zhuǎn)換速度。
為了提高SAR_ADC的線性度,避免輸出頻譜上出現(xiàn)諧波,參考電壓必須要足夠穩(wěn)定,不能隨著輸入信號(hào)的變化而變化。而對(duì)于上述SAR_ADC而言,在每個(gè)量化周期內(nèi),DAC電容從參考電壓上抽取的電荷量都與輸入信號(hào)相關(guān)。如果參考電壓源被抽取的電荷量少,則參考電壓趨向于增大;反之,參考電壓則趨向于減小。盡管參考電壓產(chǎn)生電路通常都有負(fù)反饋系統(tǒng)來(lái)將參考電壓穩(wěn)定在設(shè)計(jì)目標(biāo)值上,但上述因素所造成的參考電壓的波動(dòng)通常很小,僅毫伏甚至微伏量級(jí),負(fù)反饋電路通常無(wú)法將這樣微弱的變化及時(shí)消除。對(duì)于14位或者16位的高精度SAR_DAC而言,最低位對(duì)應(yīng)的電壓值通常就僅有幾百甚至幾十微伏,因此上述參考電壓的波動(dòng)已經(jīng)足以造成ADC性能的下降。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供提高逐次逼近型模數(shù)轉(zhuǎn)換器參考電壓穩(wěn)定性的電路,解決現(xiàn)有ASR_ADC參考電壓穩(wěn)定性差的不足之處,根據(jù)DAC從參考電壓產(chǎn)生電路所生成的參考電壓抽取電荷的大小,利用參考電壓補(bǔ)償電路從參考電壓產(chǎn)生電路所生成的參考電壓中進(jìn)行額外的電荷抽取進(jìn)行調(diào)節(jié),進(jìn)而使得整個(gè)電路結(jié)構(gòu)從參考電壓中抽取的電荷基本維持恒定,從而達(dá)到提高參考電壓穩(wěn)定性的目的。
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