[發明專利]一種紅外裸數據校正方法、設備及介質在審
| 申請號: | 202011343651.2 | 申請日: | 2020-11-25 |
| 公開(公告)號: | CN112559945A | 公開(公告)日: | 2021-03-26 |
| 發明(設計)人: | 吳偉林;梁廷;梁志海 | 申請(專利權)人: | 廣州紫川電子科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F17/10 | 分類號: | G06F17/10 |
| 代理公司: | 廣州市越秀區哲力專利商標事務所(普通合伙) 44288 | 代理人: | 王忠浩 |
| 地址: | 511400 廣東省廣州市南沙區黃閣鎮翠瑜*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 紅外 數據 校正 方法 設備 介質 | ||
1.一種紅外裸數據校正方法,其特征在于:包括以下步驟:
獲取裸數據,獲取紅外探測器采集目標物體產生的紅外裸數據以及對應的數據分辨率,所述紅外裸數據包括若干幀子數據,每幀子數據均包括光圈點、光圈點信息,每個光圈點與唯一的光圈點信息對應;
計算修正半徑,隨機從紅外裸數據中取出未計算的一幀子數據作為修正子數據,根據數據分辨率計算得到修正子數據對應的修正半徑;
計算修正參數,將修正子數據中光圈中心處的光圈點作為中心點,將修正子數據中光圈邊緣處的光圈點作為參考點,根據中心點對應的光圈點信息、參考點對應的光圈點信息以及所述修正半徑計算得到與參考點對應的參考點修正系數,返回執行步驟計算修正半徑,直至取出預設幀數的子數據;
計算平均修正系數,計算出所有參考點修正系數對應的平均修正系數;
數據校正,根據所述平均修正系數遍歷紅外裸數據中每個光圈點,得到已校正紅外裸數據。
2.如權利要求1所述的一種紅外裸數據校正方法,其特征在于:所述光圈點信息包括光圈點數據值和光圈點坐標。
3.如權利要求2所述的一種紅外裸數據校正方法,其特征在于:所述計算修正參數具體為:將修正子數據中光圈中心處的光圈點作為中心點,將修正子數據中光圈邊緣處的光圈點作為參考點,根據參考點對應的光圈點坐標以及中心點對應的光圈點坐標計算出參考點到中心點對應的中心距離,根據中心距離、中心點對應的光圈點數據值、參考點對應的光圈點數據值、修正半徑計算出與參考點對應的參考點修正系數。
4.如權利要求3所述的一種紅外裸數據校正方法,其特征在于:所述根據中心距離、中心點對應的光圈點數據值、參考點對應的光圈點數據值、修正半徑計算出與參考點對應的參考點修正系數具體如公式所示:
其中,ci為參考點對應的參考點修正系數,為參考點對應的光圈點數據值,為中心點對應的光圈點數據值,為中心距離,r為修正半徑。
5.如權利要求3所述的一種紅外裸數據校正方法,其特征在于:所述修正子數據對應的所述參考點的數量為至少二個。
6.如權利要求1所述的一種紅外裸數據校正方法,其特征在于:所述預設幀數為至少二幀。
7.如權利要求1所述的一種紅外裸數據校正方法,其特征在于:所述計算平均修正系數具體為:將所有參考點修正系數進行累加得到總參考點修正系數,將所述總參考點修正系數除以參考點修正系數的數量得到平均修正系數。
8.如權利要求1所述的一種紅外裸數據校正方法,其特征在于:所述數據分辨率包括橫向像素數值和豎向像素數值,根據數據分辨率計算得到修正子數據對應的修正半徑具體如公式所示:
其中,r為修正半徑,w表示橫向像素數值,h豎向像素數值。
9.一種電子設備,其特征在于包括:處理器;
存儲器;以及程序,其中所述程序被存儲在所述存儲器中,并且被配置成由處理器執行,所述程序包括用于執行權利要求1-8中任意一項所述的一種紅外裸數據校正方法。
10.一種計算機可讀存儲介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于:所述計算機程序被處理器執行權利要求1-8中任意一項所述的一種紅外裸數據校正方法。
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