[發明專利]評價裝置、評價方法、存儲介質以及計算機裝置

在審

• 申請號: 202011345264.2
• 申請日: 2020-11-26
• 公開（公告）號: CN112964720A
• 公開（公告）日: 2021-06-15
• 發明（設計）人: 后藤隆之;曾根拓郎
• 申請（專利權）人: 株式會社理光
• 主分類號: G01N21/88
• 分類號: G01N21/88;G06T7/00
• 代理公司: 上海華誠知識產權代理有限公司 31300
• 代理人: 肖華

本發明旨在提供可以抑制作為測量對象的立體物的測量面形狀的影響，以高精度測量立體物體的表面品質的評價裝置、評價方法、存儲介質以及計算機裝置。評價裝置(200)具備照明裝(202)，用于向測量對象物(S)的表面照射光；攝像裝置(203)，用于取得所述測量對象物(S)的表面的圖像；以及，圖像評價部(42)，用于將所取得的圖像之中的規定區域作為評價區域，評價所述測量對象物的品質，所述圖像評價部設定的所述評價區域位于所述圖像之中，受到所述照明裝置照射的光所照亮的所述測量對象物表面上的區域，即照明區域的內側。

技術領域

本發明涉及評價裝置、評價方法、存儲介質以及計算機裝置。

背景技術

各種產品表面品品質檢查查是眾所周知的產品外觀質量管理方法之一。關于這種表面品質檢查，如有類似瑕疵、斑點、類似凹凸的表面缺陷，或被稱為色差、色 斑的涂裝面表面缺陷的檢查。

另一方面，上述品質檢查有非常有自動化的需求，隨此，還要求對品質檢查標 準進行定量處理。其中，對于表面瑕疵之類的表面缺陷，由于照相機等攝影技術的 提高，在各種表面上進行定量評價相對容易(如參見專利文獻1等)。

但是，對于涂裝表面的缺陷，評價項目則是美觀和色調，難以作機械性判斷， 而且觀察到的對象隨著照明方式等的改變而變化，存在難以進行缺陷判斷的問題。

目前為了解決上述問題，存在例如用于定量測量外觀差別的測量方法(如參見 專利文獻2、3等)，但是，尤其是在評價形狀復雜的立體物時，依然存在測量面的 形狀和照明裝置的位置關系對精度等產生影像的問題，定量評價十分困難。

專利文獻1：JP特開2011-075534號公報

專利文獻2：JP特開2018-151165號公報

專利文獻3：JP特開2018-009988號公報

發明內容

鑒于上述問題，本發明旨在提供一種在測量對象為立體物體時能夠抑制測量面形狀的影響，以高精度測量立體物體的表面品質的評價裝置。

為了達到上述目的，本發明提供的評價裝置具備，照明裝置，用于向測量對象 物的表面照射光；攝像裝置，用于取得所述測量對象物的表面的圖像；以及，圖像 評價部，用于將所取得的圖像之中的規定區域作為評價區域，評價所述測量對象物 的品質，所述圖像評價部設定的所述評價區域位于所述圖像之中，受到所述照明裝 置照射的光所照亮的所述測量對象物表面上的區域，即照明區域的內側。

根據本發明的效果在于，當測量對象為立體物時，能夠抑制測量面形狀的影響，以高精度測量立體物的表面品質。

附圖說明

圖1是本發明實施方式涉及的評價系統整體構成的示意圖。

圖2是本發明實施方式涉及的評價系統的動作流程圖。

圖3是用圖1所示的評價系統拍攝的圖像的示意圖。

圖4是本發明的評價領域的示意圖。

圖5是入射樣品的光的反射方向的示意圖。

圖6是圖3所示的評價領域的另一示意圖。

圖7是圖3所示的評價領域的另一示意圖。

圖8是本發明實施方式涉及的樣品測量結果的示意圖。

圖9是本發明實施方式涉及的另一個樣品測量結果的示意圖。

圖10是本發明的變形例涉及的具有照明擴大部的評價系統整體構成的示意圖。

圖11是本發明變形例涉及的另一個具有照明擴大部的評價系統整體構成的示 意圖。