[發(fā)明專(zhuān)利]一種紅外裸數(shù)據(jù)校正方法、設(shè)備及介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202011343651.2
• 申請(qǐng)日: 2020-11-25
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN112559945A
• 公開(kāi)（公告）日: 2021-03-26
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳偉林;梁廷;梁志海
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 廣州紫川電子科技有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G06F17/10
• 分類(lèi)號(hào): G06F17/10
• 代理公司: 廣州市越秀區(qū)哲力專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 44288
• 代理人: 王忠浩

本發(fā)明提供一種紅外裸數(shù)據(jù)校正方法，包括獲取紅外探測(cè)器采集目標(biāo)物體產(chǎn)生的紅外裸數(shù)據(jù)以及對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)分辨率；隨機(jī)從紅外裸數(shù)據(jù)中取出未計(jì)算的一幀子數(shù)據(jù)作為修正子數(shù)據(jù)，根數(shù)據(jù)分辨率計(jì)算得到修正子數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的修正半徑；根據(jù)中心點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)信息、參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)信息以及修正半徑計(jì)算得到與參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考點(diǎn)修正系數(shù)，返回執(zhí)行步驟計(jì)算修正半徑，直至取出預(yù)設(shè)幀數(shù)的子數(shù)據(jù)；計(jì)算出所有參考點(diǎn)修正系數(shù)對(duì)應(yīng)的平均修正系數(shù)；根據(jù)平均修正系數(shù)遍歷紅外裸數(shù)據(jù)中每個(gè)光圈點(diǎn)，得到已校正紅外裸數(shù)據(jù)。本發(fā)明的一種紅外裸數(shù)據(jù)校正方法，使紅外裸數(shù)據(jù)中每幀子數(shù)據(jù)中的四邊數(shù)據(jù)與中心數(shù)據(jù)分布均勻，不再出現(xiàn)光圈，提高了測(cè)溫的精準(zhǔn)性。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及紅外數(shù)據(jù)處理，尤其涉及一種紅外裸數(shù)據(jù)校正方法、設(shè)備及介質(zhì)。

背景技術(shù)

隨著社會(huì)科技的不斷進(jìn)步，熱像儀的應(yīng)用越來(lái)越廣泛，但無(wú)論針對(duì)哪一種應(yīng)用，都離不開(kāi)對(duì)原始數(shù)據(jù)的處理，熱像儀通過(guò)紅外探測(cè)器采集物體的紅外裸數(shù)據(jù)從而生成熱成像數(shù)據(jù)，但是紅外裸數(shù)據(jù)會(huì)受到生產(chǎn)工藝、機(jī)芯溫度、鏡頭的影響，導(dǎo)致紅外裸數(shù)據(jù)中的四邊數(shù)據(jù)與中心數(shù)據(jù)產(chǎn)生不均勻的現(xiàn)象。這些數(shù)據(jù)的不均勻往往會(huì)導(dǎo)致形成的畫(huà)面出現(xiàn)光圈，且影響后續(xù)的各類(lèi)算法分析,尤其對(duì)精密測(cè)溫造成較大的影響。

發(fā)明內(nèi)容

為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本發(fā)明的目的之一在于提供一種紅外裸數(shù)據(jù)校正方法，其能解決紅外裸數(shù)據(jù)會(huì)受到生產(chǎn)工藝、機(jī)芯溫度、鏡頭的影響，導(dǎo)致紅外裸數(shù)據(jù)中的四邊數(shù)據(jù)與中心數(shù)據(jù)產(chǎn)生不均勻的問(wèn)題。

本發(fā)明的目的之二在于提供一種電子設(shè)備，其能解決紅外裸數(shù)據(jù)會(huì)受到生產(chǎn)工藝、機(jī)芯溫度、鏡頭的影響，導(dǎo)致紅外裸數(shù)據(jù)中的四邊數(shù)據(jù)與中心數(shù)據(jù)產(chǎn)生不均勻的問(wèn)題。

本發(fā)明的目的之三在于提供一種計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，其能解決紅外裸數(shù)據(jù)會(huì)受到生產(chǎn)工藝、機(jī)芯溫度、鏡頭的影響，導(dǎo)致紅外裸數(shù)據(jù)中的四邊數(shù)據(jù)與中心數(shù)據(jù)產(chǎn)生不均勻的問(wèn)題。

本發(fā)明的目的之一采用以下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)：

一種紅外裸數(shù)據(jù)校正方法，包括以下步驟：

獲取裸數(shù)據(jù)，獲取紅外探測(cè)器采集目標(biāo)物體產(chǎn)生的紅外裸數(shù)據(jù)以及對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)分辨率，所述紅外裸數(shù)據(jù)包括若干幀子數(shù)據(jù)，每幀子數(shù)據(jù)均包括光圈點(diǎn)、光圈點(diǎn)信息，每個(gè)光圈點(diǎn)與唯一的光圈點(diǎn)信息對(duì)應(yīng)；

計(jì)算修正半徑，隨機(jī)從紅外裸數(shù)據(jù)中取出未計(jì)算的一幀子數(shù)據(jù)作為修正子數(shù)據(jù)，根據(jù)數(shù)據(jù)分辨率計(jì)算得到修正子數(shù)據(jù)對(duì)應(yīng)的修正半徑；

計(jì)算修正參數(shù)，將修正子數(shù)據(jù)中光圈中心處的光圈點(diǎn)作為中心點(diǎn)，將修正子數(shù)據(jù)中光圈邊緣處的光圈點(diǎn)作為參考點(diǎn)，根據(jù)中心點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)信息、參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)信息以及所述修正半徑計(jì)算得到與參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考點(diǎn)修正系數(shù)，返回執(zhí)行步驟計(jì)算修正半徑，直至取出預(yù)設(shè)幀數(shù)的子數(shù)據(jù)；

計(jì)算平均修正系數(shù)，計(jì)算出所有參考點(diǎn)修正系數(shù)對(duì)應(yīng)的平均修正系數(shù)；

數(shù)據(jù)校正，根據(jù)所述平均修正系數(shù)遍歷紅外裸數(shù)據(jù)中每個(gè)光圈點(diǎn)，得到已校正紅外裸數(shù)據(jù)。

進(jìn)一步地，所述光圈點(diǎn)信息包括光圈點(diǎn)數(shù)據(jù)值和光圈點(diǎn)坐標(biāo)。

進(jìn)一步地，所述計(jì)算修正參數(shù)具體為：將修正子數(shù)據(jù)中光圈中心處的光圈點(diǎn)作為中心點(diǎn)，將修正子數(shù)據(jù)中光圈邊緣處的光圈點(diǎn)作為參考點(diǎn)，根據(jù)參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)坐標(biāo)以及中心點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)坐標(biāo)計(jì)算出參考點(diǎn)到中心點(diǎn)對(duì)應(yīng)的中心距離，根據(jù)中心距離、中心點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)數(shù)據(jù)值、參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)數(shù)據(jù)值、修正半徑計(jì)算出與參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考點(diǎn)修正系數(shù)。

進(jìn)一步地，所述根據(jù)中心距離、中心點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)數(shù)據(jù)值、參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)數(shù)據(jù)值、修正半徑計(jì)算出與參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考點(diǎn)修正系數(shù)具體如公式所示：

其中，c_i為參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的參考點(diǎn)修正系數(shù)，為參考點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)數(shù)據(jù)值，為中心點(diǎn)對(duì)應(yīng)的光圈點(diǎn)數(shù)據(jù)值，為中心距離，r為修正半徑。