[發(fā)明專(zhuān)利]高壓裝置在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202011353442.6 | 申請(qǐng)日: | 2020-11-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN112885903A | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-06-01 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王鴻森;蔡昀達(dá);柳瑞興;黃士芬;劉和昌 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 臺(tái)灣積體電路制造股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L29/78 | 分類(lèi)號(hào): | H01L29/78;H01L29/423;H01L27/088 |
| 代理公司: | 北京律盟知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11287 | 代理人: | 李春秀 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)灣新竹市*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 高壓 裝置 | ||
本發(fā)明實(shí)施例涉及高壓裝置。根據(jù)本發(fā)明的一些實(shí)施例,一種高壓裝置包含:襯底;至少一第一隔離件,其在所述襯底中;第一阱區(qū);框架狀柵極結(jié)構(gòu),其在所述第一阱區(qū)上方且覆蓋所述第一隔離件的一部分;漏極區(qū),其在所述第一阱區(qū)中且通過(guò)所述第一隔離件而與所述框架狀柵極結(jié)構(gòu)分離;及源極區(qū),其通過(guò)所述第一隔離件及所述框架狀柵極結(jié)構(gòu)而與所述漏極區(qū)分離。所述第一阱區(qū)、所述漏極區(qū)及所述源極區(qū)包含第一導(dǎo)電類(lèi)型,且所述襯底包含第二導(dǎo)電類(lèi)型。所述第一導(dǎo)電類(lèi)型及所述第二導(dǎo)電類(lèi)型彼此互補(bǔ)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明實(shí)施例涉及高壓裝置。
背景技術(shù)
半導(dǎo)體集成電路(IC)材料、設(shè)計(jì)、處理及制造中的技術(shù)進(jìn)步已實(shí)現(xiàn)IC裝置的大小的不斷縮減,其中每一代具有比上一代更小且更復(fù)雜的電路。
由于由例如金屬氧化物半導(dǎo)體場(chǎng)效晶體管(MOSFET)的裝置構(gòu)成的半導(dǎo)體電路經(jīng)調(diào)適用于例如高壓橫向擴(kuò)散金屬氧化物半導(dǎo)體(HV LDMOS)裝置的高壓應(yīng)用,所以隨著先進(jìn)技術(shù)不斷縮小尺度,出現(xiàn)關(guān)于降低電壓性能的問(wèn)題。為防止源極與漏極之間的擊穿,或?yàn)闇p小源極及漏極的電阻,標(biāo)準(zhǔn)MOS制造工藝流程可伴隨多次高濃度植入。隨著裝置可靠性降級(jí),往往發(fā)生實(shí)質(zhì)襯底泄漏及電壓崩潰。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的實(shí)施例涉及一種高壓裝置,其包括:襯底;至少一第一隔離件,其在所述襯底中;第一阱區(qū);框架狀柵極結(jié)構(gòu),其在所述第一阱區(qū)上方且覆蓋所述第一隔離件的一部分;漏極區(qū),其在所述第一阱區(qū)中且通過(guò)所述第一隔離件而與所述框架狀柵極結(jié)構(gòu)分離;及源極區(qū),其通過(guò)所述第一隔離件及所述框架狀柵極結(jié)構(gòu)而與所述漏極區(qū)分離,其中所述第一阱區(qū)、所述漏極區(qū)及所述源極區(qū)包括第一導(dǎo)電類(lèi)型,所述襯底包括第二導(dǎo)電類(lèi)型,且所述第一導(dǎo)電類(lèi)型及所述第二導(dǎo)電類(lèi)型彼此互補(bǔ)。
本發(fā)明的實(shí)施例涉及一種高壓裝置,其包括:襯底,其包括放置于其中的框架狀隔離件;框架狀柵極結(jié)構(gòu),其在所述襯底上方且覆蓋所述框架狀隔離件的一部分;漏極區(qū),其在所述襯底中且通過(guò)所述框架狀隔離件圍封;源極區(qū),其在所述襯底中且在與所述漏極區(qū)相對(duì)的側(cè)上鄰近所述框架狀柵極結(jié)構(gòu);第一摻雜區(qū),其在所述漏極區(qū)之下且與所述襯底分離;及第二摻雜區(qū),其在所述源極區(qū)之下且與所述源極區(qū)及所述襯底分離,其中所述漏極區(qū)、所述源極區(qū)及所述第一摻雜區(qū)包括第一導(dǎo)電類(lèi)型,且所述襯底及所述第二摻雜區(qū)包括與所述第一導(dǎo)電類(lèi)型互補(bǔ)的第二導(dǎo)電類(lèi)型。
本發(fā)明的實(shí)施例涉及一種高壓裝置,其包括:第一框架狀隔離件及第二框架狀隔離件,其彼此分離;覆蓋所述第一框架狀隔離件的一部分的第一框架狀柵極結(jié)構(gòu)及覆蓋所述第二框架狀隔離件的一部分的第二框架狀柵極結(jié)構(gòu);通過(guò)所述第一框架狀隔離件圍封的第一漏極區(qū)及通過(guò)所述第二框架狀隔離件圍封的第二漏極區(qū);圍繞所述第一框架狀柵極結(jié)構(gòu)的第一框架狀源極區(qū)及圍繞所述第二框架狀柵極結(jié)構(gòu)的第二框架狀源極區(qū);第一摻雜區(qū),其圍繞所述第一框架狀柵極結(jié)構(gòu)及所述第二框架狀柵極結(jié)構(gòu);及第二摻雜區(qū),其介于所述第一框架狀柵極結(jié)構(gòu)與所述第二框架狀柵極結(jié)構(gòu)之間,且耦合到所述第一摻雜區(qū),其中所述第一漏極區(qū)、所述第二漏極區(qū)、所述第一框架狀源極區(qū)及所述第二框架狀源極區(qū)包括第一導(dǎo)電類(lèi)型,且所述襯底、所述第一摻雜區(qū)及所述第二摻雜區(qū)包括與所述第一導(dǎo)電類(lèi)型互補(bǔ)的第二導(dǎo)電類(lèi)型。
附圖說(shuō)明
當(dāng)結(jié)合附圖閱讀時(shí),從以下詳細(xì)描述最佳理解本揭露的方面。應(yīng)注意,根據(jù)產(chǎn)業(yè)中的標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐,各種構(gòu)件未按比例繪制。事實(shí)上,為了清楚論述可任意增大或減小各種構(gòu)件的尺寸。
圖1是在一或多個(gè)實(shí)施例中根據(jù)本揭露的方面的高壓裝置的俯視圖。
圖2是沿著圖1的線(xiàn)I-I’獲取的剖面圖。
圖3是在一或多個(gè)實(shí)施例中根據(jù)本揭露的方面的高壓裝置的俯視圖。
圖4是沿著圖3的線(xiàn)II-II’獲取的剖面圖。
具體實(shí)施方式
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L29-00 專(zhuān)門(mén)適用于整流、放大、振蕩或切換,并具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的半導(dǎo)體器件;具有至少一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘,例如PN結(jié)耗盡層或載流子集結(jié)層的電容器或電阻器;半導(dǎo)體本體或其電極的零部件
H01L29-02 .按其半導(dǎo)體本體的特征區(qū)分的
H01L29-40 .按其電極特征區(qū)分的
H01L29-66 .按半導(dǎo)體器件的類(lèi)型區(qū)分的
H01L29-68 ..只能通過(guò)對(duì)一個(gè)不通有待整流、放大或切換的電流的電極供給電流或施加電位方可進(jìn)行控制的
H01L29-82 ..通過(guò)施加于器件的磁場(chǎng)變化可控的
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