[發明專利]芯片測試方法、裝置、處理器芯片及服務器

有效

• 申請號: 202011344417.1
• 申請日: 2020-11-25
• 公開（公告）號: CN112526319B
• 公開（公告）日: 2022-11-22
• 發明（設計）人: 李育飛;馬越;徐宏思
• 申請（專利權）人: 海光信息技術股份有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 北京市廣友專利事務所有限責任公司 11237
• 代理人: 張仲波

1.一種芯片測試方法，其特征在于，包括：

從服務器獲取芯片的測試電壓配置信息以及芯片進行本次測試的初始工作頻率，其中，所述測試電壓配置信息中包括每次對芯片進行測試的測試電壓值；

根據所述測試電壓配置信息在本次測試的測試電壓下使所述芯片在所述初始工作頻率的基礎上增大工作頻率，對所述芯片進行測試，確定出所述芯片在本次測試的測試電壓下的最高工作頻率；

根據所述測試電壓配置信息在下一次測試的測試電壓下使所述芯片在上一次測試得到的最高工作頻率的基礎上增大工作頻率，對所述芯片進行測試，確定出所述芯片在下一次測試的測試電壓下的最高工作頻率，直至測試出所述芯片在最高工作電壓下的最高工作頻率。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在確定出所述芯片在本次測試的測試電壓下的最高工作頻率之后以及在下一次對所述芯片進行測試之前，得到第一測試結果；

重新在本次測試的測試電壓下以該最高工作頻率對所述芯片進行測試，得到第二測試結果；

將所述第一測試結果以及所述第二測試結果發送至服務器。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在每次對所述芯片進行測試時，在每次測試的初始工作頻率的基礎上以預設時間間隔根據預設步長增大所述芯片的工作頻率，對所述芯片進行測試，直至確定出所述芯片在本次測試的測試電壓下的最高工作頻率。

4.根據權利要求1至3任一項所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在每次測試出所述芯片在本次測試的測試電壓下的最高工作頻率后，將該最高工作頻率發送至所述服務器。

5.一種芯片測試方法，其特征在于，包括：

依次在每次對芯片進行測試的各測試電壓下使所述芯片在每次測試的初始工作頻率的基礎上增大工作頻率，對所述芯片進行測試，確定出所述芯片在各測試電壓下的最高工作頻率；

將每次對所述芯片進行測試確定出的所述芯片的最高工作頻率作為下次對所述芯片進行測試的初始工作頻率，繼續對所述芯片進行測試，直至確定出所述芯片在最高測試電壓下的最高工作頻率。

6.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法還包括：

在每次測試出所述芯片在本次測試的測試電壓下的最高工作頻率后，得到第一測試結果；

重新在本次測試電壓下以該最高工作頻率對所述芯片進行測試，得到第二測試結果；

根據所述第一測試結果以及所述第二測試結果確定目標測試結果。

7.根據權利要求5所述的方法，其特征在于，在每次對所述芯片進行測試時，在每次測試的初始工作頻率的基礎上以預設時間間隔根據預設步長增大所述芯片的工作頻率，對所述芯片進行測試，直至確定出所述芯片在本次測試的測試電壓下的最高工作頻率。

8.一種芯片測試裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，被配置為從服務器獲取芯片的測試電壓配置信息以及芯片進行本次測試的初始工作頻率，其中，所述測試電壓配置信息中包括每次對芯片進行測試的測試電壓值；

第一測試模塊，被配置為根據所述測試電壓配置信息在本次測試的測試電壓下使所述芯片在所述初始工作頻率的基礎上增大工作頻率，對所述芯片進行測試，確定出所述芯片在本次測試的測試電壓下的最高工作頻率；

第二測試模塊，被配置為根據所述測試電壓配置信息在下一次測試的測試電壓下使所述芯片在上一次測試得到的最高工作頻率的基礎上增大工作頻率，對所述芯片進行測試，確定出所述芯片在下一次測試的測試電壓下的最高工作頻率，直至測試出所述芯片在最高工作電壓下的最高工作頻率。