[發(fā)明專利]非易失性存儲器的試錯表的生成方法及裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202011331608.4
• 申請日: 2020-11-24
• 公開（公告）號: CN112331254A
• 公開（公告）日: 2021-02-05
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 程威;占志剛
• 申請（專利權(quán)）人: 北京澤石科技有限公司;澤石科技（武漢）有限公司
• 主分類號: G11C29/42
• 分類號: G11C29/42;G06K9/62
• 代理公司: 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11240
• 代理人: 董文倩

1.一種非易失性存儲器的試錯表的生成方法，其特征在于，包括：

獲取導(dǎo)致非易失性存儲器的讀數(shù)據(jù)出錯的環(huán)境變量；

確定所述環(huán)境變量的定量描述數(shù)值，所述定量描述數(shù)值用于通過精確的數(shù)據(jù)描述所述環(huán)境變量；

分別在不同的所述環(huán)境變量的定量描述數(shù)值下，讀取所述非易失性存儲器的數(shù)據(jù)；

依據(jù)從所述非易失性存儲器讀取的數(shù)據(jù)生成所述非易失性存儲器的試錯表。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，所述環(huán)境變量至少包括：所述非易失性存儲器使用環(huán)境的外界溫度、所述非易失性存儲器的數(shù)據(jù)保存時間是否達(dá)到預(yù)設(shè)期限、所述非易失性存儲器的擦寫次數(shù)、從所述非易失性存儲器讀取的數(shù)據(jù)的當(dāng)前溫度、所述非易失性存儲器的字線層數(shù)以及所述非易失性存儲器的電壓狀態(tài)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法，其特征在于，確定所述環(huán)境變量的定量描述數(shù)值，包括：

按照第一預(yù)設(shè)間隔區(qū)間將所述非易失性存儲器使用溫度范圍劃分為多個溫度區(qū)間，在每個溫度區(qū)間中分別為所述非易失性存儲器使用環(huán)境的外界溫度和從所述非易失性存儲器讀取的數(shù)據(jù)的當(dāng)前溫度設(shè)定一個測量值，將所述測量值作為所述非易失性存儲器使用環(huán)境的外界溫度和從所述非易失性存儲器讀取的數(shù)據(jù)的當(dāng)前溫度的定量描述數(shù)值；

按照第二預(yù)設(shè)間隔區(qū)間將所述非易失性存儲器的最大擦寫次數(shù)劃分為多個擦寫次數(shù)區(qū)間，在每個擦寫次數(shù)區(qū)間中統(tǒng)計一個所述非易失性存儲器的擦寫次數(shù)的定量描述數(shù)值；

按照第三預(yù)設(shè)間隔區(qū)間將所述非易失性存儲器的字線層數(shù)劃分為多個字線層數(shù)區(qū)間，在每個字線層數(shù)區(qū)間中統(tǒng)計一個所述非易失性存儲器的字線層數(shù)的定量描述數(shù)值；

用真和假兩個布爾類型的值作為所述非易失性存儲器的數(shù)據(jù)保存時間是否達(dá)到預(yù)設(shè)期限的定量描述數(shù)值；

設(shè)定預(yù)設(shè)數(shù)量需要校準(zhǔn)的電壓點(diǎn)作為所述非易失性存儲器的電壓狀態(tài)的定量描述數(shù)值。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法，其特征在于，分別在不同的所述環(huán)境變量的定量描述數(shù)值下，讀取所述非易失性存儲器的數(shù)據(jù)，包括：

步驟S1，分別在不同的所述定量描述數(shù)值下，向所述非易失性存儲器發(fā)送讀命令，以讀取所述非易失性存儲器的數(shù)據(jù)；

步驟S2，如果所述數(shù)據(jù)中存在通過錯誤檢查與糾正技術(shù)糾正回來的數(shù)據(jù)，觀察所述糾正回來數(shù)據(jù)的原始錯誤比特數(shù)，從所述糾正回來數(shù)據(jù)中選擇原始錯誤比特數(shù)最小的數(shù)據(jù)作為當(dāng)前環(huán)境變量對應(yīng)的試錯值，所述試錯值用于對所述數(shù)據(jù)中的出錯數(shù)據(jù)進(jìn)行糾正處理時代替所述出錯數(shù)據(jù)；

步驟S3，如果所述數(shù)據(jù)中不存在通過所述錯誤檢查與糾正技術(shù)糾正回來的數(shù)據(jù)，放棄本次嘗試。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法，其特征在于，分別在不同的所述環(huán)境變量的定量描述數(shù)值下，讀取所述非易失性存儲器的數(shù)據(jù)，還包括：

重復(fù)執(zhí)行步驟S1至步驟S3預(yù)設(shè)次數(shù)，得到每個所述環(huán)境變量對應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)量的試錯值，其中，所述預(yù)設(shè)數(shù)量與所述預(yù)設(shè)次數(shù)相同。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的方法，其特征在于，依據(jù)從所述非易失性存儲器讀取的數(shù)據(jù)生成所述非易失性存儲器的試錯表，包括：

基于模糊C均值-聚類算法對每個所述環(huán)境變量對應(yīng)的預(yù)設(shè)數(shù)量的試錯值進(jìn)行處理，得到每個所述環(huán)境變量對應(yīng)的最優(yōu)試錯值；

依據(jù)每個所述環(huán)境變量對應(yīng)的最優(yōu)試錯值生成所述非易失性存儲器的試錯表，其中，所述試錯表中存儲有每個所述環(huán)境變量的定量描述數(shù)值與每個所述環(huán)境變量對應(yīng)的最優(yōu)試錯值之間的對應(yīng)關(guān)系。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法，其特征在于，依據(jù)從所述非易失性存儲器讀取的數(shù)據(jù)生成所述非易失性存儲器的試錯表之后，上述方法還包括：

如果所述非易失性存儲器無法通過所述錯誤檢查與糾正技術(shù)糾正出錯數(shù)據(jù)，確定所述非易失性存儲器當(dāng)前的環(huán)境變量；

通過所述非易失性存儲器當(dāng)前的環(huán)境變量的定量描述數(shù)值從所述試錯表中查找所述當(dāng)前的環(huán)境變量對應(yīng)的最優(yōu)試錯值；

基于所述最優(yōu)試錯值對所述非易失性存儲器的出錯數(shù)據(jù)進(jìn)行糾錯處理。